[實用新型]一種測試硅片碳氧含量的夾具有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720588124.5 | 申請日: | 2017-05-24 |
| 公開(公告)號: | CN206920312U | 公開(公告)日: | 2018-01-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李琰琪;李碩;侯玉;萬松博;王栩生;涂修文;邢國強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州阿特斯陽光電力科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 215129 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測試 硅片 含量 夾具 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及太陽能電池技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種測試硅片碳氧含量的夾具。
背景技術(shù)
在硅片測試中,間歇氧含量、代位碳原子含量是表征硅材料優(yōu)良與否的重要指標(biāo)。目前可以通過二次離子質(zhì)譜(secondary ion mass spectroscopy,簡稱SIMS)、質(zhì)譜或者紅外波譜分析檢測,前兩者雖然較為準(zhǔn)確,但測試成本過于昂貴,通常不為廠家采用。
現(xiàn)有技術(shù)中,一般采用紅外波譜分析來表征間歇氧含量、代位碳原子含量,其具有成本低廉、快速靈敏的優(yōu)點,但其對測試的硅片的厚度有要求,一般只能選用厚度為2mm的硅片進(jìn)行測試。而目前的硅片的厚度一般在200um左右,無法直接進(jìn)行測試,其原因是200um的硅片在測試時有干涉現(xiàn)象。這就導(dǎo)致待檢測的硅片需要單獨制備,且電池硅片制造商也無法檢測出來料是否氧碳超標(biāo)。因此,有必要研發(fā)一種可以對正常厚度的硅片進(jìn)行碳氧含量測試的夾具,以解決上述問題。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的在于提供一種測試硅片碳氧含量的夾具,其不僅結(jié)構(gòu)簡單,而且能夠?qū)φ:穸鹊墓杵M(jìn)行碳氧含量測試。
為達(dá)此目的,本實用新型采用以下技術(shù)方案:
一種測試硅片碳氧含量的夾具,包括底板,底板上設(shè)置有用于吸附硅片的吸真空背板,吸真空背板設(shè)置有用于光線透過的透光區(qū),吸真空背板能夠繞豎直方向相對底板轉(zhuǎn)動,以調(diào)節(jié)光線與硅片之間的角度。
通過吸真空背板能夠沿豎直方向相對底板轉(zhuǎn)動,以調(diào)節(jié)光線與硅片之間的角度,使得光線與硅片傾斜設(shè)置,從而增加了光線在硅片中的實際路程,相當(dāng)于增加了硅片的厚度,解決了現(xiàn)有技術(shù)不能測試正常厚度的硅片的技術(shù)問題。
其中,吸真空背板與底板相垂直,吸真空背板的一端設(shè)置有旋轉(zhuǎn)軸,旋轉(zhuǎn)軸固定在底板上。
其中,吸真空背板上設(shè)置有用于固定吸真空背板與底板的定位裝置。將吸真空背板調(diào)整到合適的角度后,通過定位裝置將吸真空背部固定在底板上。
其中,定位裝置為定位栓,底板上設(shè)置有與定位栓相配合的弧形槽。
其中,底板上設(shè)置有用于指示吸真空背板相對底板轉(zhuǎn)動角度的刻度盤。
其中,刻度盤上設(shè)置有角度標(biāo)識。通過角度標(biāo)識,可以根據(jù)測試要求調(diào)整測試角度。
其中,吸真空背板連接有真空吸管,真空吸管上設(shè)置有用于控制真空吸管開合的控制閥。通過真空吸管和控制閥,可以實現(xiàn)對吸真空背板的吸附力的控制,當(dāng)真空度達(dá)到要求時,關(guān)閉控制閥,防止儀器內(nèi)外的氣體交換。此外,當(dāng)儀器內(nèi)的溫濕度達(dá)不到要求時,可以通過真空吸管交換室內(nèi)與儀器內(nèi)的空氣,以改善測試儀器內(nèi)部環(huán)境。
其中,透光區(qū)的面積小于硅片的面積。
本實用新型的有益效果:本實用新型的測試硅片碳氧含量的夾具,其吸真空背板能夠繞豎直方向相對底板轉(zhuǎn)動,以調(diào)節(jié)光線與硅片之間的角度。現(xiàn)有技術(shù)技術(shù)中的夾具,其光線與硅片相垂直,本實用新型的夾具通過改變光線與硅片之間的角度,使得光線與硅片傾斜設(shè)置,從而增加了光線在硅片中的實際路程,相當(dāng)于增加了硅片的厚度。本實用新型的測試硅片碳氧含量的夾具不僅結(jié)構(gòu)簡單,而且解決了現(xiàn)有技術(shù)不能測試正常厚度的硅片的技術(shù)問題。
附圖說明
圖1是本實用新型實施例的測試硅片碳氧含量的夾具的立體結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是本實用新型實施例的測試硅片碳氧含量的夾具的俯視圖。
圖3是現(xiàn)有技術(shù)中的光線與硅片的示意圖
圖4是本實用新型實施例的光線與硅片的示意圖。
圖5是現(xiàn)有技術(shù)中的測試光譜示意圖。
圖6是本實用新型實施例的測試光譜示意圖。
附圖標(biāo)記如下:
1-底板;2-吸真空背板;21-透光區(qū);3-旋轉(zhuǎn)軸;4-定位栓;5-刻度盤;6-真空吸管;7-控制閥。
具體實施方式
下面結(jié)合圖1至圖6并通過具體實施例來進(jìn)一步說明本實用新型的技術(shù)方案。
如圖1至圖2所示,測試硅片碳氧含量的夾具包括底板,底板上設(shè)置有用于吸附硅片的吸真空背板,吸真空背板設(shè)置有用于光線透過的透光區(qū),吸真空背板能夠繞豎直方向相對底板轉(zhuǎn)動,以調(diào)節(jié)光線與硅片之間的角度。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





