[實(shí)用新型]一種基于陣列天線的電磁波室有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720302090.9 | 申請(qǐng)日: | 2017-03-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN206596000U | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-10-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李銀虎;張寧寧;鐘盼希;巫新華;韓朱明;李銀龍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市中冀聯(lián)合技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H04B17/00 | 分類(lèi)號(hào): | H04B17/00;H04B7/0426 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙)44312 | 代理人: | 王利彬 |
| 地址: | 518100 廣東省深圳市寶*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 陣列 天線 電磁波 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于無(wú)線通訊終端檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于陣列天線的電磁波室。
背景技術(shù)
隨著無(wú)線電技術(shù)的迅速發(fā)展,對(duì)無(wú)線電管理工作者提出了新的要求,為了從源頭上保證正常使用,必須加強(qiáng)對(duì)無(wú)線終端設(shè)備的檢測(cè)?,F(xiàn)有技術(shù)主流測(cè)試是無(wú)源測(cè)試和有源測(cè)試;無(wú)源測(cè)試從天線的增益、效率、方向圖等方面來(lái)考察天線輻射性能,無(wú)法直接得知天線與整機(jī)配合后最終發(fā)射功率和接收靈敏度指標(biāo),需要對(duì)終端設(shè)備的整機(jī)性能進(jìn)行有源測(cè)試,即對(duì)手機(jī)發(fā)射性能評(píng)估的總輻射功率測(cè)試。OTA(Over The Air,空間輻射性能測(cè)試)測(cè)試就是正在成為手機(jī)、路由器、藍(lán)牙等無(wú)線終端產(chǎn)品廠家認(rèn)可的有源測(cè)試。
但是,OTA測(cè)試所用到的微波暗室體積龐大、費(fèi)用昂貴,適合研發(fā)實(shí)驗(yàn)室做精準(zhǔn)調(diào)試使用而非產(chǎn)線上大規(guī)模使用。因此橫電磁波傳輸室(TEM Cell)應(yīng)運(yùn)而生,其結(jié)構(gòu)封閉、不向外輻射能量,因而不干擾其他儀器,不危害測(cè)試人員健康且成本低廉。但依然存在缺陷,一方面,上限工作頻率低,只能產(chǎn)生單極化電場(chǎng),測(cè)試需要三個(gè)正交方向翻轉(zhuǎn)被測(cè)件,并且由于內(nèi)部模擬電磁波分布不均勻、不同位置電磁波能量差異大,從而造成了測(cè)試環(huán)境內(nèi)對(duì)待測(cè)物放置位置要求高,被測(cè)件測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確的問(wèn)題;另一方面,橫電磁波傳輸室為三角錐形,形狀不規(guī)則,高度高、體積大,不易加工,產(chǎn)線上用作測(cè)試不便與自動(dòng)化產(chǎn)線協(xié)同作業(yè),為自動(dòng)化生產(chǎn)在提高效率、節(jié)約成本上帶來(lái)局限;還有一種方法是基于耦合板的測(cè)試方法,它的缺點(diǎn)是內(nèi)部模擬電磁波分布不均勻,對(duì)于同一被測(cè)件,需放置于指定位置,對(duì)于不同被測(cè)件,每次測(cè)量需要調(diào)整位置,并且測(cè)試時(shí)需要翻轉(zhuǎn)被測(cè)件,加上耦合能量不均勻,使得測(cè)試一致性較差。
因此目前主流的橫電磁波傳輸室測(cè)試多天線耦合和利用耦合板的測(cè)試方法,都存在由于內(nèi)部模擬電磁波分布不均勻從而導(dǎo)致對(duì)被測(cè)件放置位置要求高,測(cè)試時(shí)需要翻轉(zhuǎn)被測(cè)件,并且測(cè)試準(zhǔn)確率低的問(wèn)題,依然有很多缺點(diǎn)和極大改進(jìn)空間。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種基于陣列天線的電磁波室,旨在解決利用現(xiàn)有裝置對(duì)被測(cè)件測(cè)試時(shí),由于內(nèi)部模擬電磁波分布不均勻從而導(dǎo)致對(duì)被測(cè)件放置位置要求高,測(cè)試時(shí)需要翻轉(zhuǎn)被測(cè)件,并且測(cè)試準(zhǔn)確率低的問(wèn)題。
本實(shí)用新型提供了一種基于陣列天線的電磁波室,所述電磁波室內(nèi)包括:功率分配器、若干陣列天線、測(cè)試臺(tái)和高速數(shù)據(jù)濾波接口;
所述功率分配器位于所述電磁波室內(nèi)部側(cè)壁,所述若干陣列天線呈等間距排列并且與所述功率分配器連接,所述若干陣列天線的信號(hào)輻射方向均與所述測(cè)試臺(tái)上表面垂直;所述功率分配器用于為所述若干陣列天線同時(shí)提供等幅同相激勵(lì);所述若干陣列天線用于根據(jù)所述激勵(lì)分別向空間產(chǎn)生輻射信號(hào),以疊加形成準(zhǔn)平面波,從而在用于放置被測(cè)件的所述測(cè)試臺(tái)表面形成靜區(qū);
所述高速數(shù)據(jù)濾波接口位于所述電磁波室的側(cè)壁,用于濾除所述電磁波室內(nèi)的高頻干擾信號(hào),并用于傳輸帶有被測(cè)件射頻性能的信號(hào)。
進(jìn)一步地,所述靜區(qū)與所述若干陣列天線之間的距離L滿足L≥(2*D2)/λ,其中,D為所述若干陣列天線輻射口徑對(duì)角線長(zhǎng)度,λ為所述若干陣列天線工作波長(zhǎng)。
進(jìn)一步地,所述電磁波室內(nèi)還包括部分鋪設(shè)吸波材料,所述部分鋪設(shè)吸波材料鋪設(shè)于所述電磁波室內(nèi)壁的底面,用于均衡由所述若干陣列天線發(fā)射到所述電磁波室底部的電磁波。
進(jìn)一步地,所述電磁波室內(nèi)還包括全鋪設(shè)吸波材料,所述全鋪設(shè)吸波材料鋪設(shè)于所述電磁波室內(nèi)壁的側(cè)面、頂面和底面,所述電磁波室內(nèi)壁的底面鋪設(shè)的全鋪設(shè)吸波材料位于所述部分鋪設(shè)吸波材料的上面,用于吸收分布在所述電磁波室內(nèi)的雜亂電磁波。
進(jìn)一步地,所述部分鋪設(shè)吸波材料為鐵氧體吸波材料。
進(jìn)一步地,所述高速數(shù)據(jù)濾波接口包括DC、AC、USB3.0、RJ45、VGA、DB9、DB25接口中的至少一種。
進(jìn)一步地,所述功率分配器與所述若干陣列天線通過(guò)電纜線連接,所述若干陣列天線的個(gè)數(shù)與所述功率分配器的通道個(gè)數(shù)相同。
進(jìn)一步地,所述被測(cè)件為無(wú)線通訊終端產(chǎn)品。
進(jìn)一步地,所述若干陣列天線為三天線陣列。
進(jìn)一步地,所述電磁波室外觀為方形結(jié)構(gòu)。
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