[實用新型]一種用于輝光放電質譜儀的樣品架

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201720354055.1
• 申請日: 2017-04-06
• 公開（公告）號: CN206804587U
• 公開（公告）日: 2017-12-26
• 發(fā)明（設計）人: 郭晶;石晶晶;丁瀟;石瀟;張鋒;丁蔡辰;范錄
• 申請（專利權）人: 南通泰德電子材料科技有限公司
• 主分類號: G01N27/68
• 分類號: G01N27/68
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于輝光放電質譜儀的樣品架，包括閥體(1)、樣品架(2)和支撐圈(3)，其特征在于，所述樣品架(2)設置在閥體(1)的頂部，所述樣品架(2)對應閥體(1)的中心設置有放電孔(21)，所述樣品架(2)對應放電孔(21)設置有樣品腔(22)，所述樣品腔(22)內設置有支撐裝置(23)，所述支撐圈(3)固定設置在閥體(1)的底部，所述支撐圈(3)的內部設置有延長圈(31)。

2.根據權利要求1所述的一種用于輝光放電質譜儀的樣品架，其特征在于，所述放電孔(21)的內部直徑為1.5-1.8cm。

3.根據權利要求1所述的一種用于輝光放電質譜儀的樣品架，其特征在于，所述樣品腔(22)的內部直徑為10-15cm。

4.根據權利要求1所述的一種用于輝光放電質譜儀的樣品架，其特征在于，所述支撐裝置(23)包括滑槽(231)和移動片(232)，所述移動片(232)通過滑槽(231)在樣品腔(22)內滑動連接。

5.根據權利要求1所述的一種用于輝光放電質譜儀的樣品架，其特征在于，所述支撐裝置(23)的頂部與樣品腔(22)內在同一平面。

6.根據權利要求1所述的一種用于輝光放電質譜儀的樣品架，其特征在于，所述支撐圈(3)與延長圈(31)為密實性擋圈。