[實用新型]一種檢測平面度平臺

有效

• 申請號: 201720099376.1
• 申請日: 2017-01-23
• 公開（公告）號: CN206531456U
• 公開（公告）日: 2017-09-29
• 發明（設計）人: 孟偉超
• 申請（專利權）人: 上海日衡電子制造廠
• 主分類號: G01B5/28
• 分類號: G01B5/28
• 代理公司: 上海驍象知識產權代理有限公司31315
• 代理人: 趙俊寅

1.一種檢測平面度平臺，包括支撐桿、軸承、旋轉平臺和底座，其特征在于：所述的底座由豎管和底盤構成，豎管設置在底盤的上部中央，所述的支撐桿垂直插入豎管中，所述的豎管上部豎直均勻間隔排列有復數個鎖緊通孔，所述的支撐桿下部設置有一個鎖緊孔，所述的豎管上的鎖緊通孔與支撐桿上的鎖緊孔中插入螺絲進行鎖緊配合，所述的旋轉平臺底部中心設置有軸承，所述的軸承上設置有軸承蓋板，軸承蓋板通過軸承鎖緊螺絲固定在旋轉平臺上，所述的軸承與支撐桿的上端連接，所述的旋轉平臺上設置有復數個避位孔。

2.如權利要求1所述的檢測平面度平臺，其特征在于：所述的豎管上的鎖緊通孔為2個。