[實用新型]一種集成電路存儲器的測試設備

有效

• 申請號: 201720126507.0
• 申請日: 2017-02-10
• 公開（公告）號: CN206524184U
• 公開（公告）日: 2017-09-26
• 發明（設計）人: 溫為杰;李衛國;李錦霞;張亞民
• 申請（專利權）人: 溫為杰;李錦霞;李衛國;張亞民
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙)11411
• 代理人: 張清彥

技術領域

本實用新型涉及一種集成電路測試設備，特別涉及一種集成電路存儲器的測試設備。

背景技術

Flash存儲器廣泛應用于各種集成電路產品中，Flash存儲器生產廠家需要對其產品進行出廠前的性能測試。

現有技術中，Flash存儲器生產廠主要采用大型通用測試設備對存儲器進行性能測試，需要配備專業編程員調試、控制設備，大型設備成本高。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是提供一種集成電路存儲器的測試設備，應用于集成電路存儲器的品質檢測工序中，結構簡單，人機界面操作簡單，整機成本低廉。

為了解決上述技術問題，本實用新型的技術方案為：

一種集成電路存儲器的測試設備，包括PCB電路板，所述PCB電路板上焊接有單片機組件、電源適配器、操作鍵盤、測試程序存儲器、操作系統程序存儲器、顯示屏、測試控制組件及測試接口組件，所述單片機組件通過所述PCB電路板上的導線分別與所述電源適配器、所述操作鍵盤、所述測試程序存儲器、所述操作系統程序存儲器、所述顯示屏及所述測試接口組件電連接，所述測試控制組件通過所述PCB電路板上的導線分別與所述測試接口組件及所述單片機組件電連接。

優選地，所述單片機組件包括IC插座及單片機，所述單片機安裝在所述IC插座上。

優選地，所述測試接口組件包括測試活動插座，所述測試活動插座為24腳的IC插座。

優選地，所述顯示屏為LCD液晶顯示模塊。

優選地，所述PCB電路板上焊接有機械手控制電路組件。

采用上述技術方案，單片機組件、電源適配器、操作鍵盤、測試程序存儲器、操作系統程序存儲器、顯示屏、測試控制組件及測試接口組件焊接在單一PCB電路板上并通過PCB的導線電連接，以上組件相配合構成Flash存儲器測試設備，可代替大型通用測試設備對存儲器進行性能測試，該測試設備一體化程度高，操作人員通過操作鍵盤控制檢測流程，并在顯示屏實時顯示檢測、設置信息，人機交換簡單友好，整機成本低廉。

附圖說明

圖1為本實用新型的集成電路測試設備的電路連接示意圖。

圖中，1-PCB電路板；2-單片機組件；3-電源適配器；4-操作鍵盤；5-測試程序存儲器；6-操作系統程序存儲器；7-顯示屏；8-測試控制組件；9-測試接口組件；10-導線；11-機械手控制電路組件；12-IC插座；13-單片機；14-24腳IC插座。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型的具體實施方式作進一步說明。在此需要說明的是，對于這些實施方式的說明用于幫助理解本實用新型，但并不構成對本實用新型的限定。此外，下面所描述的本實用新型各個實施方式中所涉及的技術特征只要彼此之間未構成沖突就可以相互組合。

參照圖1所示，一種集成電路存儲器的測試設備，包括PCB電路板1，PCB電路板1上焊接有單片機組件2、電源適配器3、操作鍵盤4、測試程序存儲器5、操作系統程序存儲器6、顯示屏7、測試控制組件8及測試接口組件9，單片機組件2通過PCB電路板1上的導線10分別與電源適配器3、操作鍵盤4、測試程序存儲器5、操作系統程序存儲器6、顯示屏7及測試接口組件8電連接，測試控制組件8通過PCB電路板1上的導線10分別與測試接口組件9及單片機組件2電連接。單片機組件2、電源適配器3、操作鍵盤4、測試程序存儲器5、操作系統程序存儲器6、顯示屏7、測試控制組件8及測試接口組件9焊接在單一PCB電路板上并通過PCB電路板1上的導線10電連接，以上組件相配合構成Flash存儲器測試設備，可代替大型通用測試設備對存儲器進行性能測試，該測試設備一體化程度高，操作人員通過操作鍵盤4控制檢測流程，并在顯示屏7實時顯示檢測、設置信息，人機交換簡單友好，整機成本低廉。

單片機組件2包括IC插座12及單片機13，單片機13安裝在IC插座12上。IC插座12可跟住生產檢測的需求更換主控單片機13芯片。

測試接口組件9包括測試活動插座，測試活動插座為24腳IC插座14。Flash存儲器可以為24腳IC，方便測試時隨時更換被測芯片。

顯示屏7為LCD液晶顯示模塊(圖中未標出)。LCD液晶顯示模塊7通常出廠時含中文字庫，用戶可以直接使用，顯示信息直觀方便。

PCB電路板1上焊接有機械手控制電路組件11。機械手控制電路組件11可以與機械手機構配合適用于大規模的產品檢測需要。