[實用新型]一種集成電路測試用的探針有效
| 申請號： | 201720145753.0 | 申請日： | 2017-02-17 |
| 公開（公告）號： | CN206515371U | 公開（公告）日： | 2017-09-22 |
| 發明（設計）人： | 陳家鋒;李涌;陶杉 | 申請（專利權）人： | 深圳凱智通微電子技術有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/067 | 分類號： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 深圳市中科創為專利代理有限公司44384 | 代理人： | 高早紅,謝亮 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市寶安*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 集成電路 測試 探針 | ||
【權利要求書】：
1.一種集成電路測試用的探針，其特征在于：
包括一體的探針主體，探針主體包括上接觸端、彎折段和下接觸端，其中，彎折段形成一包圓的彈性體；
并且，還設置一包覆在探針主體的外殼體，外殼體與探針主體的下接觸端一體成型，并且，其與探針主體的上接觸端活動分離設置。
2.根據權利要求1所述的探針，其特征在于：包圓的彈性體分別由若干的彎曲壓縮段組成，每一彎曲壓縮段包括分別設置在不同平面的彎曲包圓段、壓縮段和壓縮連接段組成。
3.根據權利要求1所述的探針，其特征在于：外殼體與探針主體的下接觸端的壓縮端部連接并一體成型設置。
4.根據權利要求1-3任一所述的探針，其特征在于：上接觸端和下接觸端的探針頭形狀分別設置為P頭、B頭、T頭、F頭、W頭、M頭、V頭、O頭、R頭中的任意一種。
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