[實(shí)用新型]一種半導(dǎo)體制冷晶粒自動(dòng)分選機(jī)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720547252.5
• 申請(qǐng)日: 2017-05-17
• 公開（公告）號(hào): CN207086372U
• 公開（公告）日: 2018-03-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳天順;周創(chuàng)舉;盧崢業(yè)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鵬南科技（廈門）有限公司
• 主分類號(hào): B07C5/342
• 分類號(hào): B07C5/342;B07C5/02
• 代理公司: 杭州知瑞知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司33271
• 代理人: 巫麗青

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及晶粒分選技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種半導(dǎo)體制冷晶粒自動(dòng)分選機(jī)。

背景技術(shù)

半導(dǎo)體致冷作為一個(gè)較為新興的制冷方式，它是一種產(chǎn)生負(fù)熱阻的制冷技術(shù)，優(yōu)點(diǎn)是無活動(dòng)部件，應(yīng)用在一些空間受到限制，可靠高，無制冷劑的場合。主要利用半導(dǎo)體材料的Peltier效應(yīng)，當(dāng)直流電通過兩種不同半導(dǎo)體材料串聯(lián)成的電偶時(shí)，在電偶的兩端即可分別吸收熱量和放出熱量，可以實(shí)現(xiàn)致冷的目的。廣泛用于醫(yī)療、機(jī)算機(jī)、冷藏箱、飲水機(jī)、軍工石油儀器和實(shí)驗(yàn)科學(xué)儀器等方面。按級(jí)數(shù)分別有TEC1～TEC6級(jí)，按尺寸大小分，目前最小可以做到4.2*4.2mm/7 對(duì)PN晶堆。而致冷片制作環(huán)節(jié)中一道重要工序就是P&N型晶粒的分選過程。對(duì)晶粒的分選，包括對(duì)晶粒的外觀和尺寸進(jìn)行檢查，此步驟對(duì)晶粒的生產(chǎn)和封裝成本方面有重要影響。而傳統(tǒng)的篩選過程都是依靠人工用眼睛看，時(shí)間久了，眼睛疲勞、花眼，容易造成晶粒篩選不準(zhǔn)確，浪費(fèi)人力、物力，而且人工篩選效率低，準(zhǔn)確性低。

實(shí)用新型內(nèi)容

為此，需要提供一種能提高工作效率，自動(dòng)化程度高，既可以檢測(cè)晶粒的長、寬、高尺寸，有可以檢測(cè)晶粒的形狀是否規(guī)則，并且能夠?qū)崿F(xiàn)分選的裝置，來滿足行業(yè)中對(duì)大批量晶粒的分選工作。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了一種半導(dǎo)體制冷晶粒自動(dòng)分選機(jī)，以克服現(xiàn)有技術(shù)存在的上述缺陷。

本實(shí)用新型采用如下方案：一種半導(dǎo)體制冷晶粒自動(dòng)分選機(jī)，包括：

機(jī)架；

設(shè)置在機(jī)架上的晶粒運(yùn)送裝置，所述晶粒運(yùn)送裝置上設(shè)有產(chǎn)品監(jiān)測(cè)裝置，用于監(jiān)測(cè)待分選晶粒是否到達(dá)指定位置；

設(shè)置在晶粒運(yùn)送裝置上方和兩側(cè)的晶粒檢測(cè)裝置，所述晶粒檢測(cè)裝置包括分別用于識(shí)別晶粒上面、前側(cè)面和后側(cè)面的攝像頭；

與所述晶粒檢測(cè)裝置相連接的圖像處理單元，所述圖像處理單元接收到所述產(chǎn)品監(jiān)測(cè)裝置發(fā)出的控制信號(hào)后，控制上述的攝像頭依次拍攝照片，所述攝像頭將拍攝的圖像信息返回至所述圖像處理單元，所述圖像處理單元對(duì)照被比對(duì)象對(duì)圖像信息依次進(jìn)行判斷，確定圖像信息中的產(chǎn)品是否為良品，并根據(jù)判斷結(jié)果決定是否輸出晶粒取出信號(hào)；

