[實用新型]低頻噪聲測試裝置

有效

• 申請號: 201720535093.7
• 申請日: 2017-05-15
• 公開（公告）號: CN206990690U
• 公開（公告）日: 2018-02-09
• 發明（設計）人: 李兆成;石強;楊文;黃平;蔣平
• 申請（專利權）人: 深圳市量為科技有限公司
• 主分類號: G01R29/26
• 分類號: G01R29/26
• 代理公司: 廣東朗乾律師事務所44291
• 代理人: 楊煥軍

技術領域

本實用新型屬于電子測試測量技術領域，更具體地說，涉及一種用于對電子元器件或導電材料或半導體材料的低頻噪聲進行測試的裝置。

背景技術

集成運算放大器、電阻、二極管、電源管理芯片等對可靠性或者性能要求很高的電子元器件，當應用于高性能要求的場合時，需要進行低頻噪聲測試，以評估其低頻噪聲性能指標。目前，國內和國際上一般采用多設備或部件共同拼接的方法來組建一套噪聲測試系統用于測試低頻噪聲，如圖1所示，該噪聲測試系統通常由獨立的帶屏蔽的偏置電路結合獨立的低噪聲放大器，將測試數據輸出到頻譜分析儀和示波器進行時域和頻譜數據采樣，最后將采集數據輸出到電腦中，得出最終的測試結果。公開號為CN101413976A的中國實用新型專利申請以及公開號為CN102095917A的中國實用新型專利申請公開的噪聲測試方法也采用類似的測試系統進行測試。

由多個獨立組件構成的噪聲測試系統由于存在以下幾個方面的不足導致實際應用困難：1.分離式系統中的組件由于需要采用外部電纜來連接，會給本來十分微弱的低頻噪聲測試引入了額外的干擾，使得測試結果精度無法得到保證；2.分離式系統需要較大的空間來擺放，加上各組件之間的連線關系復雜，移位測試時需要拆卸后再在新址重新裝配，給使用和維護帶來不便，同時也影響測試結果的可重復性；3.在外部干擾復雜的環境下需要對部分組件進行二次改造，如增加電磁屏蔽箱及對應的接地聯線等，操作不便；4.需要單獨的電池管理單元作為偏置電源，不能長時間連續工作，而且也存在著電池壽命和充放電安全等問題；5.由于采用單一通用型適配器，不同種類的電子元器件噪聲測試時需要對適配器進行二次連接或跳線，影響了測試結果的精度與可重復性。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種可以提高測試準確度的低頻噪聲測試裝置。

為了實現上述目的，本實用新型采取如下的技術解決方案：

低頻噪聲測試裝置，包括：電磁屏蔽外殼及設置于所述電磁屏蔽外殼內的多個隔離設置的屏蔽腔體；組成所述測試裝置的多個功能模塊設置于所述屏蔽腔體中。

更具體的，多個隔離設置的所述屏蔽腔體獨立或者間隔的設置。

更具體的，組成所述測試裝置的多個功能模塊分別單獨位于所述屏蔽腔體中。

更具體的，組成所述測試裝置的多個功能模塊包括主機單元、C/V測量模塊、信號處理單元、適配器單元以及為前述部件供電的電源模塊，所述主機單元對所述電源模塊的電流/電壓輸出進行控制，所述適配器單元將被測試對象的低頻噪聲信號輸出至所述信號處理單元后再傳送至所述主機單元；所述主機單元、C/V測量模塊、信號處理單元、適配器單元及電源模塊設置于所述屏蔽腔體中。

更具體的，所述信號處理單元包括第一放大器、第二放大器和白噪聲發生器，所述第一放大器、第二放大器由所述電源模塊中的放大器電源供電，所述放大器電源設置于獨立的屏蔽腔體中，所述白噪聲發生器為被測試對象提供基準噪聲；所述第一放大器和第二放大器對被測試對象的低頻噪聲信號進行檢測和放大后輸出至所述主機單元。

更具體的，被測試對象由所述電源模塊中的第一偏置電源和第二偏置電源供電，所述C/V測量模塊由所述電源模塊中的輔助電源供電；所述第一偏置電源、第二偏置電源、輔助電源分別單獨位于所述屏蔽腔體中。

更具體的，所述適配器單元包括開關矩陣和可更換的DUT測試板，所述開關矩陣與所述DUT測試板電連接，被測試對象設置于DUT測試板上。

更具體的，放置所述適配器單元的屏蔽腔體具有可打開的活動蓋。

更具體的，所述主機單元包括處理器、存儲模塊、通信模塊、數據采集模塊、顯示模塊以及為以上各模塊供電的主機電源，所述處理器用于處理采集到的信號數據，所述存儲模塊對所述數據采集模塊采集到的數據進行存儲，所述顯示模塊用于提供操作界面，主機單元通過所述通信模塊與系統管理單元進行通信，所述系統管理單元用于管理和控制各電源部件和C/V測量模塊。

更具體的，所述通信模塊通過光電或磁耦合或射頻無線方式與系統管理單元進行隔離通訊。

更具體的，所述數據采集模塊為PCI express數據采集卡或PXI標準數據采集卡。

更具體的，所述適配器單元與所述電源模塊通過背板或帶屏蔽外層的多芯導線或多根帶屏蔽層的導線電連接。