[實用新型]一種多功能半導體電學性質快速測試裝置

有效

• 申請號: 201720385657.3
• 申請日: 2017-04-13
• 公開（公告）號: CN206594265U
• 公開（公告）日: 2017-10-27
• 發明（設計）人: 張偉;張樹霞
• 申請（專利權）人: 馬鞍山紐盟知識產權管理服務有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種多功能半導體電學性質快速測試裝置, 包括測試盒本體（1），其特征在于：所述測試盒本體（1）分為測試盒底座（2）和測試盒上蓋（3），所述測試盒底座（2）和測試盒上蓋（3）活動連接，所述測試盒底座（2）內設有多個卡槽（4），且所述卡槽（4）內固定有帕爾貼片（5），所述卡槽（4）的前端設有測試探針（6），且所述測試探針（6）連接設置在測試探針（6）下方的彈性伸縮組件（7）。

2.根據權利要求1所述的一種多功能半導體電學性質快速測試裝置，其特征在于：所述彈性伸縮組件（7）包括滑動軸（8）、滑動軸承（9）、固定塊（10）、壓縮彈簧（11）、調節螺絲（12），所述滑動軸（8）固定設置在探針（6）一側，所述滑動軸承（9）設置在滑動軸（8）上，所述固定塊（10）設置在滑動軸承（9）兩側，所述壓縮彈簧（11）設置在滑動軸承（9）上方，所述調節螺絲（12）底端穿過壓縮彈簧（11）與滑動軸承（9）頂端接觸。

3.根據權利要求1所述的一種多功能半導體電學性質快速測試裝置，其特征在于：所述測試探針（6）、帕爾貼片（5）分別連接PCB板（13），且測試探針（6）分別并聯連接設置在測試盒底座（2）上的電壓表（14）和電流表（15）。

4.根據權利要求1所述的一種多功能半導體電學性質快速測試裝置，其特征在于：所述測試盒上蓋（3）內側設有彈性橡膠柱（16），且所述測試盒上蓋（3）采用透明玻璃（17）。

5.根據權利要求1所述的一種多功能半導體電學性質快速測試裝置，其特征在于：所述卡槽（4）設置2-5個。