[實用新型]一種液晶面板厚度測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720142335.6 | 申請日： | 2017-02-16 |
| 公開（公告）號： | CN206531489U | 公開（公告）日： | 2017-09-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 蒲中軍;鄧飛;袁輝;阮獻春;唐毅強;向勇;王曉;張永強;王梟;左虎 | 申請（專利權(quán)）人： | 成都工投電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01B21/08 | 分類號： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11227 | 代理人： | 王學(xué)強,羅滿 |
| 地址： | 610039 四川省成都*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 液晶面板 厚度 測量 裝置 | ||
1.一種液晶面板厚度測量裝置，其特征在于：包括上下固定連接的上壓塊和下壓塊，所述上、下壓塊等長等寬，所述上壓塊包括依次連接的固定塊和測試塊，固定塊和測試塊的上平面位于同一水平面上；固定塊上開設(shè)有固定螺栓通孔，下壓塊上對應(yīng)固定塊上固定螺栓通孔的位置開設(shè)有固定螺栓半通孔，固定螺栓通孔與固定螺栓半通孔之間通過固定螺栓連接在一起；所述固定塊的厚度與下壓塊的厚度相等，測試塊的厚度比下壓塊的厚度小0.4或0.5cm。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種液晶面板厚度測量裝置，其特征在于：所述上壓塊還包括緩沖塊，緩沖塊與測試塊連接，其上平面與測試塊上平面位于同一水平面上，其下平面為傾斜平面，緩沖塊的最大厚度與測試塊的厚度相等。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種液晶面板厚度測量裝置，其特征在于：所述固定螺栓通孔在固定塊上開設(shè)有兩個以上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種液晶面板厚度測量裝置，其特征在于：所述固定塊與測試塊的連接處底部設(shè)置有凹槽。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種液晶面板厚度測量裝置，其特征在于：所述下壓塊的長為30～50cm，寬為30～50cm，厚為6～9cm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種液晶面板厚度測量裝置，其特征在于：所述上壓塊和下壓塊的制作材料為金屬鋁。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于成都工投電子科技有限公司，未經(jīng)成都工投電子科技有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201720142335.6/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
