[實用新型]一種微波頻率測試系統

有效

• 申請號: 201720496376.5
• 申請日: 2017-05-07
• 公開（公告）號: CN206740855U
• 公開（公告）日: 2017-12-12
• 發明（設計）人: 李榮明
• 申請（專利權）人: 南京納特通信電子有限公司
• 主分類號: G01R23/02
• 分類號: G01R23/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及微波頻率測試技術領域，具體涉及一種微波頻率測試系統。

背景技術

微波頻率測試儀是一種精密的對微波頻率的測量的專用設備，用于檢測移動通信網絡中廣泛使用的無線電微波的頻率。隨著我國無線電設備的使用越來越多，對于無線電產品的頻率測試的需求也越來越多，微波頻率測試儀已成為無線產品生產廠商生產測試用的必備檢測儀器。

目前市場上的微波頻率測試儀一般都是適用于2.4GHz產品的測試，不適用于更高頻率的測試，因此無法全面的適用于整個市場，如果要測試更高頻率，則需更專業的設備，浪費資源，生產效率降低。

實用新型內容

本申請通過提供一種微波頻率測試系統，以解決現有微波頻率測試儀不適用于高頻率測試的技術問題。

為解決上述技術問題，本申請采用以下技術方案予以實現：

一種微波頻率測試系統，包括微處理器、低頻信號分頻單元、高頻信號64分頻單元、高頻信號八分頻單元、LDO電源單元以及顯示單元，其中，所述低頻信號分頻單元包括低頻信號線性放大器、整形電路及數字32分頻電路，所述高頻信號64分頻單元包括三個串接的四分頻電路及低頻信號線性放大器，所述高頻信號八分頻單元包括一個四分頻電路及低頻信號線性放大器，所述LDO電源單元分別與所述微處理器、低頻信號分頻單元、高頻信號64分頻單元、高頻信號八分頻單元以及顯示單元相連，所述微處理器與所述數字32分頻電路相連，對分頻后的待測信號進行處理，計算出微波信號的頻率，并在所述顯示單元進行顯示。

進一步地，所述微處理器采用AT91SAM7X256，所述LDO電源單元采用TPS72710DSER。

與現有技術相比，本申請提供的技術方案，具有的技術效果或優點是：該微波頻率測試系統能夠測量DC～18GHz頻率范圍內的微波，結構簡單，測試效率高。

附圖說明

圖1為系統的結構框圖；

圖2為低頻DC～30MHz的工作原理框圖；

圖3為高頻30MHz～3GHz的工作原理框圖；

圖4為高頻3GHz～18GHz的工作原理框圖；

圖5為LDO電源單元電路原理圖；

圖6為八分頻電路原理圖；

圖7為64分頻電路原理圖。

具體實施方式

本申請實施例通過提供一種微波頻率測試系統，以解決現有微波頻率測試儀不適用于高頻率測試的技術問題。

為了更好的理解上述技術方案，下面將結合說明書附圖以及具體的實施方式，對上述技術方案進行詳細的說明。

實施例

一種微波頻率測試系統，如圖1所示，包括微處理器、低頻信號分頻單元、高頻信號64分頻單元、高頻信號八分頻單元、LDO電源單元以及顯示單元，其中，所述低頻信號分頻單元包括低頻信號線性放大器、整形電路及數字32分頻電路，所述高頻信號64分頻單元包括三個串接的四分頻電路及低頻信號線性放大器，所述高頻信號八分頻單元包括一個四分頻電路及低頻信號線性放大器，所述LDO電源單元分別與所述微處理器、低頻信號分頻單元、高頻信號64分頻單元、高頻信號八分頻單元以及顯示單元相連，所述微處理器與所述數字32分頻電路相連，對分頻后的待測信號進行處理，計算出微波信號的頻率，并在所述顯示單元進行顯示。

該微波頻率測試系統將DC～18GHz分為三個頻段進行測試：DC～30MHz、30MHz～3GHz、3GHz～18GHz。下面將對各個頻段測試的工作原理進行介紹：

1、低頻DC～30MHz頻段測試工作原理，如圖2所示。

將待測DC～30MHz信號送入低頻信號分頻單元，該待測信號先通過低頻信號線性放大器放大，通過整形電路將正弦信號整形成方波，通過數字32分頻電路進行32分頻，將分頻后的信號送入微處理器處理，計算得出準確的頻率，通過顯示單元顯示，在此將上述低頻信號分頻單元、微處理器、LDO電源單元以及顯示單元統稱為101模組。

2、高頻30MHz～3GHz頻段測試工作原理，如圖3所示。

待測30MHz～3GHz信號依次通過三個串接的四分頻電路，將30MHz～3GHz信號進行64分頻，然后通過低頻信號線性放大器放大，通過整形電路將正弦信號整形成方波，送入到101模組進行相應的處理，最后由顯示單元顯示頻率。

3、高頻3GHz～18GHz頻段測試工作原理，如圖4所示。