[實用新型]測量兩條直線導軌平行度的檢驗裝置

有效

• 申請號: 201720248035.6
• 申請日: 2017-03-14
• 公開（公告）號: CN206540510U
• 公開（公告）日: 2017-10-03
• 發明（設計）人: 廖民安;李學鋒;張旭;王新營;朱繼廣;王紅磊
• 申請（專利權）人: 東旭科技集團有限公司;東旭集團有限公司
• 主分類號: G01B5/252
• 分類號: G01B5/252
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙)11447
• 代理人: 陳慶超,桑傳標

1.一種測量兩條直線導軌平行度的檢驗裝置，所述兩條直線導軌分別包括第一導軌(1)和第二導軌(3)，其特征在于，所述檢驗裝置包括檢測儀(2)和將該檢測儀(2)可滑動地安裝到所述第一導軌(1)的滑動座(4)，所述檢測儀(2)的測量頭用于可沿所述第二導軌(3)移動地抵頂在該第二導軌(3)的側面，以檢驗所述第二導軌(3)與所述第一導軌(1)之間的垂直距離。

2.根據權利要求1所述的檢驗裝置，其特征在于，所述滑動座(4)包括可滑動地設置在所述第一導軌(1)上的滑塊(41)，該滑塊(41)上連接有安裝座(42)，所述檢測儀(2)安裝到所述安裝座(42)上。

3.根據權利要求2所述的檢驗裝置，其特征在于，所述安裝座(42)和所述滑塊(41)之間還安裝有連接座(43)。

4.根據權利要求2所述的檢驗裝置，其特征在于，所述安裝座(42)為磁性座。

5.根據權利要求1-4中任意一項所述的檢驗裝置，其特征在于，所述檢測儀(2)為百分表。