[實用新型]金屬化薄膜光密檢測探頭和金屬化薄膜光密檢測儀

有效

• 申請號: 201720360760.2
• 申請日: 2017-04-07
• 公開（公告）號: CN207095506U
• 公開（公告）日: 2018-03-13
• 發明（設計）人: 林永貴
• 申請（專利權）人: 江門市旭晨科技有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 廣州新諾專利商標事務所有限公司44100
• 代理人: 華輝

技術領域

本實用新型屬于蒸鍍機技術領域，具體涉及金屬化薄膜光密檢測探頭和金屬化薄膜光密檢測儀。

背景技術

金屬化電容薄膜是否均勻，直接影響制成后的金屬化薄膜電容的質量。在生產金屬化薄膜時，蒸鍍機對薄膜進行鍍膜操作，為了保證金屬化薄膜整體厚度均勻，一般是使用兩條測量導輥檢測經過兩條導輥之間的膜的方阻值，對薄膜的厚度進行監控。

但使用這種方法測量方阻，只能檢測整塊膜的整體的方阻平均值，如果在噴鋅磨具出現變形或鋁蒸發不平均的情況下，有可能使得膜上的各個鍍區的方阻值不一致，但采用導輥檢測并不能發現這種異常狀況。同時使用導輥檢測薄膜的厚度時，只能對方阻在1-25Ω內的薄膜進行檢測，而對于厚度較厚而方阻較大的薄膜，則無法進行穩定的檢測。

實用新型內容

為了克服上述技術缺陷，本實用新型提供一種金屬化薄膜光密檢測探頭，能對厚度較厚的高方阻薄膜進行檢測。

為了解決上述問題，本實用新型按以下技術方案予以實現的：

本實用新型所述金屬化薄膜光密檢測探頭，包括光發射端和用于接收所述光發射端發出并穿透金屬化薄膜的光的光接收端；所述光接收端包括用于測量光吸收度的光傳感器。

進一步地，所述光發射端包括用于發光的LED燈；所述光傳感器正對著所述LED燈。

進一步地，所述光發射端還包括探頭外殼；所述LED燈設置在所述探頭外殼上。

進一步地，所述光接收端還包括傳感器外殼；所述光傳感器設置在所述傳感器外殼上。

進一步地，所述光發射端與所述光接收端通過支架連接。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：本實用新型提供的金屬化薄膜光密檢測探頭，對于厚度較厚的薄膜，可見光也能有效穿透，并被光傳感器接收而得到光吸收度，再通過光吸收度計算出薄膜的方阻，從而得出薄膜的厚度，實現對厚度較厚的高方阻薄膜進行檢測。

為了克服上述技術缺陷，本實用新型還提供一種金屬化薄膜光密檢測儀，能對薄膜多點的方阻值進行檢測。

為了解決上述問題，本實用新型按以下技術方案予以實現的：

本實用新型所述金屬化薄膜光密檢測儀，包括多個金屬化薄膜光密檢測探頭、底座和儀器殼體；

所述儀器殼體設置在所述底座上；所述檢測探頭設置在所述底座和所述儀器殼體形成的空間內。

進一步地，所述底座和所述儀器殼體形成的空間內還設置有位置調整機構，所述檢測探頭與位置調整機構連接。

進一步地，所述位置調整機構包括調整螺桿和螺母；用于調整所述檢測探頭位置的所述調整螺桿與所述檢測探頭連接，所述調整螺桿穿過所述儀器殼體并通過所述螺母與所述儀器殼體鎖緊。

進一步地，所述儀器殼體上還設置有用于測量所述檢測探頭位置的標尺。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：本實用新型提供的金屬化薄膜光密檢測儀，包括多個金屬化薄膜光密檢測探頭，能對金屬化薄膜進行多點檢測，保證生產出來的金屬化薄膜的各個鍍區均勻一致，保證金屬化薄膜符合質量要求。

附圖說明

下面結合附圖對本實用新型的具體實施方式作進一步詳細的說明，其中：

圖1是本實用新型實施例提供的金屬化薄膜光密檢測探頭示意圖；

圖2是本實用新型實施例提供的金屬化薄膜光密檢測儀示意圖；

圖中：1-光發射端；2-光接收端；3-光傳感器；4-支架；5-LED燈；6-探頭外殼；7-傳感器外殼；8-底座；9-儀器殼體；10-調整螺桿；11-螺母；12-標尺。

具體實施方式

以下結合附圖對本實用新型的優選實施例進行說明，應當理解，此處所描述的優選實施例僅用于說明和解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。

如圖1所示，本實用新型所述的金屬化薄膜光密檢測探頭，包括光發射端1和光接收端2，光發射端1發出光并穿過金屬化薄膜，再發送至光接收端2的光傳感器3上，光傳感器3將測量出的光吸收度發送給電腦，電腦根據光吸收度計算出薄膜的方阻，從而得出薄膜的厚度，對薄膜制作的質量進行監測。

在本實施例中，光發射端1包括LED燈5和探頭外殼6，LED燈5設置在探頭外殼6上；光接收端2包括光傳感器3和傳感器外殼7，光傳感器3設置在傳感器外殼7上。探頭外殼6與傳感器外殼7通過支架4連接，令LED燈5能正對著光傳感器3，LED燈5與光傳感器3之間放置需要檢測的金屬化薄膜。采用正對設置，使得光傳感器3能準確接收到LED燈5發出的光信號，得到準確的光吸收度，從而算出準確的薄膜厚度。