與所述圖像處理單元相連接的控制電路，與所述控制電路相連接的晶粒取出裝置，所述控制電路接收所述晶粒取出信號(hào)并控制所述晶粒取出裝置進(jìn)行晶粒取出操作。

優(yōu)選的，還包括與晶粒運(yùn)送裝置相銜接的晶粒輸入裝置，所述晶粒輸入裝置包括晶粒振動(dòng)裝置和晶粒拾入裝置，所述晶粒拾入裝置與所述控制電路相連接，所述晶粒振動(dòng)裝置包括依次連接的曲線振動(dòng)盤和直線振動(dòng)盤，在曲線振動(dòng)盤中剔除尺寸偏差大和形狀不規(guī)則的晶粒，剩余待分選的晶粒在直線振動(dòng)盤逐顆排列后，由所述控制電路控制所述晶粒拾入裝置將晶粒拾入晶粒運(yùn)送裝置。

優(yōu)選的，所述晶粒運(yùn)送裝置包括設(shè)在機(jī)架上的運(yùn)送軌道、在運(yùn)送軌道上移動(dòng)的活動(dòng)治具、固定在運(yùn)送軌道兩端并驅(qū)動(dòng)活動(dòng)治具沿著運(yùn)送軌道循環(huán)移動(dòng)的多個(gè)氣缸，所述活動(dòng)治具上表面承載晶粒。

進(jìn)一步的，所述運(yùn)送軌道至少包括兩條平行的條形槽。

進(jìn)一步的，所述晶粒取出裝置包括固定于晶粒運(yùn)送裝置一側(cè)與晶粒檢測(cè)裝置相銜接并與高壓氣源和控制電路相連接的氣缸，還包括設(shè)置在運(yùn)送軌道上并且與所述氣缸相連接的氣動(dòng)吸盤。

進(jìn)一步的，所述晶粒拾入裝置包括固定于晶粒輸入裝置一側(cè)并與高壓氣源和控制電路相連接的氣缸，還包括與所述氣缸相連接的氣動(dòng)吸盤。

更進(jìn)一步的，還包括設(shè)置在機(jī)架上的運(yùn)行監(jiān)測(cè)裝置，所述運(yùn)行監(jiān)測(cè)裝置與所述控制電路相連接，所述運(yùn)行監(jiān)測(cè)裝置分別監(jiān)測(cè)晶粒運(yùn)送裝置的氣缸、晶粒取出裝置和直線振動(dòng)盤是否存在異常。

優(yōu)選的，所述攝像頭為CCD攝像頭，所述產(chǎn)品監(jiān)測(cè)裝置和所述運(yùn)行監(jiān)測(cè)裝置均為光纖信號(hào)放大器。

優(yōu)選的，還包括與所述圖像處理單元相連接的顯示器，所述圖像處理單元中還包括一用于記錄判斷為良品或不良品數(shù)量的記錄部件。

優(yōu)選的，在所述晶粒取出裝置的氣動(dòng)吸盤處設(shè)有收集良品容器。

區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型的半導(dǎo)體致冷片晶粒自動(dòng)分選機(jī)，其中的晶粒輸入裝置采用曲線振動(dòng)盤剔除了尺寸偏差較大和形狀較不規(guī)則的晶粒，實(shí)現(xiàn)了晶粒的初步分選，提高了效率；通過采用具有攝像頭的晶粒檢測(cè)裝置，通過對(duì)晶粒進(jìn)行三個(gè)角度拍照，實(shí)現(xiàn)對(duì)晶粒的尺寸參數(shù)的自動(dòng)測(cè)量并分選，分選結(jié)果準(zhǔn)確度高。綜上，本實(shí)用新型減少了人工檢查的誤差，提高了精準(zhǔn)度，同時(shí)也節(jié)省了人力，提高了檢測(cè)效率。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型的正視結(jié)構(gòu)剖視圖。