[實用新型]一種開口閃點(diǎn)測定儀的閃點(diǎn)檢測電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201720410415.5
• 申請日: 2017-04-19
• 公開（公告）號: CN206788081U
• 公開（公告）日: 2017-12-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 朱鴻鑫;陳云龍;邊寶麗
• 申請（專利權(quán)）人: 北京華科儀科技股份有限公司
• 主分類號: G01N25/50
• 分類號: G01N25/50;G01R1/30
• 代理公司: 北京天悅專利代理事務(wù)所(普通合伙)11311
• 代理人: 田明,王體浩

1.一種開口閃點(diǎn)測定儀的閃點(diǎn)檢測電路，用于在開口閃點(diǎn)測試中檢測是否存在閃火，其特征是：包括由電阻R1、R2、R3、R4組成的惠斯通電橋，其中所述電阻R2、R4位于所述惠斯通電橋的正極一側(cè)，所述電阻R1、R3位于所述正極的另一側(cè)；還包括與所述惠斯通電橋相連的閃點(diǎn)檢測線圈A、儀表放大器U1；還包括通過低通濾波器與所述儀表放大器U1的信號輸出端相連的雙電壓比較器U2，所述信號輸出端用于輸出所述儀表放大器U1的輸出電壓SG，所述雙電壓比較器U2連接高限比較電壓VH和低限比較電壓VL。

2.如權(quán)利要求1所述的閃點(diǎn)檢測電路，其特征是：所述電阻R2、R4之間設(shè)有電位器VR1，所述電位器VR1包含可調(diào)電阻，用于對所述惠斯通電橋的平衡進(jìn)行微調(diào)；所述閃點(diǎn)檢測線圈A與所述電阻R3并聯(lián)。

3.如權(quán)利要求1所述的閃點(diǎn)檢測電路，其特征是：所述儀表放大器U1還連接電阻R5，用于對所述輸出電壓SG的輸出靈敏度進(jìn)行控制。

4.如權(quán)利要求1所述的閃點(diǎn)檢測電路，其特征是：所述低通濾波器包括電阻R8和電容C1；所述電阻R8串聯(lián)在所述儀表放大器U1和所述雙電壓比較器U2之間；所述電容C1的正極連接在所述電阻R8與所述雙電壓比較器U2之間的線路上，負(fù)極接地；所述低通濾波器用于對所述輸出電壓SG進(jìn)行高頻干擾的濾除，濾波的時間常數(shù)通過所述R8、C1進(jìn)行調(diào)整。

5.如權(quán)利要求4所述的閃點(diǎn)檢測電路，其特征是：所述高限比較電壓VH和低限比較電壓VL能夠調(diào)整，從而實現(xiàn)對所述雙電壓比較器U2的靈敏度的調(diào)整。

6.如權(quán)利要求5所述的閃點(diǎn)檢測電路，其特征是：當(dāng)經(jīng)過濾除高頻干擾后的所述輸出電壓SG高于所述高限比較電壓VH或低于所述低限比較電壓VL時，所述雙電壓比較器U2輸出高電平。

7.如權(quán)利要求6所述的閃點(diǎn)檢測電路，其特征是：所述雙電壓比較器U2包含第一電壓比較器和第二電壓比較器，所述第一電壓比較器用于將所述輸出電壓SG與所述低限比較電壓VL進(jìn)行比較，包括第一輸入端和第一輸出端；所述第二電壓比較器用于將所述輸出電壓SG與所述高限比較電壓VH進(jìn)行比較，包括第二輸入端和第二輸出端；所述第一輸入端、第二輸入端連接所述低通濾波器，用于接收所述輸出電壓SG；當(dāng)所述輸出電壓SG低于所述低限比較電壓VL時，第一輸出端輸出高電平；當(dāng)所述輸出電壓SG高于所述高限比較電壓VH時，第二輸出端輸出高電平。

8.如權(quán)利要求7所述的閃點(diǎn)檢測電路，其特征是：還包括與所述雙電壓比較器U2的輸出端相連的或門電路，所述雙電壓比較器U2輸出的所述高電平經(jīng)過所述或門電路后形成所述開口閃點(diǎn)測試的檢測輸出OUT，所述檢測輸出OUT為高電平說明在所述開口閃點(diǎn)測試中有所述閃火存在，否則說明在所述開口閃點(diǎn)測試中沒有所述閃火出現(xiàn)。

9.如權(quán)利要求8所述的閃點(diǎn)檢測電路，其特征是：所述或門電路包括二極管D1、D2、電阻R11，所述二極管D1連接所述第一輸出端，所述二極管D2連接所述第二輸出端；當(dāng)所述第一輸出端、第二輸出端中的任意一個或二個輸出高電平時，則所述檢測輸出OUT為高電平，否則所述檢測輸出OUT為低電平。