[實用新型]用于IC編帶機的外觀檢測裝置

有效

• 申請號: 201720494603.0
• 申請日: 2017-05-05
• 公開（公告）號: CN206960374U
• 公開（公告）日: 2018-02-02
• 發明（設計）人: 謝名富;吳成君
• 申請（專利權）人: 福州派利德電子科技有限公司
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89
• 代理公司: 福州元創專利商標代理有限公司35100
• 代理人: 蔡學俊,修斯文

技術領域

本實用新型涉及芯片檢測設備，尤其是用于IC編帶機的外觀檢測裝置。

背景技術

外觀檢測是半導體芯片生產的一個重要環節，通過外觀檢測，可以避免由芯片外觀缺陷導致的芯片功能缺陷。利用機器視覺實現芯片外觀缺陷的自動化檢測可以避免由于人工主觀性帶來的誤差，降低生產的人工成本，提高生產效率；但由于機器視覺依賴于光學拍照，如何把光學拍照組件更好地集成在芯片生產設備上，是一個研究方向。

發明內容

本實用新型提出用于IC編帶機的外觀檢測裝置，能把光學拍照組件較好地集成于芯片生產設備上。

本實用新型采用以下技術方案。

用于IC編帶機的外觀檢測裝置，所述光檢系統包括芯片導軌、光電開關、光源組件和拍攝裝置；所述光電開關設于芯片導軌的芯片拍照位處并與拍攝裝置相連，當芯片在芯片導軌移至芯片拍照位時，光電開關被觸發以通知拍攝裝置對芯片拍照位處的芯片拍照；所述光源組件位于芯片導軌上方；所述光源組件包括光源滑軌和在光源滑軌上滑移的光源；所述光源滑軌的一端為工作位，另一端為排障位；當光源移至工作位時，所述光源的出光面朝向并緊鄰于芯片導軌的輸送面，光源的背光面朝向拍攝裝置的進光位；當光源移至排障位時，芯片導軌的傳輸面上方敞開無遮擋以便排除芯片卡料故障。

所述光源以可被磁力吸引的金屬件與光源滑軌連接，所述光源滑軌的工作位和排障位處均設有磁吸件。

所述拍攝裝置包括正面閃光組件和側面閃光組件，所述正面閃光組件的出光面指向芯片拍照 位處的芯片頂面，所述側面閃光組件的出光面指向芯片拍照位處的芯片側面。

本實用新型中，所述光電開關設于芯片導軌的芯片拍照位處并與拍攝裝置相連，當芯片在芯片導軌移至芯片拍照位時，光電開關被觸發以通知拍攝裝置對芯片拍照位處的芯片拍照；該設計可以讓拍攝裝置根據芯片導軌上芯片的位置自動工作，只須芯片滑移至芯片拍照位并遮擋光電開關的感應光線，就能觸發光電開關，向拍攝裝置送出拍照指令。

本實用新型中，所述光源組件包括光源滑軌和在光源滑軌上滑移的光源；所述光源滑軌的一端為工作位，另一端為排障位；當光源移至工作位時，所述光源的出光面朝向并緊鄰于芯片導軌的輸送面，光源的背光面朝向拍攝裝置的進光位；當光源移至排障位時，芯片導軌的傳輸面上方敞開無遮擋以便排除芯片卡料故障；該設計使得光源可以設于最佳的光學位置來提升拍照質量，但又可以方便地從芯片導軌上方移開以便于排除卡料故障。

本實用新型中，所述光源以可被磁力吸引的金屬件與光源滑軌連接，所述光源滑軌的工作位和排障位處均設有磁吸件；該設計使得光源在工作位和排障位處均能受到一定的磁力固定，避免設備震動造成光源工作位偏移。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型進一步詳細的說明：

附圖1是本實用新型的示意圖；

圖中：1-芯片導軌；2-磁吸件；3-光源滑軌；4-拍攝裝置；5-金屬件；6-光源；7-芯片導軌上的芯片拍照位；8-工作位；9-排障位。

具體實施方式

如圖1所示，用于IC編帶機的外觀檢測裝置，所述光檢系統包括芯片導軌1、光電開關、光源組件和拍攝裝置4；所述光電開關設于芯片導軌1的芯片拍照位7處并與拍攝裝置4相連，當芯片在芯片導軌1移至芯片拍照位7時，光電開關被觸發以通知拍攝裝置4對芯片拍照位7處的芯片拍照；所述光源組件位于芯片導軌1上方；所述光源組件包括光源滑軌3和在光源滑軌3上滑移的光源6；所述光源滑軌3的一端為工作位8，另一端為排障位9；當光源6移至工作位8時，所述光源6的出光面朝向并緊鄰于芯片導軌1的輸送面，光源的背光面朝向拍攝裝置的進光位；當光源移至排障位9時，芯片導軌的傳輸面上方敞開無遮擋以便排除芯片卡料故障。

所述光源以可被磁力吸引的金屬件5與光源滑軌3連接，所述光源滑軌的工作位8和排障位9處均設有磁吸件2。

所述拍攝裝置包括正面閃光組件和側面閃光組件，所述正面閃光組件的出光面指向芯片拍照 位處的芯片頂面，所述側面閃光組件的出光面指向芯片拍照位處的芯片側面。