[實用新型]一種半導體硅片覆層檢測裝置

有效

• 申請號: 201720548108.3
• 申請日: 2017-05-17
• 公開（公告）號: CN206990529U
• 公開（公告）日: 2018-02-09
• 發明（設計）人: 夏倩
• 申請（專利權）人: 深圳晶鼎科實業有限公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及檢測設備技術領域，具體為一種半導體硅片覆層檢測裝置。

背景技術

半導體硅片覆層是通過真空鍍半導體硅片工藝將高純度在半導體硅片絲在高溫(1100～1200℃)下蒸發成氣態，之后塑料薄膜經過真空蒸發室時，氣態的半導體硅片原子沉淀到塑料薄膜表面而形成的光亮金屬色彩的薄膜。半導體硅片覆層是采用特殊工藝在塑料薄膜表面鍍上一層極薄的金屬半導體硅片而形成的一種復合軟包裝材料，其中最常用的加工方法當數真空鍍半導體硅片法，就是在高真空狀態下通過高溫將金屬半導體硅片融化蒸發，使半導體硅片的蒸汽沉淀堆積到塑料薄膜表面上，從而使塑料薄膜表面具有金屬光澤。由于它既具有塑料薄膜的特性，又具有金屬的特性，是一種廉價美觀、性能優良、實用性強的包裝材料。

一種半導體硅片覆層檢測裝置的出現大大方便了半導體硅片覆層的檢測，但是目前階段的一種半導體硅片覆層檢測裝置，存在諸多的不足之處，例如，裝置靈活性差，半導體硅片覆層檢測效率低，檢測效果差。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種半導體硅片覆層檢測裝置，以解決上述背景技術中提出的裝置靈活性差，半導體硅片覆層檢測效率低，檢測效果差的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種半導體硅片覆層檢測裝置，包括固定板,所述固定板的上方的一側和另一側均安裝有繩索控制機構，所述固定板的前方的內側安裝有滑竿，所述滑竿上安裝有滑行裝置，所述滑行裝置的底部安裝有半導體硅片覆層檢測器，所述固定板的底部安裝有固定套，所述固定套的底部安裝有底座，所述底座的一側和另一側安裝有連接套，所述連接套與輸送帶通過支撐板連接，所述輸送帶的上方的前后方安裝有防脫夾板，所述輸送帶上安裝有轉動輥軸，所述底座的上方的一側安裝有控制面板，所述半導體硅片覆層檢測器輸入端與控制面板輸出端電性連接。

優選的，所述繩索控制機構與滑行裝置通過繩索傳動連接。

優選的，所述繩索控制機構內安裝有卷軸，且卷軸與繩索轉動連接。

優選的，所述滑行裝置與滑竿通過卡槽滑動連接。

優選的，所述半導體硅片覆層檢測器與輸送帶等寬。

優選的，所述輸送帶與上方的前后方安裝的防脫夾板通過焊接實現連接。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：該一種半導體硅片覆層檢測裝置的上方安裝有固定板，且固定板上安裝有滑行裝置，且滑行裝置與其通過滑竿滑動連接，且在滑行裝置的上方安裝有繩索，且繩索的另一端安裝有繩索控制機構，通過其可以控制滑行裝置滑動，通過此裝置大大增大了裝置的靈活性，且此半導體硅片覆層檢測器的設計與輸送帶等寬，大大增大了裝置檢測效率，且在輸送帶上安裝有轉動輥軸，此轉動輥軸彼此之間的距離設計為等寬，通過這種設計可以很精確的控制半導體硅片覆層的檢測節奏，增大了裝置的檢測精確度，從而增大了裝置檢測效果。

附圖說明

圖1為本實用新型的結構示意圖；

圖2為本實用新型的滑行裝置的左視圖；

圖3為本實用新型的輸送帶的俯視圖。

圖中：1-繩索控制機構；2-繩索；3-滑竿；4-滑行裝置；5-半導體硅片覆層檢測器；6-固定套；7-固定板；8-輸送帶；9-支撐板；10-控制面板；11-連接套；12-底座；13-卡槽；14-轉動輥軸；15-防脫夾板。

具體實施方式

下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。