[實用新型]近場測量探頭校準系統

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201720374195.5
• 申請日: 2017-04-11
• 公開（公告）號: CN206878829U
• 公開（公告）日: 2018-01-12
• 發(fā)明（設計）人: 齊殿元;趙競;余縱瀛;林軍
• 申請（專利權）人: 工業(yè)和信息化部電信研究院
• 主分類號: H04B17/21
• 分類號: H04B17/21;H04B17/11
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司11127
• 代理人: 郭曉宇,湯在彥

1.一種近場測量探頭校準系統，其特征在于，包括：控制器、信號源裝置、TEM暗室、空氣波導、平坦模型、定向平板天線以及液體波導，所述定向平板天線緊貼放置于所述平坦模型的下方；

所述控制器連接所述信號源裝置，用以控制所述信號源裝置產生電磁波信號，并記錄所述電磁波信號的實際功率；

所述信號源裝置分別連接所述TEM暗室、空氣波導、定向平板天線以及液體波導的射頻接口，將所述電磁波信號通過同軸電纜導入所述TEM暗室、空氣波導、定向平板天線以及液體波導內；

待校準的近場測量探頭順序插入所述TEM暗室、空氣波導、平坦模型以及液體波導內，測量得到所述TEM暗室、空氣波導、平坦模型以及液體波導內的實際場強值，所述控制器根據所述TEM暗室、空氣波導、平坦模型以及液體波導的標準場數據、所述實際場強值以及所述電磁波信號的實際功率，得到所述待校準的近場測量探頭的校準因子。

2.根據權利要求1所述的近場測量探頭校準系統，其特征在于，所述信號源裝置包括：信號發(fā)生器、功率放大器、耦合器；

所述信號發(fā)生器連接所述控制器與所述功率放大器；

所述耦合器的輸入端連接所述功率放大器，輸出端順序連接功率計、所述TEM暗室、空氣波導、定向平板天線以及液體波導，前向端連接監(jiān)控功率計，后向端連接負載。

3.根據權利要求2所述的近場測量探頭校準系統，其特征在于，所述信號發(fā)生器與功率放大器之間、耦合器與所述監(jiān)控功率計之間和/或耦合器與所述功率計之間還分別連接有衰減器。

4.根據權利要求1所述的近場測量探頭校準系統，其特征在于，所述待校準的近場測量探頭包括：SAR探頭、HAC探頭。

5.根據權利要求1所述的近場測量探頭校準系統，其特征在于，所述信號源裝置容置于一機柜內，所述信號源裝置與所述控制器、TEM暗室、空氣波導、定向平板天線以及液體波導通過線纜連接。

6.根據權利要求1所述的近場測量探頭校準系統，其特征在于，還包括一機械臂，所述機械臂連接所述控制器與待校準的近場測量探頭，用于調整所述待校準的近場測量探頭在所述TEM暗室、空氣波導、平坦模型以及液體波導中的測量位置。