[實用新型]一種可調式微波組件固定測試工裝

有效

• 申請號: 201720439711.8
• 申請日: 2017-04-24
• 公開（公告）號: CN206618817U
• 公開（公告）日: 2017-11-07
• 發明（設計）人: 張中鑫;謝祝軍
• 申請（專利權）人: 無錫華測電子系統有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 無錫華源專利商標事務所(普通合伙)32228
• 代理人: 孫力堅,聶啟新

技術領域

本實用新型涉及固定測試工裝，尤其涉及一種可調式微波組件固定測試工裝。

背景技術

目前使用的微波組件測試工裝的結構功能單一，常見的微波組件測試工裝是由一個底座和一套壓緊機構組成的功能單一的結構裝置，這種類型的結構裝置工作效率較低，成本較高，造成了不必要的資源浪費，再次機械加工過程繁瑣對于不同尺寸規格的組件需要單獨配置測試基座，而且為了固定被測組件，時常還需要將壓緊裝置和基座拆分開對基座進行打孔攻絲，由于基座尺寸較大，實施起來困難較多，這既影響了工作效率，又造成了不必要的資源浪費。

實用新型內容

本申請人針對以上缺點，進行了研究改進，提供一種可調式微波組件固定測試工裝。

本實用新型所采用的技術方案如下：

一種可調式微波組件固定測試工裝，包括基座，基座上設置升降臺和安裝基板，所述升降臺下方連接絲桿螺母同時設置導向桿，所述絲桿螺母連接設置在基座上的絲桿，絲桿下端穿過基座連接渦輪，渦輪與連接在基座下方的蝸桿連接，蝸桿連接星形手輪，導向桿穿在基座上的導向孔內，且導向桿外側位于基座和升降臺之間設置彈簧，所述升降臺上固定壓緊裝置，所述基座上還開設卡槽，配合的所述安裝基板一側設置卡條，且安裝基板通過鎖緊卡套和卡套旋鈕固定在基座上，基座位于安裝基板下方的位置上設置散熱翅片，安裝基板上還固定接地柱。

作為上述技術方案的進一步改進：

所述基座位于蝸桿和渦輪下方固定蓋板。

所述升降臺上開設通槽，通槽內設置固定支柱，固定支柱下端固定在基座上，所述固定支柱靠外一側設置升降行程刻度線。

本實用新型的有益效果如下：所述可調式微波組件固定測試工裝，具有結構簡單、緊湊，拆裝方便，改裝方便，功能多樣化，可適合多種不同外形尺寸的微波組件的測試使用。

附圖說明

圖1為本實用新型提供的可調式微波組件固定測試工裝的爆炸圖。

圖2為本實用新型提供的可調式微波組件固定測試工裝的下側結構示意圖。

圖3為本實用新型提供的可調式微波組件固定測試工裝升降臺上側結構示意圖。

圖4為本實用新型提供的可調式微波組件固定測試工裝升降臺下側結構示意圖。

圖5為本實用新型提供的可調式微波組件固定測試工裝絲桿和渦輪連接示意圖。

圖6為本實用新型提供的可調式微波組件固定測試工裝蝸桿連接示意圖

圖中：1、基座；11、導向孔；12、卡槽；13、散熱翅片；14、蓋板；2、升降臺；21、絲桿螺母；22、導向桿；23、絲桿；24、渦輪；25、蝸桿；251、星形手輪；26、通槽；3、安裝基板；31、卡條；32、鎖緊卡套；33、卡套旋鈕；34、接地柱；4、彈簧；5、固定支柱；51、升降行程刻度線；6、壓緊裝置。

具體實施方式

下面結合附圖，說明本實用新型的具體實施方式。

如圖1至圖6所示，本實施例的可調式微波組件固定測試工裝，包括基座1，基座1上設置升降臺2和安裝基板3，升降臺2上開設通槽26，通槽26內設置固定支柱5，固定支柱5下端固定在基座1上，固定支柱5靠外一側設置升降行程刻度線51，升降臺2下方連接絲桿螺母21同時設置了導向桿22，絲桿螺母21連接設置在基座1上的絲桿23，絲桿23下端穿過基座1連接渦輪24，渦輪24與連接在基座1下方的蝸桿25連接，基座1位于蝸桿25和渦輪24下方固定蓋板14，蝸桿25一端穿出基座1與外側的星形手輪251連接，導向桿22穿在基座1上的導向孔11內，且導向桿22外側位于基座1和升降臺2之間設置彈簧4，升降臺2上固定壓緊裝置6，基座1上還開設卡槽12，配合的安裝基板3一側設置卡條31，且安裝基板3通過鎖緊卡套32和卡套旋鈕33固定在基座1上，基座1位于安裝基板3下方的位置上設置散熱翅片13，安裝基板3上還固定接地柱34。

所述可調式微波組件固定測試工裝使用時，先將安裝基板3的卡條31配合基座1上的卡槽12定位連接安裝基板3和基座1，然后通過鎖緊卡套32和卡套旋鈕33將安裝基板3固定到基座1上，將微波組件連接到安裝基板3上，然后根據微波組件的尺寸，轉動星形手輪251帶動蝸桿25轉動，蝸桿25帶動渦輪24轉動，渦輪24轉動帶動絲桿23轉動，絲桿23配合絲桿螺母21可帶動升降臺2上升、下降，從固定支柱5靠外一側設置的升降行程刻度線51，可看出升降臺2的升降行程，最后通過壓緊裝置6可將微波組件壓緊固定，安裝基板3通過接地柱34接地線，即可進行微波組件測試，在測試過程中可通過散熱翅片13對微波組件進行散熱，保證微波組件正常測試。

以上描述是對本實用新型的解釋，不是對實用新型的限定，本實用新型所限定的范圍參見權利要求，在不違背本實用新型的基本結構的情況下，本實用新型可以作任何形式的修改。