[實用新型]一種石英晶片電氣特性測試治具

有效

• 申請號: 201720169484.1
• 申請日: 2017-02-24
• 公開（公告）號: CN206609925U
• 公開（公告）日: 2017-11-03
• 發明（設計）人: 胡華才
• 申請（專利權）人: 河源市星通時頻電子有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及電子元器件側邊針測試治具，特別是一種石英晶片電氣特性測試治具。

背景技術

隨著電子科技的發展，電子元器件越來越傾向于小體積、多功能、高精度的趨勢發展，這些變化趨勢對電子元器件測試技術也提出了更高的要求，特別是小體積的電子元器件的測試，測試探針能否準確的對上測試點，將會影響測試的效果和測試的速率。

比如，石英晶體諧振器關鍵元部件為內部的石英晶片，石英晶體諧振器在加工過程中，由于石英晶片小而薄，給鍍銀后的石英晶片進行抽樣檢測帶來很大難度，如何準確對接測試點，成為行內一大難題。而如果石英晶片在貼片封裝后再進行電氣性能的測試那么對于已經貼片封裝的不良品將會造成貼片的浪費。

發明內容

針對現有技術的不足，本實用新型提一種石英晶片電氣特性測試治具。

為實現上述目的，本實用新型通過下述技術方案予以實現：一種石英晶片電氣特性測試治具，包括測試平臺、豎直固定板、X軸運動機構、Y軸運動機構、Z軸運動機構、固定掛件、測試板、托盤，所述X軸運動機構、Y軸運動機構、Z軸運動機構均包括導軌、滑塊和絲桿，所述絲桿由電機帶動旋轉而驅動滑塊沿導軌作往復運動，其特征在于：

所述X軸運動機構的導軌設置有2條且平行固定在測試平臺上，X軸運動機構對應的滑塊活動安裝在2條導軌上，所述X軸運動機構的導軌兩端設置有水平限位塊，所述水平限位塊通過螺釘固定在測試平臺側面的凹槽內并頂住導軌兩端，限制X軸運動機構滑塊X軸方向的運動；

所述豎直固定板垂直固定在測試平臺頂部且位于X軸運動機構的后方；

所述Y軸運動機構安裝在X軸運動機構的滑塊上，Y軸運動機構的滑塊上固定安裝所述的托盤，Y軸運動機構的導軌兩端同樣設置有水平限位塊，所述Y軸運動機構的水平限位塊通過螺釘固定在X軸運動機構的滑塊側面的凹槽內并頂住Y軸運動機構的導軌，限制Y軸運動機構滑塊Y軸方向的運動；

所述Z軸運動機構安裝在豎直固定板上，Z軸運動機構的滑塊上固定安裝所述的固定掛件，所述固定掛件呈H結構，固定掛件的一豎直塊通過螺釘固定在Z軸運動機構的滑塊的凹槽上，固定掛件的另一豎直塊上設置有螺孔，測試板上設置有和螺孔相對應的圓孔，所述測試板通過螺釘固定在固定掛件上；所述Z軸運動機構的導軌一側設置有2個相互對稱的豎直限位塊，限制Z軸運動機構的滑塊在豎直方向上的運動。

所述豎直限位塊呈L型結構。

所述測試板上設置有和測試產品測試點相匹配的測試頂針。

進一步地，所述測試板上設置為12.5Ωπ網絡測試結構。

進一步地，所述托盤上平行設置有多條矩形凹槽，相互對置的矩形臺階均勻設置在矩形凹槽內，測試產品固定在相互對置的矩形臺階內。

本實用新型的有益效果為：

水平限位塊的設置，保證了測試過程中X軸方向、Y軸方向和Z軸方向運動的精度，測試產品固定在相互對置的矩形臺階內，既方便裝卸，又能保證測試針能準確地對上測試產品如石英晶片的測試點， 實現石英晶片鍍銀后封裝前的電氣性能的測試，從而判斷被銀后的石英晶片是否達到設計要求，為后續加工提供分析判斷依據。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖，

圖2是本實用新型的托盤結構示意圖，

其中，1-測試平臺、2-X軸運動機構、3-水平限位塊、4-測試板、5-固定掛件、6-豎直固定板、7-豎直限位塊、8-Z軸運動機構、9-托盤、10- Y軸運動機構，91-矩形凹槽、92-矩形臺階。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型的具體實施方式作進一步說明：

如圖1和圖2所示，一種石英晶片電氣特性測試治具，包括測試平臺1、豎直固定板6、X軸運動機構2、Y軸運動機構10、Z軸運動機構8、固定掛件5、測試板、托盤9，所述X軸運動機構2、Y軸運動機構10、Z軸運動機構8均包括導軌、滑塊和絲桿，所述絲桿由電機帶動旋轉而驅動滑塊沿導軌作往復運動，其特征在于：

所述X軸運動機構2的導軌設置有2條且平行固定在測試平臺1上，X軸運動機構2對應的滑塊活動安裝在2條導軌上，所述X軸運動機構2的導軌兩端設置有水平限位塊3，所述水平限位塊3通過螺釘固定在測試平臺1側面的凹槽內并頂住導軌兩端，限制X軸運動機構2滑塊X軸方向的運動；

所述豎直固定板6垂直固定在測試平臺1頂部且位于X軸運動機構2的后方；