[實用新型]用于測量高分子材料形狀回復率和固定率的度盤有效
| 申請號: | 201720556254.0 | 申請日: | 2017-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN206709771U | 公開(公告)日: | 2017-12-05 |
| 發明(設計)人: | 李子帙;江志聰 | 申請(專利權)人: | 哈爾濱理工大學 |
| 主分類號: | G01B5/30 | 分類號: | G01B5/30;G01B5/20 |
| 代理公司: | 哈爾濱東方專利事務所23118 | 代理人: | 陳曉光 |
| 地址: | 150080 黑龍江省*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 測量 高分子材料 形狀 回復 固定 | ||
技術領域:
本實用新型涉及一種用于測量高分子材料形狀回復率和固定率的度盤。
背景技術:
用于測量高分子材料形狀回復率和固定率的度盤。對于研究形狀記憶高聚物的形狀回復性質有很大的實際意義。一方面,形狀記憶高分子聚合物作為一類重要的功能材料,在航空航天、智能控制系統、電力電子、醫療、包裝等領域具有廣泛的應用。應用上需要選擇及合成合適的高分子材料。另一方面,針對形狀記憶高分子材料,需要進行控溫箱內形狀凍結和回復實驗,通過測定不同樣品回復過程中的曲率角度變化,形狀回復率是衡量形狀記憶材料性能好壞的一個最為重要的指標,它的大小直接反映了材料在二次成型后,記憶其初始形狀的能力。形變固定率是決定形狀記憶材料使用的另一重要指標,反映形狀記憶材料在二次成型后保持其形狀的能力,它的大小直接影響二次成型制品在使用中的存放與保管。因而是研究形狀記憶高分子材料的一種有力手段。
發明內容:
本實用新型的目的是提供一種用于測量高分子材料形狀回復率和固定率的度盤,利用現有儀器的條件,在相關加熱干燥箱的可用空間內,完成當材料在不同的溫度下進行形狀記憶高分子材料形狀回復率和形狀固定率的測試的裝置,即用于測量高分子材料形狀回復率和固定率的度盤。
上述的目的通過以下的技術方案實現:
一種用于測量高分子材料形狀回復率和固定率的度盤,其組成包括:試樣形變度量標尺和試樣度量支撐底盤,所述的試樣形變度量標尺與試樣貼緊,試樣形變度量標尺與試樣度量支撐底盤靠兩個平行凹凸槽聯結固定,所述的試樣度量支撐底盤內嵌入有形狀記憶高分子材料形狀回復率和形狀固定率被測試樣,所述的試樣形變度量標尺的尺寸與相關試樣相對應,所述的試樣形變度量標尺的刻度與相關加熱干燥箱試樣相對應。
所述的用于測量高分子材料形狀回復率和固定率的度盤,所述的試樣形變度量標尺由透明的高分子材料加工而成,所述的試樣形變度量標尺的刻度是對稱的,0度在中軸,從中心線往兩側刻成均勻對稱的度盤,左邊和右邊最大刻度值均為90度。
有益效果:
1.本實用新型為創新型附件,能夠實現研究用于測量高分子材料形狀回復率和固定率的度盤的制作。
本實用新型的試樣形變度量標尺。試樣形變度量標尺的刻度與相關加熱干燥箱試樣相對應,測量形狀記憶高分子材料形狀回復率和形狀固定率時可直接將試樣圖片放在本實用新型內即可,方便實用。
本實用新型的試樣形變度量標尺和試樣度量支撐底盤靠兩個平行凹凸槽聯結固定,試樣度量支撐底盤對被測試樣和試樣形變度量標尺起到支撐作用,目的是為了避免試樣測試過程中試樣形變度量標尺傾斜造成測量數據不準確。因為測試過程中,試樣需要保持水平,試樣度量支撐底盤起到了機械支撐的作用。試樣度量支撐底盤由高分子合金厚板加工制成,所述的試樣度量支撐底盤與試樣形變度量標尺靠兩個平行凹凸槽聯結,高分子合金具有優異的機械性能,能夠完全滿足制樣平衡定位和機械支撐要求。
本實用新型試樣形變度量標尺由試樣度量支撐底盤支撐,試樣形變度量標尺的凸出部分能夠在度量支撐底板的凹槽內上下移動,試樣形變度量標尺中心線與試樣度量支撐底盤的中心線重合,保證準確測量形狀記憶高分子材料形狀回復率和形狀固定率。試樣形變度量標尺由透明的高分子材料加工而成。試樣形變度量標尺的刻度是對稱的,0度在中軸,從中心線往兩側刻成均勻對稱的度盤,左邊和右邊最大刻度值均為90度。測試時試樣的中心線與試樣形變度量標尺的0刻度線高度重合。
附圖說明:
附圖1是本實用新型的試樣形變度量標尺的結構示意圖。
附圖2是附圖1的俯視圖。
附圖3是本實用新型的試樣度量支撐底座的結構示意圖。
具體實施方式:
實施例1:
一種用于測量高分子材料形狀回復率和固定率的度盤,其組成包括:試樣形變度量標尺1和試樣度量支撐底盤2,所述的試樣形變度量標尺與試樣貼緊,試樣形變度量標尺與試樣度量支撐底盤靠兩個平行凹凸槽聯結固定,所述的試樣度量支撐底盤內嵌入有形狀記憶高分子材料形狀回復率和形狀固定率被測試樣,所述的試樣形變度量標尺的尺寸與相關試樣相對應,所述的試樣形變度量標尺的刻度與相關加熱干燥箱試樣相對應。
實施例2:
根據實施例1所述的用于測量高分子材料形狀回復率和固定率的度盤,所述的試樣形變度量標尺由透明的高分子材料加工而成,所述的試樣形變度量標尺的刻度是對稱的,0度在中軸,從中心線往兩側刻成均勻對稱的度盤,左邊和右邊最大刻度值均為90度。
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