[實用新型]腐蝕速度測量儀有效
| 申請號: | 201720172699.9 | 申請日: | 2017-02-25 |
| 公開(公告)號: | CN206479438U | 公開(公告)日: | 2017-09-08 |
| 發明(設計)人: | 范磊;關繼業;陳秋燁 | 申請(專利權)人: | 范磊 |
| 主分類號: | G01N17/02 | 分類號: | G01N17/02 |
| 代理公司: | 大慶市遠東專利商標事務所23202 | 代理人: | 周英華 |
| 地址: | 163000 黑龍江省大慶市薩爾*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 腐蝕 速度 測量儀 | ||
技術領域
本實用新型屬于測量測試儀器,特別涉及一種腐蝕速度測量儀。
背景技術
隨著經濟和工業化的發展,對金屬材料的應用不斷增長,從經濟效益和社會效益方面考慮,迫切希望把金屬腐蝕的破壞及損失降低到最低,使金屬材料設備能夠長期、安全的使用。目前,傳統的監檢測金屬腐蝕的方法有掛片試驗法、化學分析法、超聲波法、電阻探針法、電化學方法等。之前的金屬腐蝕監檢測設備使用這些方法,有的檢測周期長,有的測量精度低,有的不方便戶外現場使用,都難以滿足實際的應用需求。
發明內容
本實用新型的目的是為了克服現有技術的不足,提供一種金屬腐蝕測量儀,該儀器操作簡單,測量速度快,測量數據精度高,成本低。
本實用新型的金屬腐蝕測量儀,包括MCU主控單元、恒電位單元和三電極傳感器,所述的三電極傳感器的輸出端聯接至恒電位單元,恒電位單元的輸出端分別聯接至直流信號測量單元和交流信號測量單元,直流信號測量單元和交流信號測量單元的輸出端均聯接至MCU主控單元,MCU主控單元的輸出端分別聯接至直流施加單元和交流施加單元,MCU主控單元、直流施加單元和交流施加單元的輸出端均聯接至恒電位單元。
作為本實用新型的進一步改進,所述的MCU主控單元與USB通訊單元通訊聯接。
作為本實用新型的進一步改進,所述直流施加單元包括數模轉換器、差分放大器和運算放大器。數模轉換器疊與比例放大器組成正負5V的直流電壓輸出,經過驅動器輸出給恒電位單元。
作為本實用新型的進一步改進,所述交流施加單元包括DDS信號發生器和電壓跟隨器。DDS信號發生器受MCU控制,產生交流信號,經過電壓跟隨器輸出給恒電位單元。
作為本實用新型的進一步改進,所述恒電位單元包括:比例放大器、電壓跟隨器、電流/電壓轉換器。比例放大器和電壓跟隨器組成恒電位基本電路,直流施加單元的直流信號和交流施加單元的交流信號通過比例放大器接入恒電位電路的比例放大器反向輸入端,比例放大器的輸出端接入三電極中的輔助電極,電壓跟隨器的正向輸入端接入三電極中參比電極,電流/電壓轉換器由運算放大器和數字模擬開關組成,三電極中的研究電極接入運算放大器的反相輸入端,經過采樣電阻和數字模擬開關輸出直流或者交流電壓信號。
作為本實用新型的進一步改進,所述直流信號測量單元和交流信號測量單元均包括儀表放大器和模數轉換器。經過電流/電壓轉換器輸出的直流信號接入儀表放大器,儀表放大器的輸出端接入模數轉換器,經過模數轉換器后將數字信號發送給MCU主控單元。
作為本實用新型的進一步改進,所述三電極傳感器為三個金屬電極環。作為測量傳感器。
本實用新型的腐蝕速度測量儀,采用了線性極化和弱極化腐蝕速率測量技術,配有交流阻抗測量模式。運用交流阻抗技術,對腐蝕體系施加高頻正弦信號,高頻信號可穿過金屬和腐蝕介質之間所形成的電化學雙電層電容,使得施加的高頻信號全部作用在介質電阻上,由此可準確的測得腐蝕體系的介質電阻Rs。從線性極化所測得的極化電阻中減掉介質電阻得到實際的極化電阻值,從而準確的獲得腐蝕速率。其主要優點是:具有易于攜帶、操作簡便、快速測量、顯示結果直觀準確等特點,既可以進行手動測量、又可以定時自動測量;本儀器還具有時間、日期設置功能,可將每次實驗的時間、日期存儲記錄,同時為用戶提供較大的數據存儲空間;最終測試結果被傳輸到計算機進行處理和顯示。
附圖說明
圖1為本實用新型結構示意圖;
圖2直流信號施加單元電路圖;
圖3交流信號施加單元電路圖;
圖4恒電位單元電路圖;
圖5為直流信號測量單元電路圖;
圖6為交流信號測量單元電路圖;
圖7為通訊單元電路圖;
圖8三電極探頭結構示意圖。
具體實施方式
如圖1所示,本實用新型是一種快速腐蝕速度測量儀,包括直流施加單元、交流施加單元、恒電位單元、直流信號測量單元、交流信號測量單元、USB通訊單元、MCU主控單元。所述的三電極傳感器的輸出端聯接至恒電位單元,恒電位單元的輸出端分別聯接至直流信號測量單元和交流信號測量單元,直流信號測量單元和交流信號測量單元的輸出端均聯接至MCU主控單元,MCU主控單元的輸出端分別聯接至直流施加單元和交流施加單元,MCU主控單元、直流施加單元和交流施加單元的輸出端均聯接至恒電位單元。所述的MCU主控單元與USB通訊單元通訊聯接。
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