[實(shí)用新型]用于無(wú)線通信的測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720268991.0
• 申請(qǐng)日: 2017-03-17
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN206575618U
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-10-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馬玉娟;任宇鑫;林雨雷;張志華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京中科國(guó)技信息系統(tǒng)有限公司
• 主分類號(hào): H04W24/00
• 分類號(hào): H04W24/00
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司11240
• 代理人: 韓建偉,張永明

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及通信領(lǐng)域，具體而言，涉及一種用于無(wú)線通信的測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

隨著通信技術(shù)的發(fā)展，通信設(shè)備的生產(chǎn)規(guī)模也日益龐大，人們對(duì)通信設(shè)備的性能的要求越來(lái)越高。這就對(duì)通信設(shè)備性能的測(cè)試提出了更高的需求。目前，通信行業(yè)對(duì)通信設(shè)備性能的測(cè)試主要包括：多輸入多輸出空口測(cè)試(Multi-Input Multi-Output Over-The-Air，簡(jiǎn)稱為MIMO OTA)、大規(guī)模多輸入多輸出空口測(cè)試(Massive MIMO OTA)。空口測(cè)試(Over-The-Air，簡(jiǎn)稱為OTA)技術(shù)，一般條件下需要使用到微波暗室，用于屏蔽外界信號(hào)的干擾。根據(jù)被測(cè)物的大小，標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求暗室至少為4米以上的立方體或長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)，常規(guī)的辦公樓很難滿足條件，很多時(shí)候需要專門建造一座建筑物。建造一座暗室的費(fèi)用在30萬(wàn)—100萬(wàn)之間。高昂的土地成本、暗室建造成本是制約新建實(shí)驗(yàn)室的一個(gè)因素。

隨著通信技術(shù)的不斷演進(jìn)，對(duì)于建立MIMO OTA、Massive MIMO OTA測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的需求日益擴(kuò)大。

針對(duì)相關(guān)技術(shù)中用于無(wú)線通信的測(cè)試裝置無(wú)法同時(shí)提供多種測(cè)試的問(wèn)題，目前還沒(méi)有有效地解決方案。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種用于無(wú)線通信的測(cè)試裝置，以至少解決相關(guān)技術(shù)中用于無(wú)線通信的測(cè)試裝置無(wú)法同時(shí)提供多種測(cè)試的問(wèn)題。

根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例，提供了一種用于無(wú)線通信的測(cè)試裝置，包括：第一天線陣列、第二天線陣列和轉(zhuǎn)臺(tái)，其中，所述第一天線陣列設(shè)置為天線墻，所述第一天線陣列設(shè)置在所述測(cè)試裝置的頂部，所述第一天線陣列的天線探頭朝向所述測(cè)試裝置的內(nèi)部，所述第一天線陣列用于對(duì)第一被測(cè)物進(jìn)行第一測(cè)試；所述第二天線陣列設(shè)置為天線環(huán)，所述第二天線陣列設(shè)置在所述天線環(huán)的環(huán)面與所述測(cè)試裝置的頂部的距離為預(yù)設(shè)值的位置，所述第二天線陣列的天線探頭朝向所述天線環(huán)的環(huán)形中心，所述第二天線陣列用于對(duì)第二被測(cè)物進(jìn)行第二測(cè)試；所述轉(zhuǎn)臺(tái)設(shè)置在所述測(cè)試裝置的底部，所述轉(zhuǎn)臺(tái)用于設(shè)置所述第一被測(cè)物或所述第二被測(cè)物。

可選地，所述第一天線陣列包括一個(gè)或者多個(gè)天線陣列。

可選地，所述第一天線陣列的天線探頭的排列形式包括以下之一：平面形式、柱面形式、球面形式。

可選地，所述天線環(huán)的形式包括以下之一：圓形環(huán)、正多邊形環(huán)。

可選地，所述第二天線陣列還包括：多個(gè)第三天線陣列，其中，所述多個(gè)第三天線陣列在所述天線環(huán)上相對(duì)于所述天線環(huán)的環(huán)形中心對(duì)稱設(shè)置。

可選地，所述第三天線陣列設(shè)置為條形陣列，所述條形陣列所在平面與所述天線環(huán)的環(huán)面垂直，所述條形陣列的中部連接在所述天線環(huán)上，所述條形陣列相對(duì)于所述天線環(huán)的環(huán)面對(duì)稱設(shè)置。

可選地，所述轉(zhuǎn)臺(tái)設(shè)置為可移動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)。

可選地，在所述第一天線陣列對(duì)所述第一被測(cè)物進(jìn)行所述第一測(cè)試的情況下，所述轉(zhuǎn)臺(tái)移動(dòng)至所述第一被測(cè)物與所述第一天線陣列之間為預(yù)定距離的位置；在所述第二天線陣列對(duì)所述第二被測(cè)物進(jìn)行所述第二測(cè)試的情況下，所述轉(zhuǎn)臺(tái)移動(dòng)至所述第二被測(cè)物位于所述第二天線陣列中心的位置。

可選地，所述測(cè)試裝置還包括：測(cè)試暗室，其中，所述測(cè)試裝置安裝于所述測(cè)試暗室內(nèi)，所述測(cè)試暗室用于為所述測(cè)試裝置提供測(cè)試環(huán)境，所述測(cè)試暗室的形狀包括以下之一：正方形、長(zhǎng)方形、方錐形。

可選地，所述第一測(cè)試包括Massive MIMO測(cè)試，所述第二測(cè)試包括MIMO OTA測(cè)試。

通過(guò)本實(shí)用新型，用于無(wú)線通信的測(cè)試裝置包括：第一天線陣列、第二天線陣列和轉(zhuǎn)臺(tái)，其中，第一天線陣列設(shè)置為天線墻，第一天線陣列設(shè)置在測(cè)試裝置的頂部，第一天線陣列的天線探頭朝向測(cè)試裝置的內(nèi)部，第一天線陣列用于對(duì)第一被測(cè)物進(jìn)行第一測(cè)試；第二天線陣列設(shè)置為天線環(huán)，第二天線陣列設(shè)置在天線環(huán)的環(huán)面與測(cè)試裝置的頂部的距離為預(yù)設(shè)值的位置，第二天線陣列的天線探頭朝向天線環(huán)的環(huán)形中心，第二天線陣列用于對(duì)第二被測(cè)物進(jìn)行第二測(cè)試；轉(zhuǎn)臺(tái)設(shè)置在測(cè)試裝置的底部，轉(zhuǎn)臺(tái)用于設(shè)置第一被測(cè)物或第二被測(cè)物，由此可見(jiàn)，采用上述方案測(cè)試裝置包括兩組天線陣列，第一天線陣列被設(shè)置為天線墻并設(shè)置在測(cè)試裝置的頂部，第一天線陣列可以為第一被測(cè)物提供第一測(cè)試，第二天線陣列設(shè)置為天線環(huán)，第二天線陣列可以為第二被測(cè)物提供第二測(cè)試，從而在測(cè)試裝置中同時(shí)提供第一測(cè)試和第二測(cè)試，因此，實(shí)現(xiàn)了用于無(wú)線通信的測(cè)試裝置同時(shí)提供多種測(cè)試，從而解決了相關(guān)技術(shù)中用于無(wú)線通信的測(cè)試裝置無(wú)法同時(shí)提供多種測(cè)試的問(wèn)題。

附圖說(shuō)明