[實用新型]一種電子式互感器校驗裝置有效
| 申請號: | 201720436833.1 | 申請日: | 2017-04-24 |
| 公開(公告)號: | CN206710582U | 公開(公告)日: | 2017-12-05 |
| 發明(設計)人: | 李俊;周文聞;宋建明;瞿敏 | 申請(專利權)人: | 北京博電新力電氣股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R35/02 | 分類號: | G01R35/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100098 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電子 互感器 校驗 裝置 | ||
1.一種電子式互感器校驗裝置,其特征在于,包括工控機、4口交換機、核心控制板、模擬電流/電壓采集板,其中,
所述4口交換機分別與所述工控機、PC機、所述核心控制板相連接,所述核心控制板還與所述模擬電流/電壓采集板相連接,所述工控機由工控單元和顯示單元組成,所述核心控制板由ARM處理單元、DSP運算單元、FPGA控制單元組成,所述模擬電流/電壓采集板由信號輸入單元、信號輸出單元、IRIG-B光B碼對時單元組成。
2.根據權利要求1所述的一種電子式互感器校驗裝置,其特征在于,所述信號輸入單元包括2路IEC60044-7/8輸入模塊、2路IEC61850-9-2輸入模塊、標準電壓/電流輸入模塊、被測電壓/電流/小信號輸入模塊;所述信號輸出單元包括2路模擬量小信號輸出模塊和2路IEC60044-7/8輸出模塊;所述IRIG-B光B碼對時單元包括IRIG-B光B碼對時輸入模塊和IRIG-B光B碼對時輸出模塊。
3.根據權利要求1所述的一種電子式互感器校驗裝置,其特征在于,所述工控單元發出控制指令,同時接收返回的測試參數,對返回結果進行分析比較,得出測試結果,并最終形成正式的測試報告,所述工控單元及所述ARM處理單元通過所述4口交換機的以太網接口連接到一起,所述工控單元控制所述ARM處理單元。
4.根據權利要求2所述的一種電子式互感器校驗裝置,其特征在于,所述ARM處理單元通過并行總線,將數據發送到所述DSP運算單元,同時所述ARM處理單元也接收來自所述DSP運算單元的數據,通過所述4口交換機返回給外部PC機或所述工控機。
5.根據權利要求2所述的一種電子式互感器校驗裝置,其特征在于,所述DSP運算單元通過并行地址、數據總線,將數據發送到所述FPGA控制單元,所述FPGA控制單元對外部輸入/輸出信號進行及時有效的處理,然后將有用數據通過地址、數據總線發送給所述DSP運算單元。
6.根據權利要求2所述的一種電子式互感器校驗裝置,其特征在于,所述FPGA控制單元通過相應控制信號選擇當前需要測試的標準電壓、電流量及被測電壓、電流、小信號量作為對比輸入信號,在所述FPGA控制單元的控制下按照一定的采樣率控制AD器件采樣標準及被測信號,并給出采樣時刻時間,這個時間可以是B碼時間也可以是內部晶振自產生時間,采樣的數據及時傳輸給所述DSP運算單元,所述DSP運算單元通過計算得出角差,比差試驗數據。
7.根據權利要求2所述的一種電子式互感器校驗裝置,其特征在于,所述IEC61850-9-2輸入模塊輸入量通過PHY芯片后傳輸給所述FPGA控制單元,在所述FPGA控制單元中的MAC模塊中打上時間戳,最終輸出帶有時間標志的IEC61850-9-2格式的數字報文作為被測信號,同標準電壓或電流輸入信號一同傳輸給所述DSP運算單元,所述DSP運算單元進行計算得出角差,比差試驗數據。
8.根據權利要求2所述的一種電子式互感器校驗裝置,其特征在于,所述IEC60044-7/8輸入模塊的輸入量通過光電轉換器后傳輸給所述FPGA控制單元,在所述FPGA控制單元中打上時間戳,最終輸出帶有時間標志的IEC60044-7/8格式的數字報文作為被測信號,同標準電壓或電流輸入信號一同傳輸給所述DSP運算單元,所述DSP運算單元進行計算得出角差,比差試驗數據。
9.根據權利要求2所述的一種電子式互感器校驗裝置,其特征在于,所述2路模擬量小信號輸出模塊的輸出量能輸出0~7V的電壓信號,這個電壓信號作為標準信號被回采后同合并單元裝置端輸出的IEC61850-9-2信號進行比較得出角差,比差試驗數據。
10.根據權利要求2所述的一種電子式互感器校驗裝置,其特征在于,所述2路IEC60044-7/8輸出模塊的輸出量作為標準信號被采回后合并單元裝置端輸出的IEC61850-9-2信號進行比較得出角差,比差試驗數據。
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