[實用新型]晶體振蕩器系統溫度變化率的測量裝置

有效

• 申請號: 201720155540.6
• 申請日: 2017-02-21
• 公開（公告）號: CN206906479U
• 公開（公告）日: 2018-01-19
• 發明（設計）人: 李鵬
• 申請（專利權）人: 江漢大學
• 主分類號: G01R23/02
• 分類號: G01R23/02;G01K7/22;G05D23/24
• 代理公司: 北京華沛德權律師事務所11302
• 代理人: 房德權

1.一種晶體振蕩器系統溫度變化率的測量裝置，其特征在于，所述測量裝置包括恒溫模塊、頻率計數器、處理器；

所述恒溫模塊容置所述晶體振蕩器，并連接所述處理器，用于為所述晶體振蕩器提供恒溫環境、發送所述恒溫環境中的溫度測量結果至所述處理器；

所述處理器分別連接所述恒溫模塊、頻率計數器、寄存器，用于根據所述恒溫環境中的溫度發送溫度改變至所述恒溫模塊、在所述恒溫環境中的溫度穩定后發送使能信號至所述頻率計數器、獲取所述寄存器中存儲的頻率計數數據，并根據所述頻率計數數據、溫度測量結果計算系統溫度變化率；

所述頻率計數器包括測量端、時鐘參考端及輸出端；所述測量端與所述晶體振蕩器連接，用于接收所述晶體振蕩器發送的頻率信號；所述輸出端與所述寄存器連接，發送頻率計數數據至所述寄存器中存儲；其中，所述頻率計數器在接收到所述使能信號后在外部參考作用下對所述頻率信號開始計數。

2.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述恒溫模塊包括溫度設置采集模塊、電壓源模塊及加熱器，所述溫度設置采集模塊、電壓源模塊及加熱器依次連接，所述溫度設置采集模塊用于采集并發送所述恒溫環境中的溫度，所述電壓源模塊用于為所述恒溫模塊提供電源，所述加熱器用于根據所述溫度設置采集模塊設置的溫度加熱。

3.如權利要求2所述的測量裝置，其特征在于，所述加熱器具體為加熱線圈環路。

4.如權利要求2所述的測量裝置，其特征在于，所述恒溫環境為溫度可控的橋式控溫環境。

5.如權利要求4所述的測量裝置，其特征在于，所述恒溫環境的溫度可控精度為±0.1℃。

6.如權利要求5所述的測量裝置，其特征在于，所述恒溫環境的溫度可控精度為±0.05℃。

7.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述恒溫模塊還包括一溫度傳感器，用于測量所述恒溫環境的溫度值。

8.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述頻率計數器采用氫鐘作為外部參考時鐘。

9.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述頻率計數器放置于所述恒溫模塊的恒溫環境中。

10.如權利要求9所述的測量裝置，其特征在于，所述恒溫環境為溫度可控的橋式控溫環境。