[實用新型]一種高頻測試插座

有效

• 申請號: 201720139726.2
• 申請日: 2017-02-16
• 公開（公告）號: CN206601409U
• 公開（公告）日: 2017-10-31
• 發明（設計）人: 蔣衛兵;王堅;劉育璋;戴云;劉健康
• 申請（專利權）人: 蘇州微縝電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測試插座，尤其是涉及一種高頻測試插座。

背景技術

隨著芯片信號傳遞速度越來越快，對芯片測試用的測試插座要求也越來越高；傳統測試插座用的探針結構已經不能滿足更高頻率的傳輸要求；需要一種特殊結構的測試插座來實現更高頻率的傳輸要求。

現在有探針插座在信號傳輸過程中，由于探針自身的感抗，容抗比較高，無法實現對高頻信號的傳輸要求。

發明內容

本發明的目的是解決上述提出的問題，提供一種結構簡單、提高對高頻信號的輸送的一種高頻測試插座。

本發明的目的是以如下方式實現的：一種高頻測試插座，具有測試座主體，所述測試座主體內設有高頻探針，所述高頻探針為兩頭具有彎曲結構，所述高頻探針的一端與芯片接觸，其另一端與PCB板接觸。

上述的一種高頻測試插座，所述高頻探針由彈簧絲繞成。

上述的一種高頻測試插座，所述測試座主體通過銷子定位和螺絲固定在導向框。

上述的一種高頻測試插座，所述測試座主體的背面固定在PCB板上。

本發明的優點：高頻探針組裝在測試座主體里，高頻探針經過變形組裝到測試座主體里，高頻探針的一段與芯片接觸，另一端與PCB接觸，從而實現高頻信號的傳遞；由于這種高頻探針的結構有別于傳統的探針，這種高頻探針傳輸是通過彈簧絲傳遞的，與其它傳統探針相比，減少了傳輸環節，因此具有穩定的容抗和感抗。

附圖說明

為了使本發明的內容更容易被清楚地理解，下面根據具體實施例并結合附圖，對本發明作進一步詳細的說明，其中

圖1是本發明的結構示意圖；

圖2是實際運用示意圖。

具體實施方式：

見圖1所示，一種高頻測試插座，具有測試座主體2，所述測試座主體2內設有高頻探針3，所述高頻探針3為兩頭具有彎曲結構，所述高頻探針3的一端與芯片接觸，其另一端與PCB板接觸。所述高頻探針3由彈簧絲繞成。所述測試座主體2通過銷子定位和螺絲固定在導向框1。所述測試座主體2的背面固定在PCB板上。

以上所述的具體實施例，對本發明的目的、技術方案和有益效果進行了進一步詳細說明，所應理解的是，以上所述僅為本發明的具體實施例而已，并不用于限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。