[實用新型]一種集成電路的離心試驗夾具有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720278816.X | 申請日: | 2017-03-21 |
| 公開(公告)號: | CN206628453U | 公開(公告)日: | 2017-11-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李政偉 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市國微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/687 | 分類號: | H01L21/687;H01L21/66 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司44205 | 代理人: | 唐致明 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市南*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 集成電路 離心 試驗 夾具 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型屬于離心試驗機(jī)夾具技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種集成電路的離心試驗夾具。
背景技術(shù)
集成電路離心試驗時考核元器件外殼封裝、內(nèi)引線鍵合、芯片的附著能力以及機(jī)械強(qiáng)度等所必不可少的試驗項目之一,進(jìn)行離心試驗?zāi)壳爸饕新裆澈蛫A具兩種方式。
埋沙方式的試驗方法是將設(shè)宴器件放入填滿石英沙的金屬器件箱內(nèi)配重后,箱體再放置在專用金屬環(huán)形轉(zhuǎn)子中,該方式具有不受封裝類型的限制,但是該種方法缺點也非常明顯:對有的試驗器件外殼易造成變形損傷;需要準(zhǔn)備時間長、工作效率低;試驗器件上殘留的石英沙不易清理。
夾具方式具有不損傷試驗器件外殼、工作效率高和設(shè)備損耗小燈優(yōu)點,但是,由于目前集成電路離心試驗夾具由廠家提供,該類夾具具有較好的通用性,可針對特定外形的集成電路,該種夾具往往適應(yīng)性差、對集成電路保護(hù)不足,容易造成陶封集成電路蓋板凹陷、劃傷及陶瓷殼體裂紋等損傷,且該類夾具使用兩年左右軟磁板會變形,影響重心平衡而運行噪音較大,必須返修更換,另外,該類夾具往往價格昂貴。
實用新型內(nèi)容
本實用新型所要解決的技術(shù)問題在于:提供一種針對CBGA84陶瓷封裝的集成電路的離心試驗夾具,其成本低、保護(hù)性強(qiáng)、重心平衡更精準(zhǔn)、低噪音、工作更加穩(wěn)定更耐用。
本實用新型解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是,包括夾具主體,其呈方形結(jié)構(gòu),所述夾具主體其中一面上設(shè)置有第一凹腔,所述第一凹腔中間位置處向內(nèi)凹陷設(shè)有第二凹腔,所述第二凹腔中心位置處并排設(shè)置有3個第三凹腔,通過所述第一凹腔、第二凹腔以及3個所述第三凹腔可將集成電路貼緊于所述夾具主體上,其中,中間的所述第三凹腔的中心位置處設(shè)有中心孔,以調(diào)節(jié)集成電路的重心。
作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn),所述夾具主體材質(zhì)為7075鋁合金。
作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn),所述夾具主體內(nèi)部、對應(yīng)于各個第三凹腔位置處設(shè)置有磁鐵。
作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn),對應(yīng)于中間位置處的所述第三凹腔的所述磁鐵呈圓環(huán)形,其內(nèi)圓與所述中心孔重合,對應(yīng)于另兩個所述第三凹腔的所述磁鐵呈圓形。
作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn),所述磁鐵緊貼于所述第三凹腔的內(nèi)部設(shè)置。
作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn),所述夾具主體于所述第三凹腔位置處墊設(shè)有鋼片。
作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn),所述第一凹腔、所述第二凹腔以及所述第三凹腔上均固設(shè)有軟膠墊片。
作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn),所述夾具主體于所述第一凹腔的上下端均向外凸出設(shè)置有凸出部。
本實用新型的有益效果是:
本實用新型的集成電路的離心試驗夾具,包括夾具主體,在夾具主體的其中一面上設(shè)置有針對CBGA84陶瓷封裝的集成電路設(shè)計的第一凹腔、第二凹腔與三個并排設(shè)置的第三凹腔,以將夾具主體與集成電路進(jìn)行緊貼合,其中中間的第三凹腔的中心位置處還設(shè)有中心孔,以調(diào)節(jié)集成電路的重心,本實用新型的集成電路的離心試驗夾具結(jié)構(gòu)簡單、成本低,對CBGA84陶瓷封裝的集成電路具有更好的保護(hù)性。
附圖說明
圖1是本實用新型的集成電路的離心試驗夾具的主視結(jié)構(gòu)圖;
圖2是本實用新型的集成電路的離心試驗夾具A-A處的截面示意圖;
圖3是本實用新型的集成電路的離心試驗夾具第二凹腔位置處放大結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下將結(jié)合實施例和附圖對本實用新型的構(gòu)思、具體結(jié)構(gòu)及產(chǎn)生的技術(shù)效果進(jìn)行清楚、完整地描述,以充分地理解本實用新型的目的、特征和效果。顯然,所描述的實施例只是本實用新型的一部分實施例,而不是全部實施例,基于本實用新型的實施例,本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的其他實施例,均屬于本實用新型保護(hù)的范圍。另外,專利中涉及到的所有聯(lián)接/連接關(guān)系,并非單指構(gòu)件直接相接,而是指可根據(jù)具體實施情況,通過添加或減少聯(lián)接輔件,來組成更優(yōu)的聯(lián)接結(jié)構(gòu)。本實用新型創(chuàng)造中的各個技術(shù)特征,在不互相矛盾沖突的前提下可以交互組合。
為了使得集成電路離心試驗的夾具能夠具有更好的保護(hù)性以及工作穩(wěn)定性,本實用新型的集成電路離心試驗的夾具主要針對CBGA84陶瓷封裝種類的集成電路進(jìn)行針對性的設(shè)計,其能更好的對該種類的集成電路進(jìn)行保護(hù),使得其試驗時工作更加穩(wěn)定、不對集成電路造成損壞、工作效率高、且成本低。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





