[實(shí)用新型]用于表征光子器件的測(cè)試設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720183422.6
• 申請(qǐng)日: 2017-02-27
• 公開（公告）號(hào): CN206559365U
• 公開（公告）日: 2017-10-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: P·勒邁特瑞;J-F·卡彭蒂爾
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 意法半導(dǎo)體（克洛爾2）公司
• 主分類號(hào): H04B10/079
• 分類號(hào): H04B10/079
• 代理公司: 北京市金杜律師事務(wù)所11256
• 代理人: 王茂華,呂世磊

1.一種用于表征至少一個(gè)光子器件(4)的測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)試設(shè)備包括

-用于接收光學(xué)輸入信號(hào)(2)的裝置(1)，

-第一分離裝置(3)，所述第一分離裝置被配置成用于根據(jù)具有已知實(shí)值的分離系數(shù)(K)將來自所述輸入信號(hào)(2)的中間信號(hào)(20)分離成至少一個(gè)第一子信號(hào)(21)和第二子信號(hào)(22)，

-至少一個(gè)第一電路(C1)，包含所述至少一個(gè)光子器件(4)和第一光子部分，所述至少一個(gè)第一電路被配置成用于接收所述至少一個(gè)第一子信號(hào)(21)，

-第二光子電路(C2)，所述第二光子電路包含具有與所述第一光子部分相同傳遞函數(shù)的第二光子部分并且沒有所述至少一個(gè)光子器件(4)，所述第二光子電路被配置成用于接收所述第二子信號(hào)(22)，以及

-用于將來自所述電路(C1，C2)的輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的裝置(D1，D2)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述分離裝置包括光學(xué)分離器，所述光學(xué)分離器具有所述分離系數(shù)(K)，所述分離系數(shù)的實(shí)值等于至給定精度的已知理論值，并且所述設(shè)備還包括

-第二分離裝置(6)，所述第二分離裝置被配置成用于將來自所述輸入信號(hào)的第一信號(hào)(20)分離成第三子信號(hào)(21)和第四子信號(hào)(22)，以及

-第三分離裝置(7)，所述第三分離裝置被配置成用于將所述第四子信號(hào)(22)分離成第五子信號(hào)(23)以及形成所述中間信號(hào)的第六子信號(hào)(24)，所述第二和第三分離裝置(6，7)具有所述分離系數(shù)(K)，以及

-第二轉(zhuǎn)換裝置(D3，D4)，所述第二轉(zhuǎn)換裝置被配置成用于將所述第三和第五子信號(hào)(21，23)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1和2中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其特征在于，包括

-多個(gè)光子電路(C1，C3)，所述多個(gè)光子電路各自包含不同的光子器件和所述第一光子部分(50)，

-第四分離裝置(8)，所述第四分離裝置被配置成用于將所述中間信號(hào)(24)分離成多個(gè)子信號(hào)(25，27，28)、將這些信號(hào)(28)中的一個(gè)信號(hào)(28)傳輸至所述第二光子電路(C2)并且將其他子信號(hào)(25，27)傳輸至所述電路(C1，C3)中的每個(gè)電路，

-所述設(shè)備還包括被配置成用于將來自所述電路(C1，C2，C3)的輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的第二轉(zhuǎn)換裝置(D3，D4)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至2中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其特征在于，所述轉(zhuǎn)換裝置包括光電二極管(D1，D2，D3，D4，D5)，所述光電二極管被配置成用于將來自所述電路(C1，C2，C3)的所述輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至2中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其特征在于，包括被設(shè)計(jì)成耦接至確定裝置的多個(gè)輸出端子，所述確定裝置被配置成用于根據(jù)所述電信號(hào)的功率(P21，P22)并且根據(jù)所述分離系數(shù)的所述已知實(shí)值確定所述至少一個(gè)光子器件(4)的光學(xué)損耗。

6.一種光子集成電路，其特征在于，包括至少一個(gè)根據(jù)權(quán)利要求1至5之一所述的測(cè)試設(shè)備。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光子集成電路，其特征在于，包括多個(gè)測(cè)試設(shè)備、第五分離裝置(10)，所述第五分離裝置被配置成用于將來自光學(xué)輸入信號(hào)的第一信號(hào)(20)分離成多個(gè)輸入子信號(hào)(S1，S2，S3)并且用于將每個(gè)子信號(hào)傳輸至所述多個(gè)測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試設(shè)備(DIS1，DIS2，DIS3)。

8.一種測(cè)試結(jié)構(gòu)，其特征在于，包括至少一個(gè)根據(jù)權(quán)利要求1至5之一所述的測(cè)試設(shè)備、以及確定裝置(M)，所述確定裝置被配置成用于根據(jù)所述電信號(hào)的功率(P21，P22)并且根據(jù)所述分離系數(shù)的所述已知實(shí)值確定所述至少一個(gè)光子器件的光學(xué)損耗。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的結(jié)構(gòu)，其特征在于，包括至少一個(gè)根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試設(shè)備，并且其中，所述確定裝置(M)被配置成用于根據(jù)來自所述第三和第五子信號(hào)(21，23)的所述電信號(hào)確定所述分離系數(shù)(K)的實(shí)值。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的結(jié)構(gòu)，其特征在于，包括至少一個(gè)根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試設(shè)備，并且其中，所述確定裝置(M)被配置成用于根據(jù)來自包含光子器件的所述光子電路(C1，C3)的所述電信號(hào)并且根據(jù)所述分離系數(shù)(K)的實(shí)值確定所述光子器件的光學(xué)損耗。

11.根據(jù)權(quán)利要求8至10之一所述的測(cè)試結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述至少一個(gè)測(cè)試設(shè)備合并在集成電路內(nèi)。