[實用新型]測試設備及其給電治具

有效

• 申請號: 201720516621.4
• 申請日: 2017-05-10
• 公開（公告）號: CN206930747U
• 公開（公告）日: 2018-01-26
• 發明（設計）人: 胡海;李國泉;王泰山;李成鵬;劉文斌;方繼林
• 申請（專利權）人: 深圳瑞波光電子有限公司;深圳清華大學研究院
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙)44280
• 代理人: 何青瓦

1.一種給電治具，用于對半導體激光器未電隔離裸BAR測試時注入大電流，其特征在于，所述給電治具包括探針夾具和多個彈性探針，所述探針夾具包括探針座和探針固定件，所述探針座和所述探針固定件用于配合以夾持固定所述多個彈性探針，所述多個彈性探針的針尖一端處于同一平面。

2.根據權利要求1所述的給電治具，其特征在于，，所述探針座設有容置空間，所述多個彈性探針設于所述容置空間內，所述探針固定件用于固定所述多個彈性探針。

3.根據權利要求2所述的給電治具，其特征在于，所述探針座包括探針座本體和從所述探針座本體一側延伸的凸耳，所述容置空間形成于所述探針座本體的中部，所述凸耳用于預固定給電電源輸出電線。

4.根據權利要求3所述的給電治具，其特征在于，所述探針座本體的中部形成有第一凹槽，所述第一凹槽貫穿所述探針座本體的寬度方向設置，所述第一凹槽內設有容置塊，所述容置空間形成于所述容置塊，所述容置空間為第二凹槽。

5.根據權利要求4所述的給電治具，其特征在于，所述容置塊頂面低于所述探針座本體的頂面，所述容置塊的寬度小于所述探針座本體的寬度，所述第一凹槽內臨近所述容置塊的空間用于放置焊料。

6.根據權利要求5所述的給電治具，其特征在于，所述探針固定件包括固定板和從所述固定板底面延伸的凸臺，所述凸臺與所述第一凹槽配合連接以固定所述多個彈性探針，所述探針座與所述固定板通過螺釘固定連接。

7.根據權利要求2所述的給電治具，其特征在于，所述多個彈性探針呈多行重疊設置。

8.根據權利要求7所述的給電治具，其特征在于，所述多個彈性探針呈兩行設置，每行具有25個彈性探針，每個所述彈性探針的外徑為0.35mm，所述探針座和所述探針固定件均采用紫銅加工而成并進行鍍鎳表面處理。

9.根據權利要求2所述的給電治具，其特征在于，所述多個彈性探針通過平面制作夾具使得所述多個彈性探針的針尖一端處于同一平面，所述平面制作夾具包括夾具主體，所述夾具主體內形成有截面呈w型的第三凹槽，所述第三凹槽包括依次連接的探針座底面放置面、探針座側面放置面、探針銜接面以及探針抵接面，所述探針座通過所述探針座底面放置面和所述探針座側面放置面定位，所述多個彈性探針設置于所述探針座上，并且針尖一端延伸至探針銜接面上方，直至抵接于所述探針抵接面。

10.一種測試設備，其特征在于，所述測試設備包括如權利要求1-9任一項所述的給電治具。