[實用新型]用于測量非漫射平板材料透射比和反射比的裝置

有效

• 申請號: 201720539547.8
• 申請日: 2017-05-16
• 公開（公告）號: CN206848167U
• 公開（公告）日: 2018-01-05
• 發明（設計）人: 張喆民;黃達泉;侯佳音;吳筱;許海鳳;鐘星輝;苑靜
• 申請（專利權）人: 北京奧博泰科技有限公司
• 主分類號: G01N21/55
• 分類號: G01N21/55;G01N21/59
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司44202
• 代理人: 郝傳鑫,賈允

技術領域

本實用新型涉及光學檢測領域，尤其涉及用于測量非漫射平板材料透射比和反射比的裝置。

背景技術

目前通用透射測量光路為空氣參比光路，光路在樣品兩側，如圖1所示，即在被測樣品的兩側分別放置發射裝置和接收裝置來測量被測樣品的透射比；通用反射測量光路為V型參比光路，如圖2所示，即在被測樣品的同側放置發射裝置和接收裝置來測量被測樣品該側的反射比，在測量樣品另側的反射比時，需把樣品翻面。其中，圖1和圖2對應的分別為光源1，第一狹縫21，第二狹縫22，透鏡3，積分球4，接收裝置5，平板材料6。

現有的常用測量儀器有兩種結構型式：

1、使用兩套接收裝置的結構型式：如圖3所示，該類測量儀器需要一套發射裝置及兩套接收裝置，光源側的接收裝置用于測量被測樣品光源側的反射比，光源反側的接收裝置用于測量被測樣品的透射比。故該類儀器共需要兩個探頭來測得被測樣品的透射比及兩側反射比，且若要測得光源反側的反射比時，被測樣品必須翻面。

2、使用一套接收裝置的結構型式：如圖4和圖5所示，該類測量儀器需要一套發射裝置及一套接收裝置，被測樣品放在位置1時可測得樣品的透射比，被測樣品放在位置2時，可測得樣品光源側的反射比，若要測得光源反側的反射比時，被測樣品必須翻面。故該類儀器共需要兩個探頭來測得被測樣品的透射比及兩側反射比，且若要測得光源反側的反射比時，被測樣品必須翻面。

如上可知，現有測量平板材料透射比及兩側反射比的操作儀器都需要兩個探頭并且必須使樣品翻面來完成測量。

其中，上述結構具有的缺點是：

1、現有操作儀器在測量平板材料的透射比時，平板材料兩側均需裝有探頭。

2、在測量平板材料透射比時，對于某些生產線上的平板材料，如真空鍍膜生產線上的玻璃，受設備限制，只能單側裝探頭，則無法滿足測量條件。

3、現有操作儀器在測量平板材料兩側的反射比時，平板材料必須翻面。

4、在測量平板材料兩側反射比時，對于生產線上的平板材料或不易翻面場合，則無法滿足測量條件。

5、現有操作儀器需先測得樣品的透射比，再測得樣品光源側的反射比，最后把樣品翻面測得樣品光源反側的反射比。測量步驟多，操作復雜。

進一步分析引起這些缺點的原因為：

1、通用反射測量光路是通過測量樣品反射后接收到的光強度來計算反射比。這樣，就必須使反射測量光路位于被測品被測面的一側，而在測量另一面反射比時，被測樣品需翻面。

2、通用透射測量光路是通過測量樣品透射后接收到的光強度來計算透射比，故透射測量光路必須位于被測樣品兩側。

實用新型內容

為了解決上述技術問題，本實用新型提出了用于測量非漫射平板材料透射比和反射比的裝置；

包括發射裝置、被測樣品、參考樣品、接收裝置和平移機構，

所述發射裝置或者接收裝置位于所述平移機構上，且所述發射裝置和接收裝置位于所述被測樣品和/或參考樣品的同一側，所述發射裝置和接收裝置的位置可互換；所述被測樣品與發射裝置之間的距離小于所述參考樣品與發射裝置之間的距離；

所述發射裝置包括光源、第一狹縫和透鏡，所述光源用于提供光束，所述透鏡用于對所述光束進行準直聚焦；

所述接收裝置包括積分球、第二狹縫和驅動機構，所述積分球用于收集進入其內部的所有光束；所述第二狹縫位于所述積分球的入口處；所述驅動機構用于驅動接收裝置中的積分球移動，或者所述發射裝置中的光源移動，調控進入所述積分球的光束量。

進一步地，所述平移機構包括第一平移臺，所述驅動機構包括第一驅動器；所述積分球和第二狹縫位于所述第一平移臺上；

所述第一驅動器用于驅動所述積分球在所述第一平移臺上，向面對所述光源的方向移動或向遠離所述光源的方向移動。

進一步地，所述第一驅動器驅動所述積分球在所述第一平移臺上移動，使所述積分球位于所述第一平移臺的第一位置、第二位置、第三位置；

所述積分球在對應位置處獲取到的光束，通過光電轉換器分別轉換為第一光強度、第二光強度、第三光強度。

進一步地，還包括第三驅動器，所述第三驅動器驅動所述第二狹縫以積分球的球心為軸在積分球的入口處進行擺動，使所述積分球獲取到的光束通過光電轉換器分別轉換為第一光強度、第二光強度、第三光強度。

進一步地，所述平移機構還包括第二平移臺，所述驅動機構還包括第二驅動器；