[實用新型]一種電阻框架測試夾具以及電阻框架測試系統有效
| 申請號: | 201720483820.X | 申請日: | 2017-05-03 |
| 公開(公告)號: | CN206671422U | 公開(公告)日: | 2017-11-24 |
| 發明(設計)人: | 史書剛;韓玉成;楊成;陳天磊;朱威禹;黃偉訓 | 申請(專利權)人: | 中國振華集團云科電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/02 | 分類號: | G01R27/02;G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙)11371 | 代理人: | 余劍琴 |
| 地址: | 550000 貴州省貴*** | 國省代碼: | 貴州;52 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電阻 框架 測試 夾具 以及 系統 | ||
技術領域
本實用新型涉及電阻測試設備領域,具體而言,涉及一種電阻框架測試夾具以及電阻框架測試系統。
背景技術
在工業生產中,往往需要對生產出的工業產品進行電阻測試,以測定其電阻率。特別地,對于一些特定的采樣電阻框架的測試需要精準的將電阻框架的阻值進行阻值分段,以便于調阻時候統一使用整體減薄的方法來進行調阻,使其達到規定的電阻精度,提高合格率。
采樣電阻采用精密合金進行制作,前段制程使用沖壓工藝,調阻采用統一減薄的方法,這種方法要想提高產品的合格率,就要想辦法將沖壓框架的來料的阻值保持穩定,不離散。而該電阻為了生產的需要,必須采用陣列式排布,來進行規模化生產。這就導致電阻框架很長,要想將電阻框架的阻值盡量的集中不至于離散,就要將每一個進行精準的測試,于是就要將框架的測試點、測試的壓力、測試的方式等統一起來。經發明人調研發現,現有的測試方法通常是通過手工來對電阻框架進行測試,由于每個人測試的習慣不同,測試點不同,測試的壓力也不同,就導致無法得到一個可信的數據來知道我們進行整體減薄調阻。
有鑒于此,設計制造出一種能夠固定測試壓力和測試點位置的電阻框架測試夾具顯得尤為重要。
實用新型內容
本實用新型的目的在于提供一種電阻框架測試夾具,夾持穩定,提高了測量精度,總體使得測試數據準確,重復測量效果好。
本實用新型的另一目的在于提供一種電阻框架測試系統,測試精度高,測試數據準確。
本實用新型是采用以下的技術方案來實現的。
一種電阻框架測試夾具,用于夾持電阻框架,電阻框架測試夾具包括放置組件、容置柱和電阻測試裝置,容置柱的一端與放置組件固定連接,電阻測試裝置包括探針機構和限位組件,容置柱的側面設置有第一條形孔,第一條形孔的延伸方向與容置柱的延伸方向一致,探針機構的一端穿過第一條形孔并可沿第一條形孔滑動,探針機構的另一端懸置于放置組件的一側并可選擇性地抵持于放置組件的一側,限位組件設置在容置柱上并與探針機構連接,用以控制探針機構的滑動。
進一步地,探針機構包括多根探針、承載板和電阻分析接口,承載板的一端伸入第一條形孔并可沿第一條形孔滑動,多根探針設置于承載板的底部且遠離容置柱,多根探針可選擇性地抵持于放置組件,并夾持電阻框架,電阻分析接口設置在承載板上并與多根探針電性連接。
進一步地,探針的根數為4根,采用四線探針法對電阻框架進行測量電阻率的操作。
進一步地,4根探針兩兩相對設置,每根探針的延伸方向相互平行。
進一步地,探針為導電金屬探針。
進一步地,限位組件包括限位把手、探針下壓限位件和彈性件,容置柱的側面還設置有第二條形孔,限位把手的一端伸入第二條形孔并可沿第二條形孔滑動,限位把手伸入第二條形孔的一端與探針機構固定連接,探針下壓限位件設置于容置柱的側面上且靠近第二條形孔,用于止擋限位把手,彈性件的一端抵接于放置臺,另一端抵接于探針機構。
進一步地,彈性件為一壓縮彈簧。
進一步地,放置組件包括基臺和放置板,容置柱的底部固定連接于基臺,放置板可拆卸地設置在基臺上并與探針機構相對應。
進一步地,放置板上設置有測試槽,測試槽的延伸方向與放置板的延伸方向一致,用于放置電阻框架。
一種電阻框架測試系統,用于測試電阻框架的電阻率,包括基板、電阻分析儀以及電阻框架測試夾具,電阻框架測試夾具包括放置組件、容置柱和電阻測試裝置,容置柱的一端與放置組件固定連接,電阻測試裝置包括探針機構和限位組件,容置柱的側面設置有第一條形孔,第一條形孔的延伸方向與容置柱的延伸方向一致,探針機構的一端穿過第一條形孔并可沿第一條形孔滑動,探針機構的另一端懸置于放置組件的一側并可選擇性地抵持于放置組件的一側,限位組件設置在容置柱上并與探針機構連接,用以控制探針機構的滑動。放置組件可拆卸地設置在基板上,電阻分析儀與探針機構電性連接,用于分析電阻框架的電阻率。
本實用新型具有以下有益效果:
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