[實用新型]一種測試工作站及測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201720105732.6
• 申請日: 2017-01-23
• 公開（公告）號: CN206759465U
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 潘世友;范桂堂;劉俊濤;葛鑫;羅漫江
• 申請（專利權(quán)）人: 京信通信技術(shù)（廣州）有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11291
• 代理人: 黃志華

1.一種測試工作站，其特征在于，所述測試工作站包括機架、控制模塊，以及與所述控制模塊連接的掃描模塊、升降模塊、射頻插接模塊、測試模塊；

所述機架中設(shè)置有第一工作面和位于所述第一工作面上方的第二工作面；所述掃描模塊位于所述第一工作面上；所述射頻插接模塊和所述測試模塊位于所述第二工作面上；

所述掃描模塊，用于在確定待測射頻設(shè)備移動到預(yù)設(shè)初始位置后，獲取待測射頻設(shè)備的產(chǎn)品信息，所述產(chǎn)品信息包括所述待測射頻設(shè)備的產(chǎn)品型號，以及將所述待測射頻設(shè)備的產(chǎn)品型號發(fā)送給所述控制模塊；其中，所述預(yù)設(shè)初始位置位于所述第一工作面上；

所述升降模塊，用于在所述控制模塊的控制下，將所述待測射頻設(shè)備由所述預(yù)設(shè)初始位置向上移動至所述產(chǎn)品型號對應(yīng)的預(yù)設(shè)測試位置，以及在所述測試模塊完成測試后，將所述待測射頻設(shè)備由所述預(yù)設(shè)測試位置向下移動至所述預(yù)設(shè)初始位置；其中，所述預(yù)設(shè)測試位置位于所述第二工作面上；

所述射頻插接模塊，用于在所述升降模塊將所述待測射頻設(shè)備由所述預(yù)設(shè)初始位置向上移動至預(yù)設(shè)測試位置后，推動所述產(chǎn)品型號對應(yīng)的N個測試插接件與所述待測射頻設(shè)備的N個射頻插接件進行連接；

所述控制模塊，用于在所述N個測試插接件與所述待測射頻設(shè)備的N個射頻插接件連接后，控制所述測試模塊對所述待測射頻設(shè)備進行測試；

所述測試模塊，用于在所述控制模塊的控制下，啟動所述產(chǎn)品型號對應(yīng)的測試程序?qū)λ龃郎y射頻設(shè)備進行測試，并輸出測試結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試工作站，其特征在于，所述測試工作站還包括與所述控制模塊連接的傳感模塊；

所述傳感模塊，用于檢測到所述待測射頻設(shè)備移動至所述預(yù)設(shè)初始位置后，向所述控制模塊發(fā)送第一指示信息，以使所述控制模塊控制所述升降模塊將所述待測射頻設(shè)備向上移動；以及，檢測到所述待測射頻設(shè)備向上移動至預(yù)設(shè)測 試位置后，向所述控制模塊發(fā)送第二指示信息，以使所述控制模塊控制所述升降模塊將所述待測射頻設(shè)備保持在所述預(yù)設(shè)測試位置。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試工作站，其特征在于，所述升降模塊包括第一氣缸，位于所述第一氣缸上的第一氣閥和第二氣閥，以及導(dǎo)向柱；

所述控制模塊具體用于，在接收到所述第一指示信息后，控制所述第一氣閥處于開啟狀態(tài)且所述第二氣閥處于關(guān)閉狀態(tài)，以使所述第一氣缸沿所述導(dǎo)向柱將所述待測射頻設(shè)備向上移動；以及，在接收到所述第二指示信息后，控制所述第一氣閥和第二氣閥均處于關(guān)閉狀態(tài)，以使所述第一氣缸將所述待測射頻設(shè)備保持在所述預(yù)設(shè)測試位置；以及，在所述測試模塊對所述待測射頻設(shè)備測試完成后，控制所述第一氣閥處于關(guān)閉狀態(tài)且所述第二氣閥處于開啟狀態(tài)，以使所述第一氣缸沿所述導(dǎo)向柱將所述待測射頻設(shè)備向下移動至所述預(yù)設(shè)初始位置。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試工作站，其特征在于，所述N個測試插接件中的第一測試插接件通過螺紋與第一導(dǎo)套連接，所述第一測試插接件與所述第一測試插接件連接的第一射頻插接件的連接點位于所述第一導(dǎo)套內(nèi)部；所述第一測試插接件為所述N個測試插接件中的任一測試插接件。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試工作站，其特征在于，所述第一導(dǎo)套內(nèi)設(shè)置有彈性部件；

所述彈性部件，用于在所述控制模塊控制所述射頻插接模塊推動所述第一測試插接件與所述第一射頻插接件進行連接的過程中，根據(jù)所述第一射頻插接件的位置調(diào)整所述第一測試插接件的位置。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試工作站，其特征在于，所述射頻插接模塊包括連接桿，所述連接桿的一端與所述N個測試插接件連接，所述連接桿的另一端與第二氣缸連接；所述第二氣缸上設(shè)置有第三氣閥和第四氣閥；

所述控制模塊具體用于，確定所述待測射頻設(shè)備位于所述預(yù)設(shè)測試位置后，控制所述第三氣閥處于開啟狀態(tài)且所述第四氣閥處于關(guān)閉狀態(tài)，以使所述第二 氣缸推動所述N個測試插接件與對應(yīng)的射頻插接模塊連接；以及，確定所述測試模塊對所述待測射頻設(shè)備測試完成后，控制所述第三氣閥處于關(guān)閉狀態(tài)且所述第四氣閥處于開啟狀態(tài)，以使所述第二氣缸將所述N個測試插接件與對應(yīng)的射頻插接模塊分離。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項所述的測試工作站，其特征在于，所述掃描模塊包括掃描儀；所述控制模塊包括可編程邏輯控制器PLC。

8.一種測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括多個如權(quán)利要求1至7中任一項所述的測試工作站，多個所述測試工作站通過傳送帶串行連接。