[實用新型]一種共用型雙模電性測試電極座有效
| 申請號: | 201720255041.4 | 申請日: | 2017-03-06 |
| 公開(公告)號: | CN206505105U | 公開(公告)日: | 2017-09-19 |
| 發明(設計)人: | 吳兆正 | 申請(專利權)人: | 昆山鴻裕電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
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| 地址: | 215313 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 共用 雙模 測試 電極 | ||
技術領域
一種電性測試電極座屬于電性測試裝備技術領域,主要涉及一種共用型雙模電性測試電極座。
背景技術
隨著半導體制造技術的高速發展,IC器件集成度迅速提高,安裝技術已經從插裝技術(THT)過渡到表面安裝技術,并已走向芯片級封裝技術。同時由于通迅技術的發展需要,要求信號的高速傳遞,PCB作為傳送信號的主要渠道,致使PCB向高密度(HDI)發展成為必然。高密度(HDI)PCB的制程設備發展已經較為成熟。其表現是:第一,激光鉆孔技術已經大量應用;第二,高密度(HDI)的主要應用技術,如HDI制造工藝ALIVH、B2IT在國外大量應用。但是關于HDI的測試手段,卻沒有太多的文獻考究,而且由于PCB密度的提高,導致開短路故障比率大幅提升。故絕大部分PCB廠商在投資測試設備時都不具備完善的評估手段。
現有技術中針對高集成板子的測試裝置由于結構限制,電極部分和測量部分通常集成在一起,不具備通用性,適用性差的問題。
實用新型內容
為了解決上述問題,本實用新型公開了一種共用型雙模典型測試電極座,不僅結構簡單、具有良好的適用性和通用性。
本實用新型的目的是這樣實現的:
一種共用型雙模電性測試電極座,包括兩塊電極板、兩塊支撐座兩塊電極板分別安裝在兩個支撐座的上端面上,兩塊電極板下端通過若干電源線與連接器建立連接。
所述兩塊電極板分別置于靠近兩支撐座相接處的上端面上。
所述共用型雙模電性測試電極座包括滑動機構和底盤,兩塊支撐座的下端分別通過滑動機構與底盤建立連接。
所述滑動機構兩條滑動軌道和連接桿,支撐座下端設有卡塊,卡塊置于滑動軌道內,兩個支撐座之間通過連接桿建立伸縮連接。
所述電極板的下端面設有復數個電極孔,電源線一端連接電極孔,電源線的另一端穿出支撐座與連接器建立連接,連接穩固,檢測全面。
所述電極孔的數目為1000-15000個,與現有技術中幾個點相比,測試范圍更加全面,適用性更強。
所述電極孔為全滿格式矩陣均勻排列,可以滿足各種板子的電性測試。
所述支撐座與連接器之間設有過渡通道,對電源線進行很好的梳理和保護,防止搭接纏繞產生不必要的干擾和斷線。
所述過渡通道包括導向部分和保護部分,導向部分包括相互連接的第一導向部分和第二導向部分,第一導向部分的開口高度與大于第二導向部分的開口高度。
所述保護部分的截面呈矩形,保護部分的高度大于導向部分的開口高度,導向部分對電源線進行疏導,保護部分可以在確保電源線分散插接時部會由于外界原因產生干擾或斷線。
本實用新型與現有技術相比,具有如下有益效果,本實用新型可以通用各式IC載板、PCB板、FPC板、HDL板以及各式精細線路板類短、斷路的電性測試,可模組化適應數百種不同機種電性測試,也可量身定做單一新型電性測試,本實用新型也可用于高端電子、電機設備的功能電性測試、智能手機、OLED電燈的電性測試,本實用新型的模組為矩陣型全滿格式點擊框架機構,根據IC載板以及各種告警細線路板的待測點的點位間距、尺寸大小設計,通用性強,適用性更為廣泛。
附圖說明
圖1是本實用新型整體結構示意圖。
圖2是圖1的右視圖。
具體實施方式
下面結合附圖對本實用新型具體實施方式作進一步詳細描述。
本實施例的一種共用型雙模電性測試電極座,包括兩塊電極板1、兩塊支撐座2、滑動機構、底盤3、連接器4和過渡通道,所述電極板1的下端面設有8000個電極孔,所述電極孔為全滿格式矩陣均勻排列。
兩塊電極板1分別置于靠近兩支撐座2相接處的上端面上,電源線一端連接電極孔,電源線的另一端穿出支撐座2,通過過渡通道后與連接器4建立連接,兩塊支撐座2的下端分別通過滑動機構與底盤3建立連接。
所述滑動機構兩條滑動軌道5和連接桿6,支撐座2下端設有卡塊,卡塊置于滑動軌道5內,兩個支撐座2之間通過連接桿6建立伸縮連接。
所述過渡通道包括導向部分7和保護部分8,導向部分7包括相互連接的第一導向部分7-1和第二導向部分7-2,第一導向部分7-1的輸入端的開口高度與大于第二導向部分7輸入端的開口高度,第二導向部分7-2為矩形框狀。
所述保護部分8的截面呈矩形,保護部分8的高度大于導向部分7的開口高度。
因待測試的點位孔位相同或相近而內容物即線路功能設計卻有數百種之多,由此利用相同或相近的點位來測試不同的機種(料號)。需測試的點位通常少于全滿格式矩陣電極點位、多余的點位可設定為空點,或以備異樣料號使用。
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