[實用新型]用于測量裝置的光學傳感器和測量系統

有效

• 申請號: 201720451603.2
• 申請日: 2017-04-26
• 公開（公告）號: CN207456386U
• 公開（公告）日: 2018-06-05
• 發明（設計）人: 托馬斯·延森;P·艾爾格;J·沙爾多南;L·雷梅魯伯爾;A·納爾杜利
• 申請（專利權）人: 特莎有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 呂俊剛;楊薇

1.一種用于測量裝置的光學傳感器(1、1’)，其特征在于，該光學傳感器用于借助于測量輻射的發射和在待測量對象上反射的測量輻射的捕獲進行距離測量，所述光學傳感器(1、1’)具有：

·光學機械耦合單元，該光學機械耦合單元適于提供所述光學傳感器(1、1’)到所述測量裝置的自動耦合，并且適于提供測量輻射在所述測量裝置與所述光學傳感器(1、1’)之間的雙向傳輸；和

·第一光學測量通道，借助于該第一光學測量通道，能夠提供測量輻射在所述測量裝置與所述光學傳感器(1、1’)的第一出射窗(21a)之間的所述雙向傳輸，

其中，所述光學傳感器(1、1’)還包括：

·第二光學測量通道，借助于該第二光學測量通道，能夠提供測量輻射在所述測量裝置與所述光學傳感器(1、1’)的第二出射窗(21b)之間的雙向傳輸；和

·開關(10、10’)，該開關用于進行對測量輻射的所述傳輸的提供的受控改變，所述改變至少能夠在所述第一光學測量通道或所述第二光學測量通道之間提供，

其中，所述第一光學測量通道和所述第二光學測量通道以及所述開關(10、10’)被設置且構造成使得：

·通過切換所述開關(10、10’)，在測量輻射穿過所述第一光學測量通道的所述傳輸和測量輻射通過所述第二光學測量通道的所述傳輸之間發生改變，以及

·測量輻射的所述傳輸在每個情況下僅經由所述第一光學測量通道或僅經由所述第二光學測量通道來提供。

2.根據權利要求1所述的光學傳感器(1、1’)，其特征在于，所述光學傳感器(1、1’)用于坐標測量機。

3.根據權利要求1所述的光學傳感器(1、1’)，其特征在于，

·所述第一出射窗(21a)具有第一光學單元，該第一光學單元用于測量束成型并且用于檢測所述反射的測量輻射，以及

·所述第二出射窗(21b)具有第二光學單元，該第二光學單元用于測量束成型并且用于檢測所述反射的測量輻射。

4.根據權利要求3所述的光學傳感器(1、1’)，其特征在于，所述第一光學單元和所述第二光學單元關于其光學特性不同。

5.根據權利要求4所述的光學傳感器(1、1’)，其特征在于，所述光學特性為聚焦。

6.根據權利要求1所述的光學傳感器(1、1’)，其特征在于，

·所述第一出射窗(21a)限定用于所述測量輻射的第一發射軸線(22a)，以及

·所述第二出射窗(21b)限定用于所述測量輻射的第二發射軸線(22b)，

其中，所述第一發射軸線(22a)不同于所述第二發射軸線(22b)。

7.根據權利要求6所述的光學傳感器(1、1’)，其特征在于，

所述第一發射軸線(22a)和所述第二發射軸線(22b)成限定角度或被設置為彼此正交。

8.根據權利要求1所述的光學傳感器(1、1’)，其特征在于，

至少所述第一光學測量通道具有第一光纖(13a-d、23a-d、33a、33b)，并且所述測量輻射能夠借助于所述第一光纖(13a-d、23a-d、33a、33b)來引導。

9.根據權利要求8所述的光學傳感器(1、1’)，其特征在于，至少所述第一光學測量通道大致完全由所述第一光纖或多個光纖(13a-d、23a-d、33a、33b)形成。

10.根據權利要求8所述的光學傳感器(1、1’)，其特征在于，所述光學傳感器(1、1’)包括位于至少一個光纖上的包層過濾器。

11.根據權利要求1所述的光學傳感器(1、1’)，其特征在于，

所述第二光學測量通道具有第二光纖(13a-d、23a-d、33a、33b)，并且所述測量輻射能夠借助于所述第二光纖(13a-d、23a-d、33a、33b)來引導。