[實(shí)用新型]一種全自動(dòng)飛針式FAI首件檢測裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720339474.8 | 申請(qǐng)日: | 2017-03-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN206696200U | 公開(公告)日: | 2017-12-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何杰民 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市精鼎電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/95 | 分類號(hào): | G01N21/95;G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 510000 廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 全自動(dòng) 飛針式 fai 檢測 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電路板檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體是一種全自動(dòng)飛針式FAI首件檢測裝置。
背景技術(shù)
首件檢驗(yàn)是對(duì)每個(gè)班次剛開始時(shí)或過程發(fā)生改變(如人員的變動(dòng)、換料及換工裝、機(jī)床的調(diào)整、工裝刀具的調(diào)換修磨等)后加工的第一或前幾件產(chǎn)品進(jìn)行的檢驗(yàn)。一般要檢驗(yàn)連續(xù)生產(chǎn)的3-5件產(chǎn)品,合格后方可繼續(xù)加工后續(xù)產(chǎn)品。在設(shè)備或制造工序發(fā)生任何變化,以及每個(gè)工作班次開始加工前,都要嚴(yán)格進(jìn)行首件檢驗(yàn)。首件檢驗(yàn)主要是防止產(chǎn)品出現(xiàn)成批超差、返修、報(bào)廢,它是預(yù)先控制產(chǎn)品生產(chǎn)過程的一種手段,是產(chǎn)品工序質(zhì)量控制的一種重要方法,是企業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量,提高經(jīng)濟(jì)效益的一種行之有效、必不可少的方法。
現(xiàn)有的首件檢測裝置一般基于視覺軟件,并需要依靠人員進(jìn)行檢測,效率低,容易出錯(cuò),且容易造成檢測人員的視覺疲勞。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種全自動(dòng)飛針式FAI首件檢測裝置,以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:
一種全自動(dòng)飛針式FAI首件檢測裝置,包括下機(jī)架和上機(jī)架;所述上機(jī)架安裝在下機(jī)架上,下機(jī)架上表面為工作臺(tái),工作臺(tái)上安裝有X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、夾持電缸、測試頭和Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu),所述測試頭為飛針測試頭,所述測試頭固定安裝在夾持電缸末端,且夾持電缸驅(qū)動(dòng)測試頭張合,所述夾持電缸安裝在旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)上,旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)夾持電缸轉(zhuǎn)動(dòng);所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)安裝在Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)上,Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)在豎直方向上移動(dòng),所述Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)安裝在X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)上,且X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)在左右方向上移動(dòng);所述Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)安裝在工作臺(tái)上,Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)上安裝有用于固定基板的測試平臺(tái),且Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)測試平臺(tái)在工作臺(tái)的前后方向上移動(dòng),測試平臺(tái)位于測試頭的下方;所述上機(jī)架上還設(shè)置有電控箱,電控箱控制連接至X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、 Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、夾持電缸和Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu);所述上機(jī)架上還設(shè)置有電橋箱,測試頭通過電橋箱通訊連接至電控箱內(nèi)的處理器。
作為本實(shí)用新型進(jìn)一步的方案:所述上機(jī)架上還設(shè)置顯示器,顯示器通訊連接至電控箱內(nèi)的處理器。
作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案:還包括攝像機(jī),攝像機(jī)固定在夾持電缸的殼體上。
作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案:所述工作臺(tái)上還設(shè)置有鍵盤。
作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案:所述下機(jī)架和上機(jī)架側(cè)面均設(shè)置有散熱風(fēng)扇。
作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案:所述測試平臺(tái)外端還設(shè)置有平臺(tái)門。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果是:
本實(shí)用新型將先進(jìn)的圖像整合、智能BOM解析、BOM/坐標(biāo)/PCBA三項(xiàng)內(nèi)容巧妙結(jié)合,利用自動(dòng)檢測系統(tǒng)與機(jī)器視覺,具有節(jié)省人力、可靠度高、報(bào)告輸出方便等優(yōu)點(diǎn),不僅能夠提高制造質(zhì)量,改善成本,而且還可以節(jié)約大量的試產(chǎn)成本及時(shí)間,精減部分人員,降低人力物力成本,使企業(yè)的制造工程能力也將邁上一個(gè)新臺(tái)階,幫助企業(yè)提升競爭力。
附圖說明
圖1為全自動(dòng)飛針式FAI首件檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為全自動(dòng)飛針式FAI首件檢測裝置移除上機(jī)架后的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3為全自動(dòng)飛針式FAI首件檢測裝置移除上機(jī)架、顯示器、測試平臺(tái)和鍵盤后的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中:1-下機(jī)架、2-散熱風(fēng)扇、3-上機(jī)架、4-電控箱、5-電橋箱、6-X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、 7-Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、8-顯示器、9-旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、10-夾持電缸、11-測試頭、12-測試平臺(tái)、13-Y 軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、14-平臺(tái)門、15-鍵盤、16-攝像機(jī)。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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