[實用新型]一種光波形測定系統

有效

• 申請號: 201720389437.8
• 申請日: 2017-04-12
• 公開（公告）號: CN206618498U
• 公開（公告）日: 2017-11-07
• 發明（設計）人: 李珣;洪良;張蕾;王曉華;景軍鋒;趙征凡
• 申請（專利權）人: 西安工程大學
• 主分類號: G01J11/00
• 分類號: G01J11/00
• 代理公司: 西安弘理專利事務所61214
• 代理人: 成丹

技術領域

本實用新型屬于檢測裝置技術領域，具體涉及一種光波形測定系統。

背景技術

光調制是按照一定規律改變光波的強度、相位、振幅、頻率或偏振狀態等參數的方法，也就是將一個攜帶信息的信號疊加到載波光波上。由于調制光抗干擾能力強，傳輸距離遠，帶寬高而廣泛的應用于光通信、測距、光學信息處理、光存儲、光檢測和顯示等方面。在利用調制光實現這些功能的時候，必須要確認調制光源產生的調制光的波形和各項參數是否符合客戶的需求。由于光的波長和頻率的變化，難以依靠肉眼去識別光調制的方式，所以必須借助儀器來進行檢測。

由于在光傳輸和光檢測的過程中使用的光的波長和頻率具有不確定性。所以，針對于光波形測定的常用方法大致分為兩種，分別是利用光開關和偏振器的方法和利用脈沖控制器和偏振器的方法。測試方法類似，在測試的過程中產生兩種光，分別是需要測定的調制光源和脈沖光源，通過脈沖光控制器控制偏振器的位置，來控制測定的光源的通過，再通過后級的測定器來測定調制光源的波形和各項參數。

專利光波形測定裝置和其測定方法、及復折射率測定裝置和其測定方法、及記錄其程序的計算機(申請號：200480022028X，申請日：2004.06.18，公開號：1829909A，公開日：2006.09.06)，在專利中提出了對于近紅外線波段的電磁波的波長短的光波段的電磁波測定電場，并輸出其時間變化的波形；及以光的電場波形的測定結果為基礎，求得物質的復折射率。本實用新型裝置選通脈沖光產生裝置，測定光產生裝置，和對測定光進行檢測的光檢測裝置，選通脈沖光及測定光都是相干性光，測定光是波長比近紅外線波段短的相干性光，對基于使測定光和選通脈沖光照射到光檢測裝置而產生的載流子的物理量進行測定，并基于該物理量對該測定光的電場進行測定。

專利光開關和利用光開關的光波形監測裝置(申請號：2005100939701，申請日：2005.09.01，公開號：1752834，公開日：2006.03.29)。通過偏振控制器改變光信號的偏振方向，以使其與偏振器的主軸正交。控制脈沖生成器利用波長與光信號不同的控制光束來生成控制脈沖。將光信號和控制脈沖輸入到非線性光纖。在該非線性光纖中，在光信號與控制脈沖一致的時間段內，在控制脈沖的偏振方向附近通過光參量放大對該光信號進行放大。在光信號與控制脈沖一致的時間段內，該光信號穿過偏振器。

上述的光波形測定裝置雖然在前端光學方面考慮相對較多，但是在后級測定裝置上只是利用一個測定器，調制光源產生的光如何進入到測定裝置和在測定裝置中有哪些必要的部分組成沒有進行詳細的論述，但是測定裝置中包含的濾光器、光信號檢測模塊、信號調理模塊、監控模塊和信號分析處理模塊在整個光波形測定系統中都是至關重要的。所以，所述權利中提出的方案可以使測定裝置的功能更加完備，去除在測試過程中耦合的干擾，使硬件電路更加穩定，排除在測定過程中可能出現的隱患，使檢測和分析的過程更加的方便快捷。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種光波形測定系統，解決了現有技術中存在的測定過程相對復雜，后級電路受干擾較大的問題。

本實用新型所采用的技術方案是，一種光波形測定系統，包括調制光發生器和光波形測定裝置，調制光發生器發出調制光進入到光波形測定裝置，光波形測定裝置通過無線載波發射模塊與無線載波接收模塊連接，無線載波接收模塊設置在示波器上，示波器與PC機連接。

本實用新型的特點還在于：

光波形測定裝置包括依次連接的濾光片器、光探測器模塊、有源帶通濾波器、差分放大器、無線載波發射模塊，光探測器模塊、有源帶通濾波器、差分放大器、無線載波發射模塊均與微控制器連接，光探測器模塊、有源帶通濾波器、差分放大器均與電源管理模塊連接，微控制器還與電源管理模塊連接；

光探測器模塊、有源帶通濾波器、差分放大器還均與過載保護連接，濾光片器、光探測器模塊、有源帶通濾波器、差分放大器、過載保護、電源管理模塊、無線載波發射模塊各個模塊之間分別依次通過螺紋方式安裝。

濾光片器中鏡片根據光波長需求更換，按進光方向連接光探測器模塊，光探測器模塊根據探測光波長更換所需光電傳感器。

無線載波接收模塊具有GNB接口，無線載波接收模塊通過GNB接口安裝在示波器的信號探測端口。

示波器通過GPIB488總線與PC機連接。

本實用新型的有益效果是：