[實(shí)用新型]一種轉(zhuǎn)盤式多工位測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720119020.X | 申請(qǐng)日: | 2017-02-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN206594200U | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-10-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李坤安;程生科;陳豪杰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門攸信信息技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04;G01R1/067 |
| 代理公司: | 廈門市精誠(chéng)新創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司35218 | 代理人: | 湯云武 |
| 地址: | 361000 福建省廈門*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 轉(zhuǎn)盤 式多工位 測(cè)試 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及自動(dòng)測(cè)試裝置,尤其是一種轉(zhuǎn)盤式多工位測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
對(duì)電路較復(fù)雜、功能較多的電路板產(chǎn)品,通常需要多個(gè)工位對(duì)其各項(xiàng)電性能進(jìn)行分別測(cè)試,目前市面上常見(jiàn)的多工位測(cè)試方式,存在以下問(wèn)題點(diǎn):每件產(chǎn)品分別單獨(dú)測(cè)試,重復(fù)操作,效率低下;工位與工位之間需周轉(zhuǎn),造成過(guò)程浪費(fèi);每個(gè)工位均需安排人工測(cè)試,人工需求大;測(cè)試完成后還需單獨(dú)掃描條碼以記錄測(cè)試結(jié)果。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種轉(zhuǎn)盤式多工位測(cè)試裝置,其在多工位之間依次進(jìn)行多項(xiàng)測(cè)試,通過(guò)掃碼準(zhǔn)確記錄產(chǎn)品與測(cè)試結(jié)果,測(cè)試效率高。
為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:一種轉(zhuǎn)盤式多工位測(cè)試裝置,包括機(jī)架,在機(jī)架的中部安裝有水平設(shè)置的支撐板,在所述支撐板上安裝有轉(zhuǎn)盤,轉(zhuǎn)盤由電機(jī)驅(qū)動(dòng),在轉(zhuǎn)盤下部安裝有分割器,轉(zhuǎn)盤設(shè)有四個(gè)工位,四個(gè)工位分別是上料工位、掃描工位、第一測(cè)試工位和第二測(cè)試工位;在轉(zhuǎn)盤上對(duì)應(yīng)每個(gè)工位的位置裝有產(chǎn)品安裝板;在掃描工位上部的機(jī)架上安裝有掃描儀,在第一測(cè)試工位和第二測(cè)試工位的上部和/或下部安裝有測(cè)試單元;所述轉(zhuǎn)盤順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中完成掃描和測(cè)試后,所述轉(zhuǎn)盤回轉(zhuǎn)至上料工位。
進(jìn)一步改進(jìn),所述分割器的輸出軸上安裝有遮光板,所述遮光板安裝在一槽形光電開(kāi)關(guān)的槽內(nèi);所述遮光板為豎直設(shè)置的優(yōu)弧弓形,當(dāng)所述轉(zhuǎn)盤處于初始狀態(tài)時(shí),所述遮光板的直線部朝向所述支撐板;隨所述轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)到第二測(cè)試工位時(shí),所述遮光板的直線一側(cè)轉(zhuǎn)向所述槽形光電開(kāi)關(guān),槽形光電開(kāi)關(guān)控制所述轉(zhuǎn)盤逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)至初始位置。
進(jìn)一步改進(jìn),所述上料工位下部的所述支撐板上裝有光電傳感器。
進(jìn)一步改進(jìn),每個(gè)所述產(chǎn)品安裝板設(shè)有兩個(gè)產(chǎn)品固定槽。
進(jìn)一步改進(jìn),所述測(cè)試單元包括安裝在所述機(jī)架上的氣缸,所述氣缸豎直設(shè)置,所述氣缸的活塞桿端固連有氣缸連板,在所述氣缸連板朝向所述產(chǎn)品安裝板的一側(cè)固連有探針安裝板,在探針安裝板上裝有測(cè)試探針。
進(jìn)一步改進(jìn),在所述第一測(cè)試工位上部的所述測(cè)試單元和所述第二測(cè)試工位上部的所述測(cè)試單元的所述氣缸連板和所述探針安裝板上相同位置設(shè)有相對(duì)應(yīng)的讓位通孔。
進(jìn)一步改進(jìn),所述機(jī)架上通過(guò)一T形連接部裝有兩傾斜設(shè)置的所述掃描儀,所述掃描儀角度和高度可以通過(guò)所述T形連接部進(jìn)行調(diào)節(jié)。
進(jìn)一步改進(jìn),所述機(jī)架下部設(shè)有機(jī)箱,所述機(jī)箱內(nèi)裝有PLC控制板和與第一測(cè)試工位、第二測(cè)試工位上的測(cè)試單元相連接的測(cè)試儀器,所述測(cè)試儀器、所述電機(jī)、所述氣缸、所述掃描儀、所述光電傳感器和所述槽形光電開(kāi)關(guān)均與所述PLC控制板信號(hào)連接。
進(jìn)一步改進(jìn),所述機(jī)箱上設(shè)有兩散熱風(fēng)扇。
進(jìn)一步改進(jìn),所述機(jī)箱底部的四角分別設(shè)有可以伸縮的撐腳,所述機(jī)箱底部的四角還分別設(shè)有萬(wàn)向輪,四個(gè)所述撐腳支起時(shí),四個(gè)所述萬(wàn)向輪離開(kāi)支撐平面。
本實(shí)用新型中在所述支撐板上安裝有轉(zhuǎn)盤,轉(zhuǎn)盤由電機(jī)驅(qū)動(dòng),在轉(zhuǎn)盤下部安裝有分割器,轉(zhuǎn)盤設(shè)有四個(gè)工位,四個(gè)工位分別是上料工位、掃描工位、第一測(cè)試工位和第二測(cè)試工位;在轉(zhuǎn)盤上對(duì)應(yīng)每個(gè)工位的位置裝有產(chǎn)品安裝板;在掃描工位上部的機(jī)架上安裝有掃描儀,在第一測(cè)試工位和第二測(cè)試工位的上部和/或下部安裝有測(cè)試單元;人工將產(chǎn)品正確置于轉(zhuǎn)盤上,由電機(jī)驅(qū)動(dòng)的轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)至掃描工位,掃描儀對(duì)產(chǎn)品上的條碼進(jìn)行掃描,掃描后轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)至第一測(cè)試工位,第一測(cè)試工位的測(cè)試單元對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,第一測(cè)試工位測(cè)試結(jié)束后,產(chǎn)品旋轉(zhuǎn)至第二測(cè)試工位;第二測(cè)試工位的測(cè)試單元,該測(cè)試單元對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試完成后,產(chǎn)品回轉(zhuǎn)至上料工位,通過(guò)人工取下,多工位測(cè)試作業(yè)完成。本實(shí)用新型中產(chǎn)品在多工位之間依次通過(guò)多個(gè)測(cè)試單元對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行多項(xiàng)測(cè)試,通過(guò)掃碼準(zhǔn)確記錄產(chǎn)品與測(cè)試結(jié)果,測(cè)試效率高,測(cè)試自動(dòng)化程度提高。
附圖說(shuō)明
圖1是本實(shí)用新型立體圖;
圖2是本實(shí)用新型俯視圖;
圖3是本實(shí)用新型右視圖;
圖4是本實(shí)用新型中轉(zhuǎn)盤部分示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和具體的實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過(guò)負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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