[實用新型]一種利用光強分布信息測量高斯型渦旋光拓撲荷的裝置

有效

• 申請號: 201720105536.9
• 申請日: 2017-01-20
• 公開（公告）號: CN206583537U
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發明（設計）人: 王浩;陳君
• 申請（專利權）人: 中國計量大學
• 主分類號: G01J9/00
• 分類號: G01J9/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種利用光強分布信息測量高斯型渦旋光拓撲荷的裝置，在結構上至少包括He-Ne激光器(1)、分束器(2)、空間光調制器(3)、計算機1(4)、圓孔(5)、中性密度濾光片(6)、CCD檢測器(7)、計算機2(8)，其特征是：He-Ne激光器(1)產生強度穩定的高斯光束，并進入分束器(2)；所述分束器(2)的透射光束進入空間光調制器(3)；該光束被空間光調制器(3)反射并重新進入分束器(2)，然后從分束器(2)的反射光路出射；所述空間光調制器(3)與計算機1(4)連接；計算機1(4)控制空間光調制器(3)的叉型模式，使得空間光調制器(3)的出射光束攜帶有渦旋相位；從所述分束器(2)反射光路出射的光束經圓孔(5)、中性密度濾光片(6)進入CCD檢測器(7)；CCD檢測器(7)記錄下入射光束的光強數據并傳輸至計算機2(8)。

2.根據權利要求1所述的一種利用光強分布信息測量高斯型渦旋光拓撲荷的裝置，其特征是：計算機2(8)對光強信息進行傅里葉變換，獲得到渦旋光光強在頻域空間的分布圖樣；該圖樣的暗環數量即是高斯型渦旋光的拓撲荷值。