[實用新型]斷層掃描檢查裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201720364388.2
• 申請日: 2017-04-07
• 公開（公告）號: CN207336403U
• 公開（公告）日: 2018-05-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張顏民;裘偉東;劉金匯;黃毅斌;童建民;郭肖靜
• 申請（專利權(quán)）人: 清華大學(xué)
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 北京東方億思知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11258
• 代理人: 彭瓊

1.一種斷層掃描檢查裝置，用于對集裝箱進(jìn)行安全檢查，其特征在于，包括：

固定支架，用于作為安裝基體，包括固定部；

回轉(zhuǎn)支架，具有通透的檢測通道，所述回轉(zhuǎn)支架可自轉(zhuǎn)地設(shè)置于所述固定支架的固定部，所述回轉(zhuǎn)支架的旋轉(zhuǎn)軸與所述檢測通道同軸；

射線源裝置，設(shè)置于所述回轉(zhuǎn)支架，用于提供具有90度至135度掃描范圍的檢測射線；

探測器陣列，包括多個探測器，所述多個探測器以所述回轉(zhuǎn)支架的旋轉(zhuǎn)軸為中心環(huán)形排布于所述回轉(zhuǎn)支架，且所述多個探測器中的每個探測器的射線接收窗口均對準(zhǔn)所述射線源裝置的放射中心；

驅(qū)動機構(gòu)，用于驅(qū)動所述回轉(zhuǎn)支架在所述固定支架上自轉(zhuǎn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的斷層掃描檢查裝置，其特征在于，所述探測器陣列在所述回轉(zhuǎn)支架上的排布范圍大于等于所述回轉(zhuǎn)支架的二分之一圓周。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的斷層掃描檢查裝置，其特征在于，所述驅(qū)動機構(gòu)為直驅(qū)電機，包括內(nèi)定子和外轉(zhuǎn)子，所述內(nèi)定子包括通透的內(nèi)腔，所述內(nèi)腔與所述回轉(zhuǎn)支架的檢測通道同軸，所述內(nèi)定子固定于所述固定支架，所述外轉(zhuǎn)子能夠繞所述內(nèi)定子轉(zhuǎn)動，所述回轉(zhuǎn)支架同軸地連接于所述外轉(zhuǎn)子。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的斷層掃描檢查裝置，其特征在于，所述內(nèi)定子通過端面連接于所述固定支架的固定部，并且/或者，所述回轉(zhuǎn)支架連接于所述外轉(zhuǎn)子的端面。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的斷層掃描檢查裝置，其特征在于，所述固定支架的固定部為環(huán)狀，直徑與所述內(nèi)定子的直徑相同。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的斷層掃描檢查裝置，其特征在于，所述射線源裝置包括：

射線源，用于提供檢測射線；

屏蔽體，具有腔室以及與所述腔室連通的開口，所述射線源容納于所述腔室，所述開口用于供所述射線源的射線通過；

射線源驅(qū)動，用于驅(qū)動所述射線源在所述腔室內(nèi)的第一位置和第二位置之間移動；

其中，所述射線源位于所述第一位置時可對準(zhǔn)所述開口，位于所述第二位置時偏離所述開口。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的斷層掃描檢查裝置，其特征在于，所述屏蔽體還包括屏蔽門，該屏蔽門能夠關(guān)閉所述開口。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的斷層掃描檢查裝置，其特征在于，所述開口呈狹縫狀，以使通過所述開口輻射的射線形成掃描面。

9.根據(jù)權(quán)利要求6至8中任一項所述的斷層掃描檢查裝置，其特征在于，所述開口的張角在90度至135度之間。

10.根據(jù)權(quán)利要求6至8中任一項所述的斷層掃描檢查裝置，其特征在于，所述射線源為同位素射線源。

11.根據(jù)權(quán)利要求6至8中任一項所述的斷層掃描檢查裝置，其特征在于，所述射線源為60Co、137Cs、192Ir、75Se中的其中一種。