[實(shí)用新型]晶體振蕩器等效負(fù)阻測試儀有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720203728.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-03-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN206649083U | 公開(公告)日: | 2017-11-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張立新;周畢興 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市沃特沃德股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R27/08 | 分類號(hào): | G01R27/08 |
| 代理公司: | 深圳市明日今典知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)44343 | 代理人: | 王杰輝 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶體振蕩器 等效 測試儀 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電路技術(shù)領(lǐng)域,特別設(shè)計(jì)一種晶體振蕩器等效負(fù)阻測試儀。
背景技術(shù)
在電子產(chǎn)品中時(shí)鐘振蕩器是不可少的,石英晶體振蕩器是目前使用最普遍的時(shí)鐘振蕩器。石英晶體振蕩器在實(shí)際使用中會(huì)遇到不起振的問題,除了晶體振蕩器本身的質(zhì)量問題,有時(shí)是與振蕩電路不匹配引起的。負(fù)性阻抗(簡稱負(fù)阻)是用來判斷振蕩電路穩(wěn)定性的一個(gè)參數(shù),如果負(fù)性阻抗不匹配,晶體振蕩器會(huì)隨著老化、溫度、電壓的變化而變得不穩(wěn)定甚至不起振。負(fù)性阻抗一般是用手工方式測量,如附圖一所示,是現(xiàn)有技術(shù)中典型的晶體振蕩器負(fù)阻測試電路,U1為反相放大器,Y1為石英晶體,U1、Y1與電容C1、C2構(gòu)成電容三點(diǎn)式振蕩器(Pierce,皮爾斯振蕩器),R1為直流偏置電阻,R2為限流電阻。測量晶體振蕩器負(fù)阻時(shí)在U1輸出端接示波器,調(diào)節(jié)可變電阻VR1使晶體振蕩器從不起振到剛好起振(或從起振到剛好不起振),此時(shí)的VR1的值就是晶體振蕩器的等效負(fù)阻,該負(fù)阻值一般要求是石英晶體等效串聯(lián)電阻的3倍以上,最好在5~10 倍,偏小則可能出現(xiàn)不穩(wěn)定或不起振現(xiàn)象。
當(dāng)設(shè)計(jì)和分析晶體振蕩器需要在一臺(tái)機(jī)上手動(dòng)變動(dòng)可變電阻,多次測量負(fù)阻,上述測試方法費(fèi)時(shí)費(fèi)力,還容易損壞電路板或元器件。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的為提供一種晶體振蕩器等效負(fù)阻測試儀,便于快速測量晶體振蕩器的負(fù)性阻抗。
本實(shí)用新型提供了一種晶體振蕩器等效負(fù)阻測試儀,包括依次串聯(lián)連接的晶體振蕩器連接座、電壓采樣電路以及數(shù)字可調(diào)電阻,還包括微處理器以及顯示屏;所述微處理器分別連接所述電壓采樣電路、數(shù)字可調(diào)電阻以及顯示屏;所述晶體振蕩器連接座以及數(shù)字可調(diào)電阻對(duì)應(yīng)連接測試探頭的兩端;
所述晶體振蕩器連接座用于安裝晶體振蕩器;所述微處理器控制所述數(shù)字可調(diào)電阻的阻值進(jìn)行改變從而使所述晶體振蕩器起振或停振;所述電壓采樣電路實(shí)時(shí)采集電壓信號(hào)傳輸至所述微處理器,所述微處理器將所述電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)并輸出至所述顯示屏進(jìn)行顯示。
進(jìn)一步地,所述電壓采樣電路包括電流取樣電阻以及整流濾波電路;
所述電流取樣電阻連接于所述晶體振蕩器連接座以及所述數(shù)字可調(diào)電阻之間;所述電流取樣電阻的兩端耦合連接至所述整流濾波電路輸入端,所述整流濾波電路輸出端連接所述微處理器;其中,
所述晶體振蕩器起振時(shí)產(chǎn)生振蕩電流,所述電流取樣電阻上將所述振蕩電流形成交流電壓信號(hào)并傳輸至所述整流濾波電路,所述整流濾波電路將所述交流電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換成直流電壓信號(hào)傳輸至所述微處理器。
進(jìn)一步地,所述電壓采樣電路還包括交流差分放大器;
所述電流取樣電阻的兩端耦合連接所述交流差分放大器的輸入端,所述交流差分放大器的輸出端經(jīng)所述整流濾波電路連接至所述微處理器;其中,
所述交流差分放大器將所述電流取樣電阻輸出的所述交流電壓信號(hào)放大并傳輸至所述整流濾波電路。
進(jìn)一步地,所述電流取樣電阻的電阻阻值為1-10Ω。
進(jìn)一步地,所述微處理器通過I2C總線或者SPI接口連接所述數(shù)字可調(diào)電阻。
進(jìn)一步地,所述晶體振蕩器連接座安裝的晶體振蕩器為石英晶體振蕩器。
進(jìn)一步地,所述數(shù)字可調(diào)電阻中的電阻為多個(gè),多個(gè)所述數(shù)字可調(diào)電阻形成的阻值依次遞增。
進(jìn)一步地,所述石英晶體振蕩器為貼片晶振或直插晶振。
進(jìn)一步地,所述晶體振蕩器連接座適配于多個(gè)石英晶體振蕩器通過多個(gè)連接器并聯(lián)連接。
本實(shí)用新型中提供的晶體振蕩器等效負(fù)阻測試儀,具有以下有益效果:本實(shí)用新型中提供的晶體振蕩器等效負(fù)阻測試儀,所述微處理器控制所述數(shù)字可調(diào)電阻的阻值進(jìn)行改變使所述晶體振蕩器起振或停振;所述電壓采樣電路實(shí)時(shí)采集電壓信號(hào)傳輸至所述微處理器,所述微處理器接受電壓信號(hào)經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換后將數(shù)字信號(hào)輸出至所述顯示屏進(jìn)行顯示;當(dāng)所述顯示屏上顯示的電壓數(shù)值剛好降到最低且不再改變時(shí),則判斷出所述晶體振蕩器已停振,則可以測量出晶體振蕩器的等效負(fù)阻,實(shí)現(xiàn)晶體振蕩器等效負(fù)阻自動(dòng)化測試,提高測試效率。
附圖說明
圖1是現(xiàn)有技術(shù)中的晶體振蕩器負(fù)阻測試電路;
圖2是本實(shí)用新型一實(shí)施例中的晶體振蕩器等效負(fù)阻測試儀模塊示意圖;
圖3是本實(shí)用新型另一實(shí)施例中的晶體振蕩器等效負(fù)阻測試儀模塊示意圖。
本實(shí)用新型目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例,參照附圖做進(jìn)一步說明。
具體實(shí)施方式
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- 專利分類
G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R27-00 測量電阻、電抗、阻抗或其派生特性的裝置
G01R27-02 .電阻、電抗、阻抗或其派生的其他兩端特性,例如時(shí)間常數(shù)的實(shí)值或復(fù)值測量
G01R27-28 .衰減、增益、相移或四端網(wǎng)絡(luò),即雙端對(duì)網(wǎng)絡(luò)的派生特性的測量;瞬態(tài)響應(yīng)的測量
G01R27-30 ..具有記錄特性值的設(shè)備,例如通過繪制尼奎斯特
G01R27-32 ..在具有分布參數(shù)的電路中的測量
G01R27-04 ..在具有分布常數(shù)的電路中的測量
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