[實用新型]一種使用諧振法測試超高頻RFID芯片帶封裝阻抗的裝置

有效

• 申請號: 201720100876.2
• 申請日: 2017-01-24
• 公開（公告）號: CN206638734U
• 公開（公告）日: 2017-11-14
• 發明（設計）人: 黃良輝;陳會軍;陳法波
• 申請（專利權）人: 佛山市瑞福物聯科技有限公司
• 主分類號: G01R27/04
• 分類號: G01R27/04;G01R27/26
• 代理公司: 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙)44288
• 代理人: 唐超文,賀紅星

1.一種使用諧振法測試超高頻RFID芯片帶封裝阻抗的裝置，包含超高頻RFID芯片、網絡分析儀，其特征在于：還包含第一線圈、第二線圈、第三線圈，所述第一線圈、第二線圈分別封裝同樣的超高頻RFID芯片；所述第三線圈為高自身諧振值線圈，電連接所述網絡分析儀；所述第一線圈先封裝超高頻RFID芯片和所述第三線圈互感耦合，然后，拆除所述第一線圈的封裝后，所述第二線圈再封裝同樣的超高頻RFID芯片和所述第三線圈互感耦合。

2.根據權利要求1所述的一種使用諧振法測試超高頻RFID芯片帶封裝阻抗的裝置，其特征在于：所述第一線圈的電感值是L₁，所述第二線圈的電感值是L₂，且滿足：L₁>L₂。

3.根據權利要求1所述的一種使用諧振法測試超高頻RFID芯片帶封裝阻抗的裝置，其特征在于：所述的第三線圈的線圈電感值是L₃，且滿足：L₁*5>L₃>L₂/5。

4.根據權利要求3所述的一種使用諧振法測試超高頻RFID芯片帶封裝阻抗的裝置，其特征在于：所述的第三線圈的自身諧振值為ω₃＝2πf₃，且滿足：f₃>1.2GHz。

5.根據權利要求1所述的一種使用諧振法測試超高頻RFID芯片帶封裝阻抗的裝置，其特征在于：所述的第三線圈電連接所述網絡分析儀的一個端口，所述網絡分析儀設置為測試s參數絕對值的模式；所述的第一線圈、第二線圈分別靠近所述的第三線圈互感時，所述網絡分析儀的s參數絕對值隨之發生改變。