[實(shí)用新型]一種測量透明介質(zhì)折射率的裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201720087466.9
• 申請日: 2017-01-23
• 公開（公告）號: CN206431045U
• 公開（公告）日: 2017-08-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 梁偉韜
• 申請（專利權(quán)）人: 梁偉韜
• 主分類號: G01N21/45
• 分類號: G01N21/45
• 代理公司: 杭州浙科專利事務(wù)所(普通合伙)33213
• 代理人: 吳秉中

1.一種測量透明介質(zhì)折射率的裝置，包括激光器、擴(kuò)束透鏡、邁克爾遜干涉儀，所述的邁克爾遜干涉儀包括平面反射鏡M1、M2與分光板G1、補(bǔ)償板G2，其特征在于在所述的邁克爾遜干涉儀平臺上的平面反射鏡M1與分光板G1之間設(shè)置旋轉(zhuǎn)裝置，所述的旋轉(zhuǎn)裝置包括固定在邁克爾遜干涉儀平臺上的固定支架，所述固定支架上方轉(zhuǎn)動配合連接用于插入透明介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)支架，旋轉(zhuǎn)支架的螺桿與螺旋測微器的測微螺桿接觸。

2.如權(quán)利要求1所述的一種測量透明介質(zhì)折射率的裝置，其特征在于平面反射鏡M1與透明介質(zhì)平行設(shè)置，即光線垂直入射透明介質(zhì)，平面反射鏡M1與分光板G1的幾何路徑為s，所述透明介質(zhì)的厚度為e，透明介質(zhì)折射率為n，旋轉(zhuǎn)支架插入透明介質(zhì)后光路（1）的光程滿足：△=2s+2ne-2e；平面反射鏡M1與透明介質(zhì)夾角設(shè)置，即光線的入射角為i，折射角為r，平面反射鏡M1與分光板G1的幾何路徑為s，所述透明介質(zhì)的厚度為e，透明介質(zhì)折射率為n，旋轉(zhuǎn)支架插入透明介質(zhì)后光路（1）的光程滿足：△′=2s+2ne／cos r-2e cos（i-r）／cos r ；光路（1）的光程變化滿足：δ=△′-△=2ne（1／cos r-1）-2e[cos（i-r）／cos r-1]=（1-1／n）ei2。

3.如權(quán)利要求2所述的一種測量透明介質(zhì)折射率的裝置，其特征在于所述螺旋測微器的微分筒轉(zhuǎn)動而觀測到冒出或縮進(jìn)的條紋數(shù)為k，光路（1）的光程變化滿足：δ=（1-1／n）ei2=kλ，其中λ為光學(xué)匹配系統(tǒng)輸出的激光束的波長。

4.如權(quán)利要求3所述的一種測量透明介質(zhì)折射率的裝置，其特征在于旋轉(zhuǎn)支架與固定支架的固定點(diǎn)到螺旋測微器測微螺桿的觸接點(diǎn)距離為l，螺旋測微器測微螺桿的觸接點(diǎn)旋進(jìn)距離為x，則透明介質(zhì)的折射率為：n=1/（1- kλl2/ex2）。

5.如權(quán)利要求1所述的一種測量透明介質(zhì)折射率的裝置，其特征在于所述的邁克爾遜干涉儀還安裝螺旋測微器支架。

6.如權(quán)利要求1所述的一種測量透明介質(zhì)折射率的裝置，其特征在于所述的邁克爾遜干涉儀的型號為：KF-WSM。