[實用新型]濾波片臟污自動檢驗裝置

有效

• 申請號: 201720493493.6
• 申請日: 2017-05-05
• 公開（公告）號: CN206838546U
• 公開（公告）日: 2018-01-05
• 發明（設計）人: 趙涵;劉志勇;譚軍;王強;鄒文洋
• 申請（專利權）人: 四川九州光電子技術有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 四川省成都市天策商標專利事務所51213
• 代理人: 卞濤

1.一種濾波片臟污自動檢驗裝置，其用于對濾波片進行檢測，其特征在于包括用于對組件座進行排列的送料機、送料槽(2)、組件座(1)、光源(3)、CCD檢測系統(4)、位移平臺(5)、氣缸(6)、控制器，所述濾波片安裝在組件座(1)上，所述組件座(1)安裝在送料槽(2)上并可沿送料槽(2)滑動，所述光源(3)設置在檢測位置處，所述控制器分別與氣缸(6)、CCD檢測系統(4)和位移平臺(5)連接。

2.根據權利要求1所述的濾波片臟污自動檢驗裝置，其特征在于所述濾波片包括0度濾波片、45度濾波片，所述CCD檢測系統(4)包括用于對0度濾波片的臟污進行檢測的第一CCD模塊和用于對45度濾波片的臟污進行檢測的第二CCD模塊。

3.根據權利要求1所述的濾波片臟污自動檢驗裝置，其特征在于所述光源(3)為LED光源。

4.根據權利要求1所述的濾波片臟污自動檢驗裝置，其特征在于所述控制器為單片機或FPGA。