[實用新型]3D物品的三維取像裝置有效
| 申請號: | 201720545195.7 | 申請日: | 2017-05-17 |
| 公開(公告)號: | CN206990469U | 公開(公告)日: | 2018-02-09 |
| 發明(設計)人: | 黃美娟;錢方杰 | 申請(專利權)人: | 國際技術開發株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/90 | 分類號: | G01N21/90;G01N21/01 |
| 代理公司: | 南京蘇科專利代理有限責任公司32102 | 代理人: | 姚姣陽 |
| 地址: | 日本東京都*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 物品 三維 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種檢測裝置,尤其涉及一種3D物品的三維取像裝置。
背景技術
目前電子行業對一些經過組裝后的電子元器件需要多角度的進行缺陷檢測,現有的檢測方法一般是進行多次的單面取像再檢測,而這樣的取像方式費時費力,檢測效率低下。
當然,三維的檢測不僅僅局限于電子行業,其他物品有時也會需要進行三維檢測,但現有的檢測裝置結構復雜,成本高昂,使用場合不夠廣泛。
實用新型內容
本實用新型提供了一種3D物品用三維取像裝置。
本實用新型的目的通過以下技術方案來實現:
3D物品用三維取像裝置,包括相機、設置于相機一端的遠心鏡頭,所述遠心鏡頭下設置有用于放置待檢測樣品的光學托盤,所述光學托盤呈碗狀。
優選地,所述相機為面陣相機
優選地,所述遠心鏡頭為帶同軸光的遠心鏡頭。
優選地,所述光學托盤的內側為表面光滑且具反射的反射面。
優選地,所述相機通過一支架設置于所述光學托盤的正上方,且所述相機在所述支架上相對于所述光學托盤進行上、下運動。
優選地,所述光學托盤包括一光滑底面及圍設于所述底面周圈的側壁,所述遠心鏡頭的出光與所述光學托盤的側壁呈45°夾角。
本實用新型的有益效果體現在:通過結合呈碗狀的光學托盤,可以一次性的多角度對SMT 器件進行檢測,檢測效率大大提高。
附圖說明
圖1:本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
以下結合實施例具體闡述本實用新型的技術方案,本實用新型揭示了一種3D物品用三維取像裝置,結合圖1所示,包括相機1、設置于相機1一端的具有同軸光的遠心鏡頭2,所述遠心鏡頭2下設置有用于放置待檢測樣品4的光學托盤3,所述光學托盤3呈碗狀。所述相機1為面陣相機。所述光學托盤的內側為表面光滑且具反射的反射面。
具體的,所述相機1通過一支架設置于所述光學托盤3的正上方,且所述相機1在所述支架上相對于所述光學托盤3進行上、下運動。所述光學托盤3包括一光滑底面及圍設于所述底面周圈的側壁,所述遠心鏡頭的出光與所述光學托盤的側壁呈45°夾角。
以下闡述下本實用新型的檢測方案:
將待測樣品4放置于光學托盤3的底面,通過相機上下運動對樣品拍攝。由于光學托盤呈碗狀,對待測樣品4進行多角度的反射,通過相機可以進行待測樣品4多角度的視角拍攝,最后通過與相機連接的CPU對視圖進行缺陷判別檢測。
由于具體CPU缺陷檢測并不是本申請重點,故在此不再贅述。
本實用新型尚有多種具體的實施方式。凡采用等同替換或者等效變換而形成的所有技術方案,均落在本實用新型要求保護的范圍之內。
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