[實用新型]USB通道損耗測試治具

有效

• 申請號: 201720204435.7
• 申請日: 2017-03-04
• 公開（公告）號: CN206523565U
• 公開（公告）日: 2017-09-26
• 發明（設計）人: 王素華
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 鄭州大通專利商標代理有限公司41111
• 代理人: 陳勇

技術領域

本實用新型涉及USB通道測試技術領域，特別是一種USB通道損耗測試治具。

背景技術

USB，是英文Universal Serial Bus（通用串行總線）的縮寫，而其中文簡稱為“通串線”，是一個外部總線標準，用于規范電腦與外部設備的連接和通訊。該總線標準是應用在PC領域的接口技術。USB接口支持設備的即插即用和熱插拔功能。USB是在1994年底由英特爾、康柏、IBM、Microsoft等多家公司聯合提出的。

現服務器上常用的為USB2.0接口和USB3.0接口，USB2.0的最大傳輸帶寬為480Mbps（即60MB/s），而USB3.0的最大傳輸帶寬高達5.0Gbps（500MB/s）。USB2.0基于半雙工二線制總線，只能提供單向數據流傳輸，而USB3.0采用對偶單純形四線制差分信號線，故而支持雙向并發數據流傳輸，這也是新規范速度猛增的關鍵原因。

目前，USB測試領域中有標準的USB信號測試治具，但沒有通道損耗測試治具，針對這一狀況開發USB3.0/3.1標準接口通道損耗測試治具。將TX,RX通道測試放在同一測試板內，并將測試信號引出到高速探測點處。使USB信號得以實現通道損耗的測試。以便評估系統性能，分析系統信號問題點，為產品設計提供有效，有利數據。

實用新型內容

鑒于此，本實用新型提供一種USB通道損耗測試治具，測試治具的一側為標準USB 3.0 Standard-A接口，能夠插入USB母頭中，并進行去嵌入設計，將測試引出線的損耗完美去除，使測試得到的是被測通道的損耗。

為了達到上述目的，本實用新型是通過以下技術方案實現的：

一種USB通道損耗測試治具，包括電路板、設備端接口、測試端接口和布線，設備端接口、測試端接口和布線均設置在電路板上，所述設備端接口連接被測設備的USB接口，并設有信號發送端和信號接收端，所述測試端接口連接測試儀器，測試端接口包括四個SMA探針，其中兩個SMA探針通過布線連接至設備端接口的信號發送端，另外兩個SMA探針通過布線連接至設備端接口的信號接收端。

進一步地，所述設備端接口用于對接被測設備的USB3.0/3.1接口。

進一步地，所述測試儀器為網絡分析儀VNA。

進一步地，所述布線為THRU線。

進一步地，所述THRU線分別與信號接收端和信號發送端連接。

進一步地，所述THRU線的布線長度相等。

進一步地，所述THRU線長度為2inch。

進一步地，所述設備端接口為金手指。

本實用新型的有益效果是：

本實用新型對于USB3.0通道損耗的測試是一種非標準的測試，測試治具的一側為標準USB 3.0 Standard-A接口，能夠插入USB母頭中，并進行去嵌入設計，將測試引出線的損耗完美去除，使測試得到的是被測通道的損耗；同時該測試治具結構簡單，成本低廉，通用性強，可以通過此測試治具測得任意通道的損耗參數。

附圖說明

圖1為本實用新型總體結構示意圖；

圖2為本實用新型電路板布線示意圖；

圖3為本實用新型設備端接口示意圖。

具體實施方式

為了便于理解，對本實用新型中出現的部分名詞作以下解釋說明：

金手指是一種標準插卡接口，內存處理單元的所有數據流、電子流正是通過金手指與內存插槽的接觸與PC系統進行交換，是內存的輸出輸入端口，因此其制作工藝對于內存連接顯得相當重要。

VNA是網絡分析儀，一種測試頻域S參數的測試儀器。

USB3.0指一種電子產品接口總線，3.0為版本，也有1.0、2.0版本，隨著數字升高，信號速率也提高。

USB 3.0 Standard-A是USB3.0的一種接口標準。

TX即Transmition，信號發送。

RX即Reception，信號接收。

SMA是一種高速測試接口探針，此接口可以兼容VNA測試儀器接口。

THRU線為直通線。

為使本實用新型實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。