[實(shí)用新型]一種基于全反射的氣體及液體折射率的實(shí)時(shí)測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720191340.6 | 申請日： | 2017-03-01 |
| 公開（公告）號： | CN206505015U | 公開（公告）日： | 2017-09-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 廖川;后俊明;盧炳鑫;葉震寰 | 申請（專利權(quán)）人： | 遼寧科技大學(xué) |
| 主分類號： | G01N21/41 | 分類號： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 鞍山貝爾專利代理有限公司21223 | 代理人： | 李玲 |
| 地址： | 114051 遼*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 基于 全反射 氣體 液體 折射率 實(shí)時(shí) 測量 裝置 | ||
1.一種基于全反射的氣體及液體折射率的實(shí)時(shí)測量裝置，其特征在于包括支承架，在所述的支承架內(nèi)中上部設(shè)有氣室，在氣室的上部設(shè)有單面毛玻璃，在氣室的下部設(shè)有普通光學(xué)玻璃，所述的單面毛玻璃的下端部與氣室上部密封連接，所述的普通光學(xué)玻璃的下端部兩側(cè)通過擋塊與支承架固定連接，普通光學(xué)玻璃的上端部與氣室下部密封連接，探測器設(shè)置在支承架的正上方，激光器設(shè)置在普通光學(xué)玻璃的下方，支承架的底部中間部位；
所述的氣室為中間開有樓空體的四棱柱形氣室，在四棱柱形氣室一端的中上部設(shè)有出料通道，在四棱柱形氣室另一端的中下部設(shè)有進(jìn)料通道，所述的進(jìn)料通道和出料通道分別與帶閥門的進(jìn)料管和帶閥門的出料管相連通。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于全反射的氣體及液體折射率的實(shí)時(shí)測量裝置，其特征在于所述的樓空形狀為圓形、方形或橢圓形。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于全反射的氣體及液體折射率的實(shí)時(shí)測量裝置，其特征在于所述的單面毛玻璃的上表面是毛化面，下表面是光滑面。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全反射的氣體及液體折射率的實(shí)時(shí)測量裝置，其特征在于所述的探測器采用CMOS探測器。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
