[實(shí)用新型]檢測電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201720324614.4
• 申請日: 2017-03-29
• 公開（公告）號: CN206948294U
• 公開（公告）日: 2018-01-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馬勇;陳容傳;多新中;李寶國
• 申請（專利權(quán)）人: 北京華通芯電科技有限公司
• 主分類號: H04B1/04
• 分類號: H04B1/04;G01R19/165;G01R21/00
• 代理公司: 北京英創(chuàng)嘉友知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11447
• 代理人: 姚再英,魏嘉熹

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種檢測電路。

背景技術(shù)

發(fā)射系統(tǒng)是一種可以將信號按一定頻率發(fā)射出去的裝置，其廣泛應(yīng)用于電視、廣播、雷達(dá)等各種民用和軍用設(shè)備。發(fā)射系統(tǒng)通常由電源模塊和與電源模塊依次連接的電源管理模塊、驅(qū)動放大器和功率放大器構(gòu)成，其中，組成功率放大器的射頻功率管是發(fā)射系統(tǒng)的核心器件。

由于射頻功率管價(jià)格昂貴且較脆弱，功率放大器的殼體溫度過高、驅(qū)動放大器的輸出電壓過壓、功率放大器的射頻輸入欠激勵或者輸出失配等等都會導(dǎo)致射頻功率管失效，因此需要對發(fā)射系統(tǒng)的各種故障進(jìn)行檢測和判定，快速定位找出射頻功率管的失效原因，以便技術(shù)人員及時(shí)解決對故障進(jìn)行維修，有效保護(hù)發(fā)射功率管的安全。

隨著科技的發(fā)展，越來越多機(jī)內(nèi)檢測(Built-in Test，BIT)技術(shù)應(yīng)用于發(fā)射系統(tǒng)中。相關(guān)技術(shù)中的機(jī)內(nèi)檢測技術(shù)只能實(shí)現(xiàn)對單項(xiàng)故障的檢測，因而可能會出現(xiàn)系統(tǒng)隱藏故障誤漏檢、漏檢、故障判定困難等。

實(shí)用新型內(nèi)容

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供一種檢測電路，應(yīng)用于發(fā)射系統(tǒng)，所述發(fā)射系統(tǒng)包括驅(qū)動放大器、與所述驅(qū)動放大器連接的功率放大器以及與所述功率放大器連接的溫度傳感器，其特征在于，所述檢測電路包括：

溫度檢測模塊，與所述溫度傳感器連接，用于在所述溫度傳感器采集到的所述功率放大器的殼體溫度超過預(yù)設(shè)溫度閾值時(shí)輸出過溫信號；

末級電壓檢測模塊，與所述驅(qū)動放大器的輸出端連接，用于獲取所述驅(qū)動放大器的輸出電壓，在所述驅(qū)動放大器的輸出電壓超過第一預(yù)設(shè)電壓閾值時(shí)輸出末級過壓信號；

第一邏輯處理模塊，分別與所述溫度檢測模塊和所述末級電壓檢測模塊連接，用于在接收到所述過溫信號和/或所述末級過壓信號時(shí)輸出第一故障指示信號。

可選地，所述發(fā)射系統(tǒng)還包括電源模塊以及分別與所述電源模塊和所述驅(qū)動放大器連接的電源管理模塊，其特征在于，所述檢測電路還包括：

記憶存儲模塊，與所述第一邏輯處理模塊連接，用于將所述第一邏輯處理模塊接收到的所述過溫信號和/或所述末級過壓信號存儲后輸出一控制信號至所述電源管理模塊，所述控制信號用于指示所述電源管理模塊將所述電源模塊與所述驅(qū)動放大器之間的通路斷開。

可選地，所述檢測電路還包括：

前級電壓檢測模塊，與所述驅(qū)動放大器的輸入端連接，用于獲取所述驅(qū)動放大器的輸入電壓，在所述驅(qū)動放大器的輸入電壓小于第二預(yù)設(shè)電壓閾值時(shí)輸出前級欠壓信號，以及在所述驅(qū)動放大器的輸入電壓大于第三預(yù)設(shè)電壓閾值時(shí)輸出前級過壓信號；

第二邏輯處理模塊，與所述前級電壓檢測模塊和所述末級電壓檢測模塊連接，用于在接收到所述前級欠壓信號、所述前級過壓信號和所述末級過壓信號中的一者或多者時(shí)，輸出電壓故障指示信號。

可選地，所述檢測電路還包括：

功率檢測模塊，分別與所述功率放大器的輸入端和輸出端連接，用于獲取所述功率放大器的耦合輸入射頻信號的功率和耦合輸出射頻信號的功率，在所述耦合輸入射頻信號的功率小于第一預(yù)設(shè)功率閾值時(shí)輸出射頻輸入異常信號，以及在所述耦合輸出射頻信號的功率小于第二預(yù)設(shè)功率閾值時(shí)輸出射頻輸出異常信號；

第三邏輯處理模塊，與所述功率檢測模塊連接，用于在接收到所述射頻輸出異常信號時(shí)輸出射頻輸出故障指示信號。

可選地，所述檢測電路還包括：

第四邏輯處理模塊，分別與所述第一邏輯處理模塊、所述第二邏輯處理模塊和所述功率檢測模塊連接，用于在接收到所述電壓故障指示信號、所述射頻輸入異常信號和所述射頻輸出異常信號中的一者且所述第一邏輯處理模塊未輸出所述第一故障指示信號時(shí)輸出總故障指示信號。

可選地，所述第一邏輯處理模塊包括：二極管V1、二極管V3、驅(qū)動器D4E、驅(qū)動器D4F和光電耦合器S3；

所述二極管V1的正極與所述溫度檢測模塊連接，所述二極管V1的負(fù)極分別與所述驅(qū)動器D4E的輸入端和所述二極管V3的負(fù)極連接；

所述二極管V3的正極與所述末級電壓檢測模塊連接；

所述驅(qū)動器D4E的輸出端分別與所述驅(qū)動器D4F的輸入端和所述光電耦合器S3的輸入端連接。

可選地，所述記憶存儲模塊包括：非門D2B、觸發(fā)器D3、二極管V2和驅(qū)動器D4G；

所述非門D2B的輸入端分別與所述二極管V1的負(fù)極和所述二極管V3的負(fù)極連接，所述非門D2B的輸出端與所述觸發(fā)器D3的第一輸入端連接；

所述觸發(fā)器D3的輸出端分別與所述二極管V2的正極和所述驅(qū)動器D4G的輸入端連接；