[實用新型]一種開口閃點測定儀的閃點檢測電路

有效

• 申請號: 201720410415.5
• 申請日: 2017-04-19
• 公開（公告）號: CN206788081U
• 公開（公告）日: 2017-12-22
• 發明（設計）人: 朱鴻鑫;陳云龍;邊寶麗
• 申請（專利權）人: 北京華科儀科技股份有限公司
• 主分類號: G01N25/50
• 分類號: G01N25/50;G01R1/30
• 代理公司: 北京天悅專利代理事務所(普通合伙)11311
• 代理人: 田明,王體浩

1.一種開口閃點測定儀的閃點檢測電路，用于在開口閃點測試中檢測是否存在閃火，其特征是：包括由電阻R1、R2、R3、R4組成的惠斯通電橋，其中所述電阻R2、R4位于所述惠斯通電橋的正極一側，所述電阻R1、R3位于所述正極的另一側；還包括與所述惠斯通電橋相連的閃點檢測線圈A、儀表放大器U1；還包括通過低通濾波器與所述儀表放大器U1的信號輸出端相連的雙電壓比較器U2，所述信號輸出端用于輸出所述儀表放大器U1的輸出電壓SG，所述雙電壓比較器U2連接高限比較電壓VH和低限比較電壓VL。

2.如權利要求1所述的閃點檢測電路，其特征是：所述電阻R2、R4之間設有電位器VR1，所述電位器VR1包含可調電阻，用于對所述惠斯通電橋的平衡進行微調；所述閃點檢測線圈A與所述電阻R3并聯。

3.如權利要求1所述的閃點檢測電路，其特征是：所述儀表放大器U1還連接電阻R5，用于對所述輸出電壓SG的輸出靈敏度進行控制。

4.如權利要求1所述的閃點檢測電路，其特征是：所述低通濾波器包括電阻R8和電容C1；所述電阻R8串聯在所述儀表放大器U1和所述雙電壓比較器U2之間；所述電容C1的正極連接在所述電阻R8與所述雙電壓比較器U2之間的線路上，負極接地；所述低通濾波器用于對所述輸出電壓SG進行高頻干擾的濾除，濾波的時間常數通過所述R8、C1進行調整。

5.如權利要求4所述的閃點檢測電路，其特征是：所述高限比較電壓VH和低限比較電壓VL能夠調整，從而實現對所述雙電壓比較器U2的靈敏度的調整。

6.如權利要求5所述的閃點檢測電路，其特征是：當經過濾除高頻干擾后的所述輸出電壓SG高于所述高限比較電壓VH或低于所述低限比較電壓VL時，所述雙電壓比較器U2輸出高電平。

7.如權利要求6所述的閃點檢測電路，其特征是：所述雙電壓比較器U2包含第一電壓比較器和第二電壓比較器，所述第一電壓比較器用于將所述輸出電壓SG與所述低限比較電壓VL進行比較，包括第一輸入端和第一輸出端；所述第二電壓比較器用于將所述輸出電壓SG與所述高限比較電壓VH進行比較，包括第二輸入端和第二輸出端；所述第一輸入端、第二輸入端連接所述低通濾波器，用于接收所述輸出電壓SG；當所述輸出電壓SG低于所述低限比較電壓VL時，第一輸出端輸出高電平；當所述輸出電壓SG高于所述高限比較電壓VH時，第二輸出端輸出高電平。

8.如權利要求7所述的閃點檢測電路，其特征是：還包括與所述雙電壓比較器U2的輸出端相連的或門電路，所述雙電壓比較器U2輸出的所述高電平經過所述或門電路后形成所述開口閃點測試的檢測輸出OUT，所述檢測輸出OUT為高電平說明在所述開口閃點測試中有所述閃火存在，否則說明在所述開口閃點測試中沒有所述閃火出現。

9.如權利要求8所述的閃點檢測電路，其特征是：所述或門電路包括二極管D1、D2、電阻R11，所述二極管D1連接所述第一輸出端，所述二極管D2連接所述第二輸出端；當所述第一輸出端、第二輸出端中的任意一個或二個輸出高電平時，則所述檢測輸出OUT為高電平，否則所述檢測輸出OUT為低電平。