[實用新型]一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置

有效

• 申請號: 201720161170.7
• 申請日: 2017-02-22
• 公開（公告）號: CN206515201U
• 公開（公告）日: 2017-09-22
• 發明（設計）人: 周志艷;宋燦燦;齊興源;羅錫文;李克亮;明銳;何新剛;孔令熙;田麓弘
• 申請（專利權）人: 華南農業大學
• 主分類號: G01N15/00
• 分類號: G01N15/00;G01N19/02
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司44102
• 代理人: 任重

1.一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置，其特征在于，包括控制器、被測板件、支架（1）、底板（2）、第一轉動軸（7）、驅動裝置（5）、連接結構（20）、傾角傳感器（6）、數值顯示模塊（8）及圖像捕捉設備（9），被測板件可拆卸地設于底板（2）上，驅動裝置（5）、傾角傳感器（6）、數值顯示模塊（8）及圖像捕捉設備（9）均與控制器連接；第一轉動軸（7）設于支架（1）上，且支架（1）的底部設有旋轉軸（30），底板（2）的一端通過旋轉軸（30）與支架（1）轉動連接，底板（2）的另一端能通過連接結構（20）與第一轉動軸（7）連接，驅動裝置（5）用于驅動第一轉動軸（7）旋轉；傾角傳感器（6）設于底板（2）上用于測量底板（2）的底部與水平面的夾角，數值顯示模塊（8）用于顯示傾角傳感器（6）的數值，圖像捕捉設備（9）用于捕捉被測板件上小粒徑顆粒下滑情況的圖像。

2.根據權利要求1所述的一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括手柄（3）及與手柄（3）連接的第二轉動軸（40），第二轉動軸（40）設于支架（1）上，底板（2）的另一端能通過連接結構（20）與第二轉動軸（40）連接。

3.根據權利要求2所述的一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括用于固定手柄（3）位置的自鎖裝置。

4.根據權利要求3所述的一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置，其特征在于，所述自鎖裝置包括刻度盤（4）及固定塊（31），刻度盤（4）設于支架（1）上并位于支架（1）與手柄（3）之間，且第二轉動軸（40）穿過刻度盤（4）的中心；刻度盤（4）上設有若干通孔（41），固定塊（31）設于第二轉動軸（40）上，且固定塊（31）上設有與通孔（41）匹配的凸起（32）。

5.根據權利要求1所述的一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括擋板（10）；擋板（10）設于底板（2）上靠近旋轉軸（30）的一端，且擋板（10）位于被測板件的下方，擋板（10）用于擋住小粒徑顆粒從被測板件掉落。

6.一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置，其特征在于，包括控制器、被測板件、支架（1）、底板（2）、手柄（3）、第二轉動軸（40）、連接結構（20）、傾角傳感器（6）及數值顯示模塊（8）；被測板件可拆卸地設于底板（2）上，傾角傳感器（6）及數值顯示模塊（8）均與控制器連接；第二轉動軸（40）設于支架（1）上，手柄（3）與第二轉動軸（40）連接，支架（1）的底部設有旋轉軸（30），底板（2）的一端通過旋轉軸（30）與支架（1）轉動連接，底板（2）的另一端能通過連接結構（20）與第二轉動軸（40）連接；傾角傳感器（6）設于底板（2）上用于測量底板（2）的底部與水平面的夾角，數值顯示模塊（8）用于顯示傾角傳感器（6）的數值。

7.根據權利要求6所述的一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括與控制器連接的圖像捕捉設備（9），圖像捕捉設備（9）用于捕捉被測板件上小粒徑顆粒下滑情況的圖像。

8.根據權利要求6所述的一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括用于固定手柄（3）位置的自鎖裝置；所述自鎖裝置包括刻度盤（4）及固定塊（31），刻度盤（4）設于支架（1）上并位于支架（1）與手柄（3）之間，且第二轉動軸（40）穿過刻度盤（4）的中心；刻度盤（4）上設有若干通孔（41），固定塊（31）設于第二轉動軸（40）上，且固定塊（31）上設有與通孔（41）匹配的凸起（32）。