[實(shí)用新型]一種集成電路測試用的扁平探針有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720152055.3 | 申請日： | 2017-02-17 |
| 公開（公告）號： | CN206515372U | 公開（公告）日： | 2017-09-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 陳家鋒;陶杉;段超毅 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳凱智通微電子技術(shù)有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/067 | 分類號： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司44384 | 代理人： | 高早紅,謝亮 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市寶安*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 集成電路 測試 扁平 探針 | ||
1.一種集成電路測試用的扁平探針，其特征在于：
包括上接觸端、彎折段和下接觸端，其中，彎折段設(shè)置有提供彈性變形并與上接觸端和下接觸端一體成型的彈簧部、以及用于導(dǎo)通的繼電部；
繼電部上端與上接觸端一體成型，其下端與下接觸端的側(cè)邊接觸固定。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的扁平探針，其特征在于：繼電部的側(cè)面還與彈簧部接觸固定。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的扁平探針，其特征在于：下接觸端設(shè)置有一防止彈簧部在彈性壓縮時(shí)偏位的較寬平面段。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的扁平探針，其特征在于：下接觸端設(shè)置有一用于限位的L型臺階，繼電部其下端設(shè)置有適配的F型端部。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的扁平探針，其特征在于：上接觸端和下接觸端的探針頭分別設(shè)置為扁平平板結(jié)構(gòu)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一所述的扁平探針，其特征在于：上接觸端和下接觸端的探針頭形狀分別設(shè)置為P頭、B頭、T頭、F頭、W頭、M頭、V頭、O頭、R頭中的任意一種。
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G01R 測量電變量；測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn)；這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備，例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合，例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
