[實用新型]一種用于光電傳感器陣列均一性校正的工裝

有效

• 申請號: 201720354800.2
• 申請日: 2017-04-06
• 公開（公告）號: CN206757052U
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發明（設計）人: 屈春蕾
• 申請（專利權）人: 無錫通透光電科技有限公司
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及核輻射探測技術領域，特別是涉及一種用于光電傳感器陣列均一性校正的工裝。

背景技術

光電傳感器(如硅光電倍增管，光電二極管，雪崩二極管等)被越來越多地用于工業或醫學成像領域的輻射探測。光電傳感器可以設計成MxN的陣列用來配合不同尺寸的閃爍晶體構成陣列型輻射探測器，在探測射線能量的同時能夠起到定位作用。

由于每個光電傳感器的信號輸出特性都存在一定差異，往往要對光電傳感器陣列進行均一性校正才能夠使該陣列達到終端產品的要求。

發明內容

發明目的：為了克服現有技術中存在的不足，本實用新型提供一種用于光電傳感器陣列均一性校正的工裝，有效降低光電傳感器陣列均一性校正過程中人為因素造成的測量誤差，提高光電傳感器陣列均一性校正的準確性和效率。

技術方案：為實現上述目的，本實用新型的技術方案如下：

一種用于光電傳感器陣列均一性校正的工裝，包括金屬座和下蓋，所述金屬座內包括MxN個小孔，所述小孔內部對應設置有晶體條，所述晶體條垂直于金屬座所在平面；所述金屬座一面覆設有下蓋，且金屬座與下蓋之間保持緊密貼合。

進一步的，所述小孔為方形小孔，小孔的尺寸為XmmxXmm，小孔之間的間距為Ymm，孔深Lmm，L>＝10，小孔的內壁經過陽極氧化處理。

進一步的，所述金屬座為純鋁材質，硬度低于晶體條的硬度。

進一步的，所述下蓋由亞克力板裁剪而成，所述下蓋尺寸小于金屬座的尺寸，所述下蓋的厚度為0.2mm。

進一步的，所述金屬座與下蓋之間通過各自四周邊緣輪廓面粘貼設置，所述金屬座邊緣與下蓋邊緣之間的間距>＝2mm。

進一步的，所述晶體條的材料為LYSO，其六面均拋光處理，拋光后的晶體條尺寸X-0.05mmxX-0.05mmx20mm。

進一步的，所述晶體條的下部Lmm裸露，上部20-Lmm及其頂部端面部分通過特氟龍膠帶均勻包裹0.5mm以上厚度；所述特氟龍膠帶外圍貼上一層鋁膜。

進一步的，在晶體條頂部粘接設置Cs-137或者Na-22點源。

有益效果：本實用新型使用了一種特殊設計的工裝，有效降低人為因素造成的測量誤差，具有定位方便，結果準確，測試過程中對光電傳感器陣列無損傷等特點，可以大幅提高光電傳感器陣列均一性校正的準確性和效率。

附圖說明

附圖1為本實用新型的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型作更進一步的說明。

本實用新型一種用于光電傳感器陣列均一性校正的工裝，所述光電傳感器陣列包含MxN個光電傳感器(如硅光電倍增管，光電二極管，雪崩二極管等)，主要與閃爍晶體配合，將輻射信號(X射線，伽馬射線等)在閃爍晶體中產生的光信號轉化為電信號，在工業和醫療領域被廣泛應用。該陣列中每個光電傳感器的有效探測面積為XmmxXmm，光電傳感器間距為Ymm,每個光電傳感器的信號輸出特性都存在一定差異，因此要進行均一性校正才能夠使該陣列達到終端產品的要求。本發實用新型使用了一種特殊設計的工裝，有效降低人為因素造成的測量誤差，具有定位方便，結果準確，測試過程中對光電傳感器陣列無損傷等特點，可以大幅提高光電傳感器陣列均一性校正的準確性和效率。

如附圖1，一種用于光電傳感器陣列均一性校正的工裝，包括金屬座1和下蓋2，所述金屬座1內包括MxN個小孔，所述小孔內部對應設置有晶體條，所述晶體條垂直于金屬座1所在平面；所述金屬座1一面覆設有下蓋2，且金屬座1與下蓋2之間保持緊密貼合。所述小孔為方形小孔，小孔的尺寸為XmmxXmm，小孔之間的間距為Ymm，孔深Lmm，L>＝10，小孔的內壁經過陽極氧化處理，確保反射率>70％。所述金屬座1為純鋁材質(硬度低于一般常見的閃爍晶體材料)。所述下蓋2由高透光率(>90％)的亞克力板裁剪而成，所述下蓋2尺寸略小于金屬座1的尺寸，所述下蓋2的厚度為0.2mm。下蓋的主要作用是降低測試過程中晶體對光電傳感器表面的磨損，同時盡可能的減少光損失。

所述金屬座1與下蓋2之間通過各自四周邊緣輪廓面通過粘貼膠帶粘貼設置，粘貼膠帶要求透明，粘性好，粘貼之后，所述金屬座1邊緣與下蓋2邊緣之間的間距>＝2mm，即下蓋2邊緣距離金屬座1最外圍的小孔仍有至少2mm的間距。