[實用新型]探針座的改良結構

有效

• 申請號: 201720215312.3
• 申請日: 2017-03-07
• 公開（公告）號: CN206671367U
• 公開（公告）日: 2017-11-24
• 發明（設計）人: 李嘉昇
• 申請（專利權）人: 李嘉昇
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/073
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司11139
• 代理人: 孫皓晨,李林

技術領域

本實用新型涉及一種探針座的改良結構，尤指探針座的下基板與上基板間定位有具復數孔隙的絕緣材料，當復數探針穿設于下基板、絕緣材料及上基板中時，可通過絕緣材料來達到便于穿設的效用，且也可避免相鄰探針間產生相互接觸，而發生短路的情況。

背景技術

按，目前電路板上由復數配線來構成的配線圖案(pattern)，其必須向電路板所搭載的IC、半導體或電阻器等電子部件傳遞正確的電子信號，以往，針對未安裝半導體或電子部件等印刷電路板、柔性(flexible)基板、多層配線基板、液晶屏(LCD panel)或等離子顯示屏(plasma display panel)等所使用的形成配線圖案的電路配線基板，或半導體芯片等基板上所形成的配線圖案來作為檢測對象，以檢測配線圖案上所設置的復數檢測點間的電阻值，用以判斷出其電氣特性的良否。

再者，現今為了檢測電路板上的配線圖案是否按設計完成，便提出了實際應用于各種電路板的檢測治具，其一般檢測治具大都具有用于處理電氣信號的導通狀態的檢測裝置，且檢測裝置為通過復數導線來電性連接于一檢測平臺，而該檢測平臺上方可供放置有測試針座，其測試針座具有利用復數支撐桿來呈上、下間隔設置的復數板材，并在復數板材間穿設有金屬材質的復數測試用探針，且復數測試用探針一端為向下穿出板材，以電性連接于復數導線，而復數測試用探針另一端則向上穿出板材，當電路板放置于測試針座上，以進行檢測作業時，其復數測試用探針另一端即會電性接觸于電路板上配線圖案的復數檢測點，便可憑借檢測裝置來檢測電路板的配線圖案上的復數檢測點之間是否電路斷開或電路導通。

然而，其因復數測試用探針為由金屬材質所制成，所以具有金屬本身的彈性，當進行檢測作業時，復數測試用探針二端便會受到抵壓，而使復數測試用探針中間部位產生變形，以致于復數測試用探針在變形的同時，容易與相鄰測試用探針形成電性接觸，進而發生短路的情形，所以為了避免此種情形發生，通常會在復數測試用探針中間部位涂布有絕緣層，以防止相鄰測試用探針形成電性接觸，但是，因復數測試用探針需各別于外表面上涂布有絕緣層，以致于使加工作業復雜，進而提高整體加工上的成本，且若絕緣層涂布不確實、均勻，將會產生探針未電性導通于檢測點或復數導線的情形，導致降低使用上的可靠度。

是以，要如何設法解決上述現有的缺失與不便，即為相關業者所亟欲研究改善的方向所在。

發明內容

故，實用新型設計人有鑒于上述缺失，乃搜集相關資料，經由多方評估及考慮，并以從事于此行業累積的多年經驗，經由不斷試作及修改，始設計出此種探針座的改良結構的新型專利。

為實現上述目的，本實用新型采用的技術方案是：

一種探針座的改良結構，其特征在于：該探針座包括下基板、上基板、絕緣材料及復數探針，其中：

該下基板表面上穿設有復數下通孔；

該上基板位于下基板上方處，并在上基板表面上穿設有組裝后會與復數下通孔形成錯位狀態的復數上通孔；

該絕緣材料定位于下基板及上基板之間，并在絕緣材料內部形成有復數孔隙；

該復數探針為導電材質所制成，并在各探針一側設有插入至下基板的下通孔內的第一端部，而另一側則設有插入至上基板的上通孔內的第二端部，再在第一端部與第二端部之間形成有限位于絕緣材料的孔隙中的傾斜部。

所述探針座的改良結構，其中：該下基板的下通孔周圍處凹設有下容置槽，并在上基板的復數上通孔周圍處凹設有上容置槽，而絕緣材料為軟性材質制成且收容于下容置槽及上容置槽內。

所述探針座的改良結構，其中：該下基板的下容置槽周圍處穿設有至少一個下定位孔及至少一個下鎖孔，而該上基板的上容置槽周圍處穿設有對正于至少一個下定位孔及下鎖孔處且供預設固定組件穿過以使下基板與上基板固定的至少一個上定位孔及上鎖孔。

所述探針座的改良結構，其中：該絕緣材料為發泡材或編織布，且絕緣材料的各孔隙為供插入一根探針。

所述的探針座的改良結構，其中：該絕緣材料中穿設有利用復數玻璃纖維以編織方式制成的玻纖布，其玻纖布內部具有供限位復數探針的傾斜部的復數孔洞。

一種探針座的改良結構，其中：包括檢測儀器及探針座，其中：

該檢測儀器具有測試平臺，并在測試平臺內穿設有纜線部的復數導線一端，而纜線部的復數導線另一端則電性連接有用以處理預設電路板的復數測試點間電氣信號的導通狀態的檢測裝置